一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置制造方法及圖紙

本申請(qǐng)公開了一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置，該方法包括將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行主控芯片的命令行，從嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)判定寄存器測(cè)試通過。該裝置包括串口自動(dòng)化工具，通過嵌入式控制芯片與主控芯片連接；串口自動(dòng)化工具用于自動(dòng)運(yùn)行主控芯片的命令行，從嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比，當(dāng)與預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)判定該寄存器測(cè)試通過。該方法和裝置能夠提高測(cè)試效率，降低相關(guān)測(cè)試對(duì)人力的要求，并且避免錯(cuò)查和漏查問題的發(fā)生。

Automatic test method and device for full function coverage of embedded control chip

The invention discloses an embedded control chip full coverage of the automatic test method and device, the method includes connecting to the main control chip embedded control chip through the serial port automation tools; the use of serial automation tools for automatic operation of the main control chip to read data from the command line, embedded register control chip; data comparison the preset data and read the script; when reading the data with the preset data at the same criterion register test. The device comprises a serial automation tool, connected by embedded control chip and main control chip; serial port automation tools for automatic operation of the main control chip to read data from the command line, embedded control registers, data comparison and preset data read in the script, when the same with the preset data to judge the test register. The method and the device can improve the testing efficiency, reduce the manpower requirement of the relevant test, and avoid the occurrence of wrong check and check.

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置
本專利技術(shù)屬于芯片測(cè)試
，特別是涉及一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置。
技術(shù)介紹
單板底層軟件系統(tǒng)的可靠性是整機(jī)可靠性的重要基礎(chǔ)，特別是在存儲(chǔ)領(lǐng)域中，可靠性就是存儲(chǔ)系統(tǒng)的生命，所以單板底層軟件系統(tǒng)的可靠性就顯得尤為重要。對(duì)嵌入式控制芯片的全功能覆蓋測(cè)試是針對(duì)單板底層軟件系統(tǒng)可靠性測(cè)試的一項(xiàng)非常有效的手段，但是嵌入式控制芯片的寄存器繁雜而且規(guī)律性小，在人工排查過程中費(fèi)時(shí)費(fèi)力。具體而言，在嵌入式控制芯片的底層軟件的編寫中，許多寄存器特別是許多狀態(tài)寄存器在檢查中需要花費(fèi)大量的時(shí)間，而且容易錯(cuò)查、漏查。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為解決上述問題，本專利技術(shù)提供了一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置，能夠提高測(cè)試效率，降低相關(guān)測(cè)試對(duì)人力的要求，并且避免錯(cuò)查和漏查問題的發(fā)生。本專利技術(shù)提供的一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，包括：將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用所述串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法中，所述當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過之后，還包括：將所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數(shù)據(jù)并與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法中，所述將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：將TeraTerm串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法中，所述將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：將串口自動(dòng)化工具通過CPLD、FPGA或ARM連接至主控芯片。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法中，所述嵌入式控制芯片通過I2C或SGPIO與所述主控芯片連接。本專利技術(shù)提供的一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試裝置，包括串口自動(dòng)化工具，所述串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片與主控芯片連接；所述串口自動(dòng)化工具用于自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)，并將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比，當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試裝置中，所述串口自動(dòng)化工具還用于將所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數(shù)據(jù)并與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試裝置中，所述串口自動(dòng)化工具為TeraTerm串口自動(dòng)化工具。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試裝置中，所述嵌入式控制芯片為CPLD、FPGA或ARM。優(yōu)選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試裝置中，所述嵌入式控制芯片通過I2C或SGPIO與所述主控芯片連接。通過上述描述可知，本專利技術(shù)提供的上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置，由于該方法包括：將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用所述串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過，因此能夠提高測(cè)試效率，降低相關(guān)測(cè)試對(duì)人力的要求，并且避免錯(cuò)查和漏查問題的發(fā)生。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術(shù)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術(shù)的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法的示意圖；圖2為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試裝置的示意圖。具體實(shí)施方式本專利技術(shù)的核心思想在于提供一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法和裝置，能夠提高測(cè)試效率，降低相關(guān)測(cè)試對(duì)人力的要求，并且避免錯(cuò)查和漏查問題的發(fā)生。下面將結(jié)合本專利技術(shù)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本專利技術(shù)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本專利技術(shù)保護(hù)的范圍。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法如圖1所示，圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法的示意圖，該方法包括如下步驟：S1：將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；需要說明的是，該串口自動(dòng)化工具包括但不限于teraterm的串口自動(dòng)化工具，可以編寫自動(dòng)化的腳本，該嵌入式控制芯片包括但不限于CPLD(復(fù)雜可編程邏輯器件)、FPGA或ARM，這些都能進(jìn)行片內(nèi)寄存器的讀寫，該主控芯片包括但不限于MCU主控芯片，是整機(jī)系統(tǒng)的控制中心，可以通過相關(guān)的命令進(jìn)行對(duì)寄存器的讀寫。S2：利用所述串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；需要說明的是，讀取指定的寄存器之后，不斷刷新串口直到收到由嵌入式控制芯片發(fā)送過來的數(shù)據(jù)。S3：將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；需要說明的是，該腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)可以依據(jù)OSES的軟硬件接口手冊(cè)，事先將目標(biāo)數(shù)據(jù)寫入腳本。S4：當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。這是針對(duì)只讀寄存器來說的，也就是說，將收到的數(shù)據(jù)與腳本事先編輯的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，來進(jìn)行對(duì)此次測(cè)試的最終判斷。通過上述描述可知，本申請(qǐng)實(shí)施例提供的上述第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，由于包括：將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用所述串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過，因此能夠提高測(cè)試效率，降低相關(guān)測(cè)試對(duì)人力的要求，并且避免錯(cuò)查和漏查問題的發(fā)生。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的第二種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，是在上述第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，還包括如下技術(shù)特征：所述當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過之后，還包括：將所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數(shù)據(jù)并與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。這是面向的可讀寫寄存器，具體的，先寫入指定寄存器中腳本中編輯的數(shù)據(jù)，然后讀取出來看與寫入的數(shù)據(jù)是否一致。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的第三種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，是在上述第一種或第二種嵌入式控制芯片全本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，包括：將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用所述串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，包括：將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用所述串口自動(dòng)化工具自動(dòng)運(yùn)行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數(shù)據(jù)；將讀取的數(shù)據(jù)與腳本中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過之后，還包括：將所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數(shù)據(jù)并與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)比；當(dāng)所述讀取的數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，則判定該寄存器測(cè)試通過。3.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項(xiàng)所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：將TeraTerm串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述將串口自動(dòng)化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：將串口自動(dòng)化工具通過CPLD、FPGA或ARM連接至主控芯片。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王志浩，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：鄭州云海信息技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：河南,41