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本發明公開了一種導波延長雷達物位計，其中，包括一雷達電子倉通過一導波延長管連接一雷達天線；所述雷達電子倉包括：一MCU單元與一微波射頻單元連接。本發明解決了現有技術中在輻照、高溫高壓、高低溫循環等惡劣條件下雷達物位計的應用問題，通過導波延長...
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