測試用例處理方法和裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及一種測試用例處理方法和裝置，該測試用例處理方法包括：獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。本發明專利技術提供的測試用例處理方法和裝置，可實現測試用例精簡。

Test case processing method and device

The invention relates to a test case processing method and device, including the test case processing method: obtaining the test case identification set and tested function identifier set; for identifying each test case the test case identification in the collection, for determining the measured function identification test sets the test coverage; case identification identifying test cases set, clustering according to the corresponding relationship between the similarity of test coverage, get more than a subset of the test case identification; according to the test case identification subset from the test case identification set screened some test case identification. The test case processing method and device provided by the invention can simplify the test case.

【技術實現步驟摘要】
測試用例處理方法和裝置
本專利技術涉及計算機
，特別是涉及一種測試用例處理方法和裝置。
技術介紹
測試用例(TestCase)是為測試程序而設計的一組測試輸入、執行條件和預期的結果的數據。測試用例可以設計一個場景，使被測程序在這種場景下運行，以測試程序是否能否滿足設計需求。目前，需要為被測程序設計足夠數量的測試用例，通常全量執行測試用例以保證對被測程序進行充分的測試。在被測程序開發初期，測試用例總量較少，執行全量的測試用例也容易管理。然而，隨著被測程序的開發進展，在每個開發階段會產生新的測試用例，測試用例的數量顯著增加，全量執行測試用例需要消耗大量的時間成本和人力成本，測試效率低。
技術實現思路
基于此，有必要針對目前每次測試需要執行全量測試用例導致測試成本低的問題，提供一種測試用例處理方法和裝置。一種測試用例處理方法，包括：獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。一種測試用例處理裝置，包括：獲取模塊，用于獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；測試覆蓋關系確定模塊，用于對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；聚類模塊，用于將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；測試用例篩選模塊，用于根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。上述測試用例處理方法和裝置，獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合后，確定每個測試用例標識相對于被測函數標識集合的測試覆蓋關系，該測試覆蓋關系反映了該測試用例標識表示的測試用例，對于被測函數標識集合所表示的被測函數的覆蓋情況。利用測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，得到若干測試用例標識子集。根據所述測試用例標識子集篩選出部分測試用例標識，以對測試用例標識集合進行精簡。利用精簡后得到的測試用例標識所對應的測試用例對被測程序進行測試，不僅可以保證測試覆蓋率，還能提高測試效率。附圖說明圖1為一個實施例中測試用例處理方法的應用環境圖；圖2為一個實施例中用于執行測試用例處理方法的電子設備的內部結構示意圖；圖3為一個實施例中測試用例處理方法的流程示意圖；圖4為一個實施例中對于測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對被測函數標識集合的測試覆蓋關系的步驟的流程示意圖；圖5為一個實施例中對于測試用例標識集合中的每個測試用例標識，分別判斷與被測函數標識集合中的每個被測函數標識是否存在測試對應關系的步驟的流程示意圖；圖6為一個實施例中將測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集的步驟的流程示意圖；圖7為一個實施例中將數值化對象按照數值化對象之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的數值化對象聚類簇的步驟的流程示意圖；圖8為一個實施例中輪次將每個數值化對象聚類簇按照數值化對象之間的相似度劃分為兩個候選聚類簇，得到每個候選聚類簇的聚類中心的步驟的流程示意圖；圖9為一個具體應用場景中測試用例處理方法的流程示意圖；圖10為一個實施例中測試用例處理裝置的結構框圖。具體實施方式為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。圖1為一個實施例中測試用例處理方法的應用環境圖。參照圖1，該測試用例處理方法可應用于服務器110。服務器110具體可獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；對于測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對被測函數標識集合的測試覆蓋關系；將測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；根據測試用例標識子集，從測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。服務器110可將篩選出的部分測試用例標識推薦至終端120，或者可以將篩選出的部分測試用例標識所對應的測試用例推薦至終端120。通過網絡連接的服務器110和終端120可構成一種測試用例推薦系統?？梢岳斫獾氖?，測試用例處理方法可應用于一種獨立的電子設備，該電子設備可在篩選出部分測試用例標識后，根據該部分測試用例標識所對應的測試用例直接對被測程序進行測試。圖2為一個實施例中電子設備的結構框圖。該電子設備可以是服務器110，該電子設備用于實現一種測試用例處理方法。參照圖2，該電子設備包括通過系統總線連接的處理器、非易失性存儲介質、內存儲器和網絡接口。其中，該電子設備的非易失性存儲介質存儲有操作系統、數據庫和測試用例處理裝置。數據庫中存儲有測試用例標識集合和被測函數標識集合，還可以存儲有測試對應關系集合。測試用例處理裝置用于實現一種測試用例處理方法。該電子設備的處理器用于提供計算和控制能力，支撐整個電子設備的運行。該電子設備的內存儲器為非易失性存儲介質中的測試用例處理裝置的運行提供環境，該內存儲器中可儲存有計算機可讀指令，該計算機可讀指令被處理器執行時，可使得處理器執行一種測試用例處理方法。該服務器的網絡接口用于連接網絡進行通信。電子設備可以是獨立的設備或者是多個電子設備組成的設備集群來實現。本領域技術人員可以理解，圖2中示出的結構，僅僅是與本申請方案相關的部分結構的框圖，并不構成對本申請方案所應用于其上的服務器的限定，具體的服務器可以包括比圖中所示更多或更少的部件，或者組合某些部件，或者具有不同的部件布置。圖3為一個實施例中測試用例處理方法的流程示意圖。本實施例主要以該方法應用于上述圖1中的服務器來舉例說明。參照圖3，該測試用例處理方法包括如下步驟：S302，獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合。其中，測試用例標識集合是測試用例標識構成的集合，測試用例標識用于唯一標識相應的測試用例。被測函數標識集合是被測函數標識構成的集合，被測函數標識用于唯一標識相應的被測函數。被測函數是被測程序的函數，通過調用被測函數可以實現對被測程序的測試。被測函數標識集合可以是全量被測函數標識構成的集合，也可以是從全量被測函數標識中篩選出的部分被測函數標識構成的集合。全量被測函數標識，是指被測程序所有被測函數各自的標識。測試用例標識集合可以是全量測試用例標識構成的集合。S304，對于測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對被測函數標識集合的測試覆蓋關系。其中，測試用例標識相對于被測函數標識集合的測試覆蓋關系，表示該測試用例標識所標識的測試用例，相對于該被測函數標識集合所表示的該被測函數集合的測試覆蓋情況。測試覆蓋關系可以反映相應的測試用例所能夠覆蓋的被測函數。比如，假設某測試用例涉及被測函數集合中的測試用例A和B，不涉及測試用例C，表達的就是該測試用例相對于該被測函數集合的測試覆蓋關系，也就是相應的測試用例標識相對于被測函數標識集合的測試覆蓋關系。S306，將測試用例標識集合中的本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測試用例處理方法，包括：獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。

【技術特征摘要】
1.一種測試用例處理方法，包括：獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系包括：對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，分別判斷與所述被測函數標識集合中的每個被測函數標識是否存在測試對應關系；根據與所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識相應的是否存在測試對應關系的判斷結果，確定與所述每個測試用例標識相應的針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系。3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，分別判斷與所述被測函數標識集合中的每個被測函數標識是否存在測試對應關系包括：獲取測試用例標識和被測函數標識之間的根據歷史測試記錄確定的測試對應關系集合；對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，分別在所述測試對應關系集合中，查詢與所述被測函數標識集合中的每個被測函數標識是否存在測試對應關系。4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識，包括：從每個測試用例標識子集中選擇至少一個測試用例標識，獲得所述測試用例標識集合中的部分測試用例標識。5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集包括：獲取表示每個測試用例標識所對應的所述測試覆蓋關系的數值化對象；將所述數值化對象按照數值化對象之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的數值化對象聚類簇；根據所述數值化對象聚類簇獲得相應的測試用例標識子集。6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述數值化對象為坐標點，所述數值化對象之間的相似度為坐標點之間的歐式距離，所述數值化對象聚類簇為坐標點聚類簇。7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試覆蓋關系，表示相應的測試用例標識與所述被測函數標識集合中的每個被測函數標識是否存在測試對應關系；所述獲取表示每個測試用例標識所對應的所述測試覆蓋關系的數值化對象包括：獲取分別表示每個所述測試覆蓋關系的坐標點，所述坐標點的維度的數量等于所述被測函數標識集合中被測函數標識的數量，且每個維度在相應的被測函數標識與所述坐標點對應的測試用例標識之間存在或者不存在所述測試對應關系時分別取不同的數值。8.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述數值化對象按照數值化對象之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的數值化對象聚類簇包括：將所述數值化對象按照數值化對象之間的相似度劃分為兩個數值化對象聚類簇，得到每個數值化對象聚類簇的聚類中心；當數值化對象聚類簇的總數少于預設數量時，輪次將每個數值化對象聚類簇按照數值化對象之間的相似度劃分為兩個候選聚類簇，得到每個候選聚類簇的聚類中心；根據候選聚類簇和相應的聚類中心，和未劃分的數值化對象聚類簇及相應的聚類中心，計算方差和；將對應最小方差和的候選聚類簇作為本次劃分出的數值化對象聚類簇；當數值化對象聚類簇的總數等于預設數量時，輸出當前所有的數值化對象聚類簇。9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述輪次將每個數值化對象聚類簇按照數值化對象之間的相似度劃分為兩個候選聚類簇，得到每個候選聚類簇的聚類中心包括：輪次在每個數值化對象聚類簇中，隨機選擇兩個數值化對象作為需劃分出的兩個候選聚類簇各自的聚類中心；將當次的數值化對象聚類簇中的數值化對象，歸類到相似度最高的聚類中心所屬的候選聚類簇；計算歸類后每個候選聚類簇的聚類中心；當計算出的聚類中心與當...

【專利技術屬性】
技術研發人員：金朱黎，賀旭，黃晶，宋秀斯，
申請(專利權)人：騰訊科技深圳有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東,44