能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置，包括絕緣底座、金屬臺、測試針、金屬罩、升降支架、標準磁環、絕緣罩、電流互感器和電感測試儀。金屬罩包括下金屬環和上金屬蓋，上金屬蓋的中心設有中心孔，上金屬蓋下表面同軸設有金屬導向套筒，金屬導向套筒底部內表面同軸設有金屬錐形凸臺；上金屬蓋的正上方設有旋轉盤，旋轉盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接；當上金屬蓋下表面與下金屬環上表面相接觸配合時，金屬錐形凸臺與測試針的圓錐部的底部相接觸；旋轉盤能在電機的驅動作用下轉動，電機與電流互感器相連接。本發明專利技術能使金屬罩與測試針緊密接觸配合，從而電感測試精度高，測試方便、快捷。另外，還能延長測試針的使用壽命。
【技術實現步驟摘要】
能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置
本專利技術涉及磁環電感分選裝置，特別是一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置。
技術介紹
小電感金屬磁環，尤其是鎳鋅鐵氧體磁環，單匝電感量單位在nH級別，現有電感測試儀基本不能直接測試；為測試其電感并避免儀表及測試誤差，需繞多圈金屬導線，通常在50圈以上；測試完成后，再將繞線拆除，測試十分不便，費時費力、效率低下，且浪費了大量導線。2012年7月11日公開的第201120445738.0號中國專利技術，揭示了一種環形磁環電感分選工具；該分選工具包括繞有金屬導線的環形磁環、與導線相連的電感測試儀、金屬柱、金屬臺、環形絕緣罩、底座等。該結構基本能夠完成小電感環形磁環的電感分選，但在使用中，因金屬罩高度高，重量重，每次測試需將金屬罩從金屬柱上取下、放回操作；長時間測試后，測試者手會感覺酸痛、腫脹。另外，金屬罩閉合時，會來回摩擦繞在磁環上的金屬導線，使絕緣層脫落，需經常更換并重新繞制金屬導線，使用不便。2013年4月25日公開的申請號為201310149474.8的中國專利技術專利申請，其專利技術創造的名稱為一種小電感環形磁芯電感分選工具，包括金屬底座、繞有金屬導線的磁環、電感測試儀、金屬柱，所述磁環為磁場源，所述金屬柱、金屬罩、無蓋金屬盒相接觸，共同構成閉合磁通路；無蓋金屬盒與環形絕緣蓋相配合，金屬罩與環形絕緣蓋活動配合，所述金屬柱從上之下依次穿過金屬罩、環形絕緣蓋、磁環與無蓋金屬盒；無蓋金屬盒側邊開有孔，允許磁環上繞制的金屬導線穿過。201310149474.8專利申請基本解決了201120445738.0中所存在的技術問題，然而兩個專利申請，均存在如下技術問題，有待進行解決：為使金屬罩能順利套裝進金屬中，故金屬罩上的孔洞直徑大于金屬柱的外徑，因而，當金屬罩蓋合后，金屬罩與金屬柱之間具有間隙，因而電感測試頻繁跳動，不穩定，需要人為左右晃動金屬罩，使金屬罩與金屬柱相接觸，故測試繁瑣，誤差大，測試精度差。另外，金屬罩左右晃動過程中，會對金屬柱來回多次撞擊，從而金屬柱磨損快，使用壽命短。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題是針對上述現有技術的不足，而提供一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置，該能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置當金屬罩與金屬臺相蓋合后，能使金屬罩與測試針緊密接觸配合，從而電感測試精度高，測試方便、快捷。另外，還能延長測試針的使用壽命。為解決上述技術問題，本專利技術采用的技術方案是：一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置，包括絕緣底座、金屬臺、測試針、金屬罩、升降支架、標準磁環、絕緣罩、電流互感器和電感測試儀。金屬臺放置在絕緣底座上。測試針為金屬材料制成，測試針包括一體同軸設置的圓柱部和圓錐部，圓錐部位于圓柱部頂端。圓柱部底端與金屬臺固定連接，圓柱部從下至上依次穿過標準磁環和絕緣罩；標準磁環作為磁場源，標準磁環外周纏繞有金屬線，并通過金屬線與電感測試儀相連接。金屬罩包括同軸設置的下金屬環和上金屬蓋，下金屬環同軸套設在絕緣罩的外周，下金屬環底部與金屬臺固定連接。上金屬蓋的中心設置有中心孔，上金屬蓋下表面同軸設置有金屬導向套筒，金屬導向套筒底部內表面同軸設置有金屬錐形凸臺。上金屬蓋的正上方設置有旋轉盤，旋轉盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接，旋轉盤頂端通過升降支架與絕緣底座固定連接，旋轉盤及上金屬蓋能在升降支架的帶動下進行升降；上金屬蓋在高度下降過程中，測試針的圓錐部依次從金屬錐形凸臺、金屬導向套筒和上金屬蓋的中心孔穿過，當上金屬蓋下表面與下金屬環上表面相接觸配合時，金屬錐形凸臺與測試針的圓錐部的底部相接觸。旋轉盤能在電機的驅動作用下轉動，電機與電流互感器相連接。所述升降支架上設置有能檢測升降支架升降位移的位移傳感器。所述下金屬環的上表面設置有與上金屬蓋下表面相配合的環形凹槽。所述標準磁環與測試針的圓柱部之間設置有絕緣填充物。所述金屬臺上設置有能使標準磁環外周纏繞的金屬線穿過的穿線孔。本專利技術采用上述結構后，當金屬罩與金屬臺相蓋合后，能使金屬罩與測試針緊密接觸配合，從而電感測試精度高，測試方便、快捷。另外，還能延長測試針的使用壽命。附圖說明圖1顯示了本專利技術一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置的結構示意圖。其中有：1.絕緣底座；2.金屬臺；3.測試針；31.圓柱部；32.圓錐部；41.上金屬蓋；411.中心孔；412.金屬導向套筒；413.金屬錐形凸臺；42.下金屬環；421.環形凹槽；5.升降支架；51.升降橫桿；511.位移傳感器；52.水平橫桿；53.連接軸；6.旋轉盤；61.電機；62.電流互感器；63.絕緣連桿；7.標準磁環；71.絕緣填充物；72.金屬線；8.絕緣罩；9.電感測試儀；10.待測磁環。具體實施方式下面結合附圖和具體較佳實施方式對本專利技術作進一步詳細的說明。如圖1所示，一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置，包括絕緣底座1、金屬臺2、測試針3、金屬罩、升降支架5、旋轉盤6、標準磁環7、絕緣罩8、電流互感器62和電感測試儀9。金屬臺放置在絕緣底座上。測試針為金屬材料制成，測試針包括一體同軸設置的圓柱部和圓錐部，圓錐部位于圓柱部頂端。圓柱部底端與金屬臺固定連接，優選為可拆卸連接，測試針可更換。圓柱部從下至上依次穿過標準磁環和絕緣罩。標準磁環作為磁場源，標準磁環外周纏繞有金屬線，并通過金屬線與電感測試儀相連接。進一步，上述標準磁環與測試針的圓柱部之間優選設置有絕緣填充物，因而能防止標準磁環晃動，電感測試更為準確。金屬臺上優選設置有能使標準磁環外周纏繞的金屬線穿過的穿線孔，因而能避免金屬線的磨損。金屬罩包括同軸設置的下金屬環和上金屬蓋，下金屬環同軸套設在絕緣罩的外周，下金屬環底部與金屬臺固定連接。上金屬蓋的中心設置有中心孔411，上金屬蓋下表面同軸設置有金屬導向套筒412，金屬導向套筒底部內表面同軸設置有金屬錐形凸臺413。上金屬蓋的正上方設置有旋轉盤6，旋轉盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接，旋轉盤頂端通過升降支架與絕緣底座固定連接，旋轉盤及上金屬蓋能在升降支架的帶動下進行升降。旋轉盤能在電機61的驅動作用下轉動，電機與電流互感器相連接。上述升降支架5優選包括升降豎桿51和水平橫桿53，升降豎桿的高度能夠升降，升降豎桿內優選設置有能檢測升降支架升降位移的位移傳感器511。水平橫桿的底部優選設置有連接軸53和電機。旋轉盤優選通過軸承套裝在連接軸53的外周，旋轉盤的外周優選設置有齒輪，該齒輪與電機齒輪相嚙合。上金屬蓋在高度下降過程中，測試針的圓錐部依次從金屬錐形凸臺、金屬導向套筒和上金屬蓋的中心孔穿過，當上金屬蓋下表面與下金屬環上表面相接觸配合時，金屬錐形凸臺與測試針的圓錐部的底部相接觸。進一步，上述下金屬環的上表面優選設置有與上金屬蓋下表面相配合的環形凹槽，從而能對上金屬蓋進行限位。一種金屬磁環小電感檢測方法，包括以下步驟。步驟1，標準磁環電感測試：標準磁環套設在位于絕緣蓋和金屬臺之間的測試針的圓柱部上，纏繞在標準磁環上的金屬線優選從金屬臺中穿出后與電感測試儀相連接，上金屬蓋蓋合在下金屬環上；此時，電感測試儀顯示電感讀數為初始電感。步驟2，待測磁環放置：上金屬蓋高度上本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置，其特征在于：包括絕緣底座、金屬臺、測試針、金屬罩、升降支架、標準磁環、絕緣罩、電流互感器和電感測試儀；金屬臺放置在絕緣底座上；測試針為金屬材料制成，測試針包括一體同軸設置的圓柱部和圓錐部，圓錐部位于圓柱部頂端；圓柱部底端與金屬臺固定連接，圓柱部從下至上依次穿過標準磁環和絕緣罩；標準磁環作為磁場源，標準磁環外周纏繞有金屬線，并通過金屬線與電感測試儀相連接；金屬罩包括同軸設置的下金屬環和上金屬蓋，下金屬環同軸套設在絕緣罩的外周，下金屬環底部與金屬臺固定連接；上金屬蓋的中心設置有中心孔，上金屬蓋下表面同軸設置有金屬導向套筒，金屬導向套筒底部內表面同軸設置有金屬錐形凸臺；上金屬蓋的正上方設置有旋轉盤，旋轉盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接，旋轉盤頂端通過升降支架與絕緣底座固定連接，旋轉盤及上金屬蓋能在升降支架的帶動下進行升降；上金屬蓋在高度下降過程中，測試針的圓錐部依次從金屬錐形凸臺、金屬導向套筒和上金屬蓋的中心孔穿過，當上金屬蓋下表面與下金屬環上表面相接觸配合時，金屬錐形凸臺與測試針的圓錐部的底部相接觸；旋轉盤能在電機的驅動作用下轉動，電機與電流互感器相連接。...
【技術特征摘要】
1.一種能延長測試針使用壽命的小電感金屬磁環電感分選裝置，其特征在于：包括絕緣底座、金屬臺、測試針、金屬罩、升降支架、標準磁環、絕緣罩、電流互感器和電感測試儀；金屬臺放置在絕緣底座上；測試針為金屬材料制成，測試針包括一體同軸設置的圓柱部和圓錐部，圓錐部位于圓柱部頂端；圓柱部底端與金屬臺固定連接，圓柱部從下至上依次穿過標準磁環和絕緣罩；標準磁環作為磁場源，標準磁環外周纏繞有金屬線，并通過金屬線與電感測試儀相連接；金屬罩包括同軸設置的下金屬環和上金屬蓋，下金屬環同軸套設在絕緣罩的外周，下金屬環底部與金屬臺固定連接；上金屬蓋的中心設置有中心孔，上金屬蓋下表面同軸設置有金屬導向套筒，金屬導向套筒底部內表面同軸設置有金屬錐形凸臺；上金屬蓋的正上方設置有旋轉盤，旋轉盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接，旋轉盤頂端通過升降支架與絕緣底座固定連接，旋轉盤及上金屬蓋能在升降支架的帶動下進行升降；上金屬蓋在高...
【專利技術屬性】
技術研發人員：馬峻，薛松，
申請(專利權)人：蘇州亞思科精密數控有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇,32
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