本實用新型專利技術公開并提供了一種具有開短路測試功能的安規測試儀,它包括普通安規測試儀和開短路測試功能電路,所述普通安規測試儀連接被測設備,所述開短路測試功能電路裝置在所述普通安規測試儀內,所述開短路測試功能電路包括信號發生電路、采樣電路、單片機,所述采樣電路連接所述單片機,所述信號發生電路和所述采樣電路及單片機均連接被測設備,所述信號發生電路所發出的信號經過所述被測設備后由所述采樣電路進行采樣,所述采樣得到的信號反饋至單片機進行比較和運算處理,所述運算處理后的結果由所述具有開短路測試功能的安規測儀顯示。本實用新型專利技術可廣泛應用于安規測試儀技術領域。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及安規功能測試儀技術應用領域,尤其涉及一種具有開短路測試功能的安規測試儀。
技術介紹
隨著電子技術的飛速發展,安規功能測試儀作為電子產品出廠例行檢測的基本工具,其應用十分的廣泛和普遍。目前市場上的安規功能測試儀沒有檢測被測設備與測試設備之間的連接通斷情況以及被測設備本身短路這一預預警和處理測試功能,因而現有技術主要存在有以下方面的缺點:1)沒有待測產品和儀器間是否連接正常的通斷路的預處理測試功能:在測試過程中,工作人員并不知到測試設備與被測設備連接的情況,有可能導線的損壞或繼電器的氧化等原因,從而在被測設備與測試設備之間存在斷路現象。由于產品本身的電源腳和接地腳之間的阻抗非常大,和斷開未連接的情況下的測試結果(漏電流值)比較類似,容易造成未連接的情況下也測試完成的假測現象。2)沒有監測產品本身是否短路的預處理測試功能:測試過程中,由于被測設備有可能出現設備本身短路現象,導致測試高壓的時候瞬間電流巨大,對測試人員和設備都有潛在的危害。綜上所述,現有技術中的安規測試儀技術中,存在缺少開短路的測試功能的缺陷,對測試人員和設備有潛在的危害。
技術實現思路
本技術所要解決的問提是克服現有技術的不足,提供一種具有開短路測試功能的安規測試儀。本技術的技術方案是:本技術它包括普通安規測試儀和開短路測試功能電路,所述普通安規測試儀連接被測設備,所述開短路測試功能電路裝置在所述普通安規測試儀內,所述開短路測試功能電路包括信號發生電路、采樣電路、單片機,所述采樣電路連接所述單片機,所述信號發生電路和所述采樣電路及單片機均連接被測設備,所述信號發生電路所發出的信號經過所述被測設備后由所述采樣電路進行采樣,所述采樣得到的信號反饋至單片機進行比較和運算處理,所述運算處理后的結果由所述普通安規測試儀顯示,相關測試人員即可明確所述被測設備與所述普通安規測試儀之間連接的開短路狀態。所述信號發生電路包括多個運放集成電路和電阻、電容、線圈及二極管構成的遲滯比較器和多諧振蕩器,產生10HZ的方波信號流經所述被測設備后輸入所述采樣電路。所述采樣電路包括多個集成電路和電阻、電容、線圈組成的電壓放大器、電壓跟隨器、控制模擬開關,將從所述被測設備取樣所得的電壓信號和電容值送入單片機。所述單片機對所述采樣電路輸入的信號進行計算處理,與設置存儲的數據比較計算并處理,將結果輸出至所述普通安規測試儀內顯示裝置。本技術的有益效果是:由于本技術它包括普通安規測試儀和開短路測試功能電路,所述普通安規測試儀連接被測設備,所述開短路測試功能電路裝置在所述普通安規測試儀內,所述開短路測試功能電路包括信號發生電路、采樣電路、單片機,所述采樣電路連接所述單片機,所述信號發生電路和所述采樣電路及單片機均連接被測設備,所述信號發生電路所發出的信號經過所述被測設備后由所述采樣電路進行采樣,所述采樣得到的信號反饋至單片機進行比較和運算處理,所述運算處理后的結果由所述普通安規測試儀顯示,相關測試人員即可明確所述被測設備與所述普通安規測試儀之間連接的開短路狀態。所以本技術是一種具有開短路測試功能的安規測試儀。附圖說明圖1是本技術的電路結構方框示意圖;圖2是本技術中信號發生電路原理示意圖;圖3是本技術中采樣電路原理示意圖。具體實施方式如圖1至圖3所示,本技術它包括普通安規測試儀1和開短路測試功能電路,所述普通安規測試儀1連接被測設備2,所述開短路測試功能電路裝置在所述普通安規測試儀1內,所述開短路測試功能電路包括信號發生電路3、采樣電路4、單片機5,所述采樣電路4連接所述單片機5,所述信號發生電路3和所述采樣電路4及單片機均連接所述被測設備2,所述信號發生電路3所發出的信號經過所述被測設備2后由所述采樣電路4進行采樣,所述采樣得到的信號反饋至所述單片機5進行比較和運算處理,所述運算處理后的結果由所述普通安規測試儀1顯示,相關測試人員即可明確所述被測設備2與所述普通安規測試儀1之間連接的開短路狀態。所述信號發生電路3包括多個運放集成電路和電阻、電容、線圈及二極管構成的遲滯比較器和多諧振蕩器,產生10HZ的方波信號流經所述被測設備2后輸入所述采樣電路4。所述采樣電路4包括多個集成電路和電阻、電容、線圈組成的電壓放大器、電壓跟隨器、控制模擬開關,將從所述被測設備2取樣所得的電壓信號和電容值送入所述單片機5。所述單片機5對所述采樣電路輸入的信號進行計算處理,與設置存儲的數據比較計算并處理,將結果輸出至普通安規測試儀1內并顯示。本實施例中針對現有技術的一些缺陷和改進的需求,本專利技術提供了一種安規功能測試儀的開短路測試的預處理測試功能,該功能采用的原理是由信號源產生10HZ頻率的信號,該信號經過被設備也就是說負載,所述采樣電路4得出流過所述被測設備2的電流與電壓,根據I=2πfUC計算出電容的值,最后比較電容值判斷開短路。當所述被測設備2與測試設備連接正常時,其電容值是Cx。如果被測設備2與測試設備連接不好,負載電容值有變化,當被測設備2與測試設備開路時,負載電容值為C=Cc*Cx/(Cc+Cx)<<Cx。當被測設備與測試設備短路時,負載電容值為C>>Cx。單片機計算出來的電容值與其正常的電容值比較,如果遠遠大于設定的電容值(正常電容值),說明被測設備2與測試設備短路,如果測量出的電容值遠遠小于說明被測設備2與測試設備之間開路。也就是說通過測量出來的電容值來確定連接情況,再反饋到顯示屏幕上便于操作人員觀察。圖2是本技術中信號發生電路原理示意圖,前面部分由U16,R59,C30,C82,R31,R56,R37構成了遲滯比較器所構成的多諧振蕩電路,產生10HZ的方波信號,該信號流過由TL082AC構成低通濾波器,濾除不必要的高次諧波,最后從HV輸出的是一個正弦信號。其中C43是一個大的電容,它與D10/D11構成的網路對HV輸出端起保護作用。圖3是本技術中采樣電路原理示意圖,采樣電路中信號源產生的正弦信號從HV輸入一方面經過分壓電阻R3、R4、R5各為10M歐的電阻和R1610K電阻降壓后,到ICU54-A模擬開關的第8腳,從U54-A的第1腳輸出,再流經U2,U2在這里是作為一個電壓放大器使用,模擬開關U12-A用來切換U2的放大倍數,U12-A的1腳切換到2腳,U2就構成一個電壓跟隨器,電壓放大倍數為1;如果U12-A的1腳切換到8腳,U2就構成一個電壓正相放大器,放大倍數...
【技術保護點】
一種具有開短路測試功能的安規測試儀,它包括普通安規測試儀(1)和開短路測試功能電路,所述普通安規測試儀(1)連接被測設備(2),其特征在于:所述開短路測試功能電路裝置在所述普通安規測試儀(1)內,所述開短路測試功能電路包括信號發生電路(3)、采樣電路(4)、單片機(5),所述采樣電路(4)連接所述單片機(5),所述信號發生電路(3)和所述采樣電路(4)及所述單片機(5)均連接所述被測設備(2),所述信號發生電路(3)所發出的信號經過所述被測設備(2)后由所述采樣電路(4)進行采樣,所述采樣得到的信號反饋至所述單片機(5)進行比較和運算處理,所述運算處理后的結果由所述普通安規測試儀(1)顯示,相關測試人員即可明確所述被測設備(2)與所述普通安規測試儀(1)之間連接的開短路狀態。
【技術特征摘要】
1.一種具有開短路測試功能的安規測試儀,它包括普通安規測試儀(1)和開短路測試
功能電路,所述普通安規測試儀(1)連接被測設備(2),其特征在于:所述開短路測試功能電
路裝置在所述普通安規測試儀(1)內,所述開短路測試功能電路包括信號發生電路(3)、采
樣電路(4)、單片機(5),所述采樣電路(4)連接所述單片機(5),所述信號發生電路(3)和所
述采樣電路(4)及所述單片機(5)均連接所述被測設備(2),所述信號發生電路(3)所發出的
信號經過所述被測設備(2)后由所述采樣電路(4)進行采樣,所述采樣得到的信號反饋至所
述單片機(5)進行比較和運算處理,所述運算處理后的結果由所述普通安規測試儀(1)顯
示,相關測試人員即可明確所述被測設備(2)與所述普通安規測試儀(1)之間連接的開短路
狀態。
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【專利技術屬性】
技術研發人員:趙建,
申請(專利權)人:珠海市芬諾科技有限公司,
類型:新型
國別省市:廣東;44
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