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本發明公開了一種基于超大規模芯片調試的調試信息存取方法及裝置，包括：根據用戶的需求量配置信息確定存儲資源；若需求量配置信息為低需求量配置信息，則僅通過片上存儲資源實現對調試信息的存取；若需求量配置信息為高需求量配置信息，則通過片上存儲資源和...
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