采樣標定方法和裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種采樣標定方法和裝置，所述方法包括以下步驟：對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間；獲取每個所述標定區間的標定參數；根據每個所述標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。由此，通過分段標定方式對多個標定區間進行標定，從而使得每個標定區間的標定后的實際采樣值均具有較高的精度，提高了標定的精確度，保障了后續電路的輸入電壓或電流精度。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及車輛
，特別涉及一種采樣標定方法以及一種采樣標定裝置。
技術介紹
采樣標定就是當電路板輸入端輸入的電壓/電流和輸出端輸出的電壓/電流采樣值不符合預設比例關系時，通過軟件標定，對輸出的電壓/電流采樣值進行回歸校正以得到理論采樣值，從而為后續電路提供精確地電壓輸入。相關技術中的采樣標定只是對經常使用的電壓/電流范圍內的電壓/電流采樣值進行標定，對上述范圍外的電壓/電流并沒有進行針對性的標定，上述范圍外的電壓/電流采樣值精度較低，例如，某電路板的輸入電壓范圍是0到1000V，某后驅驅動板的高壓使用范圍一般在400V到700V之間，相關技術僅對400V到700V的電壓采樣值進行標定，從而部分電壓采樣值的精度較低。
技術實現思路
本專利技術旨在至少在一定程度上解決相關技術中的技術問題之一。為此，本專利技術的一個目的在于提出一種能確保每一個采樣值都具有較高精度的采樣標定方法。本專利技術的一個目的在于提出一種采樣標定裝置。為達到上述目的，本專利技術一方面實施例提出了一種采樣標定方法，包括以下步驟：對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間；獲取每個所述標定區間的標定參數；根據每個所述標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。根據本專利技術實施例提出的采樣標定方法，對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間，并獲取每個標定區間的標定參數，然后根據每個標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。由此，通過分段標定方式對多個標定區間進行標定，從而使得每個標定區間的標定后的實際采樣值均具有較高的精度，提高了標定的精確度，保障了后續電路的輸入電壓或電流精度。為達到上述目的，本專利技術另一方面實施例提出了一種采樣標定裝置，包括：劃分模塊，用于對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間；獲取模塊，用于獲取每個所述標定區間的標定參數；標定模塊，用于根據每個所述標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。根據本專利技術實施例提出的采樣標定裝置，通過劃分模塊對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間，并通過獲取模塊獲取每個標定區間的標定參數，然后標定模塊根據每個標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。由此，通過分段標定方式對多個標定區間進行標定，從而使得每個標定區間的標定后的實際采樣值均具有較高的精度，提高了標定的精確度，保障了后續電路的輸入電壓或電流精度。附圖說明圖1是根據本專利技術實施例的采樣標定方法的流程圖；圖2是根據本專利技術一個實施例的采樣標定方法中獲取標定參數的流程圖；圖3是根據本專利技術一個具體實施例的采樣標定方法的流程圖；以及圖4是根據本專利技術實施例的采樣標定裝置的方框示意圖。具體實施方式下面詳細描述本專利技術的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本專利技術，而不能理解為對本專利技術的限制。首先，本申請的專利技術人通過大量實驗、分析發現，在不同的電壓范圍，實際采樣值與理論采樣值滿足不同的關系，并且在每個電壓范圍，實際采樣值與理論采樣值之間的關系接近線性。例如，電路板的輸入電壓范圍是0到1000V，從0V到400V，實際采樣值與理論采樣值成第一線性關系；從400V到700V，實際采樣值與理論采樣值成第二線性關系；從700V到1000V，實際采樣值與理論采樣值成第三線性關系。基于此，本專利技術實施例提出了一種采樣標定方法和采樣標定裝置。下面參考附圖來描述本專利技術實施例的采樣標定方法和采樣標定裝置。圖1是根據本專利技術實施例的采樣標定方法的流程圖。如圖1所示，該采樣標定方法包括以下步驟：S1：對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間。根據本專利技術的一個具體示例，待采樣參數可為電壓或電流等參數。S2：獲取每個標定區間的標定參數。其中，應當理解的是，多個標定區間可具有多組標定參數，多組標定參數可均不相同，例如第一個標定區間的標定參數為A，第二個標定區間的標定參數為B，B與A不相同。S3：根據每個標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。也就是說，不同標定區間的實際采樣值采用不同的標定參數進行標定，由此每個標定區間的標定后的實際采樣值更接近理論采樣值，提高了標定的精確度。需要說明的是，實際真實值可為模擬量，實際采樣值和理論采樣值為數字量，當實際真實值輸入到電路板的輸入端時，電路板將按照通道比例將實際真實值轉換為實際采樣值，其中，通道比例為模擬量到數字量的轉換比例。還需說明的是，每個標定區間的標定參數均可存儲到EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，電可擦可編程只讀存儲器)中，這樣在對實際采樣值進行標定時可直接使用EEPROM中存儲的標定參數。具體而言，在通過本專利技術實施例的采樣標定方法對電壓(相當于實際真實值)進行標定時，可先判斷當前電壓所屬的標定區間，然后獲取當前電壓所屬的標定區間對應的標定參數，這樣在獲取當前電壓的實際采樣值之后，可根據獲取的標定參數對當前電壓的實際采樣值進行標定以獲取當前電壓的標定后的實際采樣值，該標定后的實際采樣值將會提供給后續電路，從而為后續電路提供精確地電壓或電流輸入。由此，通過分段標定方式對多個標定區間進行標定，從而使得每個標定區間的標定后的實際采樣值均具有較高的精度，提高了標定的精確度，保障了后續電路的輸入電壓或電流精度。根據本專利技術的一個實施例，標定參數可包括標定增益和標定偏移，其中，如圖2所示，獲取每個標定區間的標定參數，具體包括：S10：獲取每個標定區間對應的任意兩個實際真實值，并根據任意兩個實際真實值計算得到相應的兩個理論采樣值。S20：對任意兩個實際真實值進行采樣以獲得相應的兩個實際采樣值。S30：根據兩個理論采樣值和兩個實際采樣值計算標定增益和標定偏移。需要說明的是，標定增益和標定偏移可以在電路板初次上電時計算并存儲，也可以每隔一段時間計算一次并存儲，又可以在每次上電時均計算一次并存儲。具體而言，在每個標定區間，實際采樣值與理論采樣值之間的關系接近線性，即言，理論采樣值和實際真實值有一個線性的對應關系：(理論采樣值＝k*實際采樣值+b)。這樣，由于通過一條直線上的兩個數據點可以確定線性方程，所以，在每個標定區間，通過兩個理論采樣值和兩個實際采樣值就可以確定該標定區間理論采樣值和實際真實值之間的線性方程，該線性方程即可作為標定方程。在獲取實際采樣值之后，就可根據相應標定區間的標定方程對實際采樣值進行標定以計算出標定后的實際采樣值。具體地，可根據以下公式計算標定增益：k＝(xH-xL)/(yH-yL)其中，k為標定增益，xH和xL為兩個理論采樣值，yH和yL為兩個實際采樣值。并且，可根據以下公式計算該線性關系的標定偏移：b＝xL-yL*k或者b＝xH-yH*k其中，b為標定偏移。也就本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種采樣標定方法，其特征在于，包括以下步驟：對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間；獲取每個所述標定區間的標定參數；根據每個所述標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。

【技術特征摘要】
1.一種采樣標定方法，其特征在于，包括以下步驟：對待采樣參數對應的實際真實值進行劃分以獲得多個標定區間；獲取每個所述標定區間的標定參數；根據每個所述標定區間的標定參數對相應標定區間的實際采樣值進行標定以使標定后的實際采樣值匹配理論采樣值。2.如權利要求1所述的采樣標定方法，其特征在于，所述標定參數包括標定增益和標定偏移，其中，獲取每個所述標定區間的標定參數，具體包括：獲取每個所述標定區間對應的任意兩個實際真實值，并根據所述任意兩個實際真實值計算得到相應的兩個理論采樣值；對所述任意兩個實際真實值進行采樣以獲得相應的兩個實際采樣值；根據所述兩個理論采樣值和所述兩個實際采樣值計算所述標定增益和標定偏移。3.如權利要求2所述的采樣標定方法，其特征在于，根據以下公式計算所述標定增益：k＝(xH-xL)/(yH-yL)其中，k為所述標定增益，xH和xL為所述兩個理論采樣值，yH和yL為所述兩個實際采樣值。4.如權利要求3所述的采樣標定方法，其特征在于，根據以下公式計算所述標定偏移：b＝xL-yL*k或者b＝xH-yH*k其中，b為所述標定偏移。5.如權利要求2-4中任一項所述的采樣標定方法，其特征在于，每個所述標定區間對應的任意兩個實際真實值分別為相應標定區間對應的實際真實值上下限。6.一種采樣標定裝置，其特征在于，包...

【專利技術屬性】
技術研發人員：蘇葉慶，李帥輝，張鑫鑫，
申請(專利權)人：比亞迪股份有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44