一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置，包括：根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；若需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存??；若需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存??；可見，通過片上存儲資源和片外存儲資源這種兩級存儲結構的方式，用外接的存儲資源擴展了有限的片上資源，在不增加片上資源開銷的前提下，保證了對于調試信息的存取功能；并且這種預先對需求量進行配置的方式，實現了對調試信息存取模式的靈活確定，在減少片上資源和降低仿真效率之間取得平衡。

Debugging information access method and device based on super large scale chip debugging

The invention discloses a method and device debugging information access method based on VLSI chip debugging includes: storage resource demand is determined according to the configuration information of the user; if the demand of configuration information for low demand configuration information, only through the storage resource on the chip to achieve access to information on the test; if the demand for configuration information high demand for configuration information, through access to the implementation of the debugging information storage resources and external storage resources; visible through the on-chip storage resources and external storage resources the two level storage structure, storage resources with external expansion of the limited on-chip resources, without increasing the chip the resource cost under the guarantee for debugging information access function; and the demand of pre allocation and implementation of debugging information access mode is flexible Determine the balance between reducing on-chip resources and reducing simulation efficiency.

【技術實現步驟摘要】
一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置
本專利技術涉及超大規模芯片設計領域，更具體地說，涉及一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置。
技術介紹
隨著工藝技術以及應用領域的不斷發展，芯片的復雜度不斷提高，使得可測性設計對調試信息的需求和芯片測試資源的限制之間的矛盾越來越突出。一方面，芯片和系統的復雜度大幅提高意味著驗證和測試階段需要的可見的調試信息大量增多，另一方面，芯片復雜度提高意味著其本身功能的邏輯資源需求越大，在同一工藝水平和相近的芯片面積的前提下，這也意味著芯片可用于存儲調試信息的寄存器資源也越少。傳統上對于芯片調試信息的存取，有兩種直接的實現方式。一是使用芯片上的資源，包括寄存器和ram；二是在測試或FPGA驗證時，通過外接的調試信息保存方式和資源來實現。這兩種方式實現都比較簡單而直觀，但都有很大的局限性。但是第一種的方式受限于片上資源，在芯片規模和復雜度提高的時候，能用于存取調試信息的資源反而更少；而第二種方式，對外接資源的使用比較復雜和低效，同時需要添加相應的額外的控制邏輯，這樣一方面很可能對系統引入錯誤和調試的工作量，更重要的是有可能對芯片本身的時序和邏輯產生影響。因此，如何存取調試信息，是本領域技術人員需要解決的問題。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置，以實現對調試信息進行存取。為實現上述目的，本專利技術實施例提供了如下技術方案：一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法，包括：根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；若所述需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存?。蝗羲鲂枨罅颗渲眯畔楦咝枨罅颗渲眯畔?，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取。其中，若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取，包括：若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則首先通過片上存儲資源對調試信息進行存?。划斔銎洗鎯Y源存儲的測試信息大于預定閾值時，將所述片上存儲資源存儲的調試信息寫入片外存儲資源；當存在對所述片外存儲資源的讀取需求時，從所述片外存儲資源讀取對應的調試信息。其中，所述片上存儲資源包括：片上寄存器及ram資源。其中，還包括：根據調度信息的類型，確定所述調度信息的存儲格式。其中，同一類型的調試信息，在所述片上存儲資源與所述片外存儲資源具有同一種存儲格式。一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取裝置，包括：存儲資源確定模塊，用于根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；調試信息存取模塊，用于在所述需求量配置信息為低需求量配置信息時，僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存??；在所述需求量配置信息為高需求量配置信息時，通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取。其中，所述調試信息存取模塊，包括：第一存取單元，用于在所述需求量配置信息為高需求量配置信息時，通過片上存儲資源對調試信息進行存取；調試信息寫入單元，用于當所述片上存儲資源存儲的測試信息大于預定閾值時，將所述片上存儲資源存儲的調試信息寫入片外存儲資源；調試信息讀取單元，用于當存在對所述片外存儲資源的讀取需求時，從所述片外存儲資源讀取對應的調試信息。其中，所述片上存儲資源包括：片上寄存器及ram資源。其中，所述調試信息存取模塊還用于，根據調度信息的類型，確定所述調度信息的存儲格式。其中，同一類型的調試信息，在所述片上存儲資源與所述片外存儲資源具有同一種存儲格式。通過以上方案可知，本專利技術實施例提供的一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法，包括：根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；若所述需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存?。蝗羲鲂枨罅颗渲眯畔楦咝枨罅颗渲眯畔ⅲ瑒t通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取?？梢姡诒痉桨钢?，通過片上存儲資源和片外存儲資源這種兩級存儲結構的方式，用外接的存儲資源擴展了有限的片上資源，在不增加片上資源開銷的前提下，保證了對于調試信息的存取功能；并且這種預先對需求量進行配置的方式，實現了對調試信息存取模式的靈活確定，在減少片上資源和降低仿真效率之間取得平衡；本專利技術還公開了一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取裝置，同樣能實現上述技術效果。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本專利技術實施例公開的一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法流程示意圖；圖2為本專利技術實施例公開的用于存儲調試信息的兩級存儲基本結構示意圖；圖3為本專利技術實施例公開的一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取裝置結構示意圖。具體實施方式下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦＠夹g中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。本專利技術實施例公開了一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置，以實現對調試信息進行存取。參見圖1，本專利技術實施例提供的一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法，包括：S101、根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；具體的，由于調試信息的保存，無論是保存到片上還是片外，都會影響仿真的速度和效率；并且，保存的信息越多越詳細，仿真的速度和效率也就越差。因此，在本方案中，可通過用戶預先對待保存的調試信息進行自定義，即確定需求量配置信息，該配置信息對調試信息的保存進行了區分，并且可針對仿真調試的不同階段和需求，來自定義調試信息是否保存，以及確定保存的范圍和細節，并通過宏定義作為開關進行控制。可見，通過對需求量配置信息的確定，可確定待保存的調試資源，從而靈活的確定保存調試資源的存儲資源，以及外接存儲資源的結構和規模。S102、若所述需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存??；若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取。其中，所述片上存儲資源包括：片上寄存器及ram資源。其中，若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取，包括：若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則首先通過片上存儲資源對調試信息進行存??；當所述片上存儲資源存儲的測試信息大于預定閾值時，將所述片上存儲資源存儲的調試信息寫入片外存儲資源；當存在對所述片外存儲資源的讀取需求時，從所述片外存儲資源讀取對應的調試信息。具體的，考慮到對超大規模芯片進行FPGA原型驗證或者實際測試時，需要用有限的資源存儲和表達盡可能多的芯片調試信息，于是將片上的寄存器、ram資源以及外接的存儲資源進行結合，形成兩級的存儲結構，并通過靈活的配置，在必要的時候可以將大量的調試信息記錄在外接存儲中。因此，本實施例中，通過片上存儲資源的寄存器以及ram資源，以及片外存儲資源形成兩本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法，其特征在于，包括：根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；若所述需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存取；若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取。

【技術特征摘要】
1.一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法，其特征在于，包括：根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；若所述需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存??；若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取。2.根據權利要求1所述的調試信息存取方法，其特征在于，若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和片外存儲資源實現對調試信息的存取，包括：若所述需求量配置信息為高需求量配置信息，則首先通過片上存儲資源對調試信息進行存取；當所述片上存儲資源存儲的測試信息大于預定閾值時，將所述片上存儲資源存儲的調試信息寫入片外存儲資源；當存在對所述片外存儲資源的讀取需求時，從所述片外存儲資源讀取對應的調試信息。3.根據權利要求1所述的調試信息存取方法，其特征在于，所述片上存儲資源包括：片上寄存器及ram資源。4.根據權利要求1-3中任意一項所述的調試信息存取方法，其特征在于，還包括：根據調度信息的類型，確定所述調度信息的存儲格式。5.根據權利要求4所述的調試信息存取方法，其特征在于，同一類型的調試信息，在所述片上存儲資源與所述片外存儲資源具有同一種存儲格式。6.一種基于超大規模芯片調...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李拓，周恒釗，符云越，
申請(專利權)人：鄭州云海信息技術有限公司，
類型：發明
國別省市：河南,41