導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)制造技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開(kāi)了一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，包括一雷達(dá)電子倉(cāng)通過(guò)一導(dǎo)波延長(zhǎng)管連接一雷達(dá)天線；所述雷達(dá)電子倉(cāng)包括：一MCU單元與一微波射頻單元連接。本發(fā)明專利技術(shù)解決了現(xiàn)有技術(shù)中在輻照、高溫高壓、高低溫循環(huán)等惡劣條件下雷達(dá)物位計(jì)的應(yīng)用問(wèn)題，通過(guò)導(dǎo)波延長(zhǎng)管使得使用過(guò)程中可以將電子倉(cāng)置于遠(yuǎn)離惡劣環(huán)境的地方，實(shí)現(xiàn)了增加產(chǎn)品的使用壽命及適用范圍的目的。本發(fā)明專利技術(shù)能在高溫、輻射等惡劣條件下工作，可適用于工業(yè)企業(yè)在生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行測(cè)量和控制生產(chǎn)過(guò)程，主要用作物位、液位的連續(xù)測(cè)量和指示。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)
本專利技術(shù)涉及一種物位計(jì)，尤其涉及一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)。
技術(shù)介紹
雷達(dá)物位計(jì)是一種新型性能優(yōu)良的非接觸的界面測(cè)距設(shè)備。可被廣泛應(yīng)用于石油、化工、自來(lái)水、污水處理、水利水文、鋼鐵、煤礦、電力、交通以及食品加工等行業(yè)。由于其安裝調(diào)試操作簡(jiǎn)便，適用性廣，采用非接觸式測(cè)量，無(wú)可動(dòng)件，有較高的精度及穩(wěn)定性，是一種新型理想的物位測(cè)量設(shè)備。其應(yīng)用場(chǎng)所廣闊，具有良好的市場(chǎng)前景。由于儀表體積較小，直接安裝在高溫高壓環(huán)境下，電子倉(cāng)與測(cè)量環(huán)境距離較近，常期處于高溫環(huán)境或處于高低溫交替環(huán)境下，易導(dǎo)致儀表電子倉(cāng)壽命降低，或者無(wú)法正常工作；在存在輻照環(huán)境時(shí)，電子倉(cāng)直接暴露在輻射源的輻照下時(shí)會(huì)導(dǎo)致電子倉(cāng)內(nèi)電子設(shè)備失效。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)公開(kāi)了一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中在輻照、高溫高壓、高低溫循環(huán)等惡劣條件下雷達(dá)物位計(jì)的應(yīng)用問(wèn)題。本專利技術(shù)的上述目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，包括一雷達(dá)電子倉(cāng)通過(guò)一導(dǎo)波延長(zhǎng)管連接一雷達(dá)天線；所述雷達(dá)電子倉(cāng)包括：一MCU單元與一微波射頻單元連接。如上所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，所述雷達(dá)電子倉(cāng)還包括：一顯示控制單元，所述顯示控制單元與所述MCU單元連接。如上所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，所述MCU單元還連接有一電源通信單元。如上所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，所述微波射頻單元連接有一收發(fā)接口單元。如上所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，所述導(dǎo)波延長(zhǎng)管的一端與所述收發(fā)接口單元連接。如上所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，所述顯示控制單元包括按鍵裝置。如上所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，所述雷達(dá)電子倉(cāng)包括：一表殼模塊，所述收發(fā)接口單元安裝在所述表殼模塊表面。綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本專利技術(shù)解決了現(xiàn)有技術(shù)中在輻照、高溫高壓、高低溫循環(huán)等惡劣條件下雷達(dá)物位計(jì)的應(yīng)用問(wèn)題，通過(guò)導(dǎo)波延長(zhǎng)管使得使用過(guò)程中可以將電子倉(cāng)置于遠(yuǎn)離惡劣環(huán)境的地方，實(shí)現(xiàn)了增加產(chǎn)品的使用壽命及適用范圍的目的。本專利技術(shù)能在高溫、輻射等惡劣條件下工作，可適用于工業(yè)企業(yè)在生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行測(cè)量和控制生產(chǎn)過(guò)程，主要用作物位、液位的連續(xù)測(cè)量和指示。附圖說(shuō)明圖1是本專利技術(shù)導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)的結(jié)構(gòu)框圖。具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本專利技術(shù)做進(jìn)一步描述：圖1是本專利技術(shù)導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)的結(jié)構(gòu)框圖，請(qǐng)參見(jiàn)圖1，一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其中，包括一雷達(dá)電子倉(cāng)1通過(guò)一導(dǎo)波延長(zhǎng)管8連接一雷達(dá)天線9；雷達(dá)電子倉(cāng)1包括：一MCU單元2與一微波射頻單元5連接。導(dǎo)波延長(zhǎng)管8有直桿型及90度彎角型兩種型號(hào)，可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際使用情況調(diào)整導(dǎo)波延長(zhǎng)管8的連接方式，導(dǎo)波延長(zhǎng)管8之間通過(guò)對(duì)鉚螺釘緊固；顯示控制單元3上可顯示所測(cè)數(shù)據(jù)及波形。進(jìn)一步的，雷達(dá)電子倉(cāng)1還包括：一顯示控制單元3，顯示控制單元3與MCU單元2連接。進(jìn)一步的，MCU單元2還連接有一電源通信單元4，電源通信單元4負(fù)責(zé)整機(jī)的電源供電并將MCU單元2所測(cè)得的數(shù)據(jù)通過(guò)數(shù)字通信及4-20mA變送出儀表。進(jìn)一步的，微波射頻單元5連接有一收發(fā)接口單元6；微波射頻單元5接收時(shí)負(fù)責(zé)將接收到收發(fā)接口單元送來(lái)的高頻微波信號(hào)轉(zhuǎn)化成MCU單元2可處理的中頻信號(hào)，發(fā)送信號(hào)時(shí)則負(fù)責(zé)將MCU單元2發(fā)送的中頻信號(hào)轉(zhuǎn)化為高頻的微波射頻信號(hào)，送往收發(fā)接口單元。進(jìn)一步的，導(dǎo)波延長(zhǎng)管8的一端與收發(fā)接口單元連接。進(jìn)一步的，顯示控制單元3包括按鍵裝置，具體的，按鍵裝置可以有四個(gè)按鍵，四個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)對(duì)雷達(dá)的量程、測(cè)量范圍、輸出電流等的參數(shù)調(diào)整。進(jìn)一步的，雷達(dá)電子倉(cāng)1包括：一表殼模塊，MCU單元2微波射頻單元5表殼模塊設(shè)置在電子倉(cāng)1的外壁上，表殼模塊可以是電子倉(cāng)1側(cè)壁上凸出的一塊物塊；收發(fā)接口單元6安裝在表殼模塊表面。本專利技術(shù)還公開(kāi)了一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)的控制方法，其中，通過(guò)對(duì)導(dǎo)波延長(zhǎng)管8的電磁仿真計(jì)算可確定電磁波在導(dǎo)波管中的信號(hào)衰減強(qiáng)度及延時(shí)時(shí)間，根據(jù)所計(jì)算出的時(shí)間對(duì)MCU單元2內(nèi)的時(shí)間窗進(jìn)行修正，從而測(cè)出目標(biāo)的距離。本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，包括一雷達(dá)電子倉(cāng)通過(guò)一導(dǎo)波延長(zhǎng)管連接一雷達(dá)天線；所述雷達(dá)電子倉(cāng)包括：一MCU單元與一微波射頻單元連接。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，包括一雷達(dá)電子倉(cāng)通過(guò)一導(dǎo)波延長(zhǎng)管連接一雷達(dá)天線；所述雷達(dá)電子倉(cāng)包括：一MCU單元與一微波射頻單元連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述雷達(dá)電子倉(cāng)還包括：一顯示控制單元，所述顯示控制單元與所述MCU單元連接。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波延長(zhǎng)雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述MCU單元還連接有一電源通信單元。4.根據(jù)權(quán)利要求1所...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：周俊杰，談卓雅，王鑫，包偉華，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：上海自動(dòng)化儀表有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：上海,31