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    一種相控陣天線陣元幅相校正系統技術方案

    技術編號:15706036 閱讀:205 留言:0更新日期:2017-06-26 17:16
    本發明專利技術屬于電子控制領域,具體涉及一種相控陣天線陣元幅相校正系統,包括微波點源、待校下相控陣天線、射頻接收機、校正模塊;其中,微波點源位于待校下相控陣天線遠場處;待校下相控陣天線通過射頻接收機與校正模塊相連;校正模塊包括中頻采樣模塊、A/D轉換模塊、數字信號處理模塊、輸出模塊;射頻接收機單向連接中頻采樣模塊;中頻采樣模塊、A/D轉換模塊、數字信號處理模塊、輸出模塊均依次單向連接;本發明專利技術通過在待校下相控陣天線的遠場上放置微波點源,使微波入射方向為垂直入射待校下相控陣天線,從而利用陣元誤差引起的微波入射方向的偏差來進行陣元幅相校正,另外校正模塊的設置,降低了陣列數據量,使得計算量大為減少。

    Array element amplitude phase correction system for phased array antenna

    The invention belongs to the field of electronic control, in particular to a phased array antenna array gain and phase calibration system, including microwave source, for correction of phased array antenna, RF receiver, calibration module; among them, the school phased array antenna far field microwave source is located; to school next phased array antenna RF receiver and correction module connected by; the correction module including intermediate frequency sampling module, A/D conversion module, digital signal processing module, output module; RF receiver one-way connection if sampling module; if sampling module, A/D conversion module, digital signal processing module and output module are sequentially connected by one-way; the invention in the school under the phased array antenna in far field place the microwave source point, the incident direction is perpendicular to the incident microwave to be corrected under the phased array antenna, microwave incident direction of array error caused by it In addition, the amplitude and phase correction of the array element is made. Besides, the setting of the correction module reduces the amount of array data so as to greatly reduce the computational complexity.

    【技術實現步驟摘要】
    一種相控陣天線陣元幅相校正系統
    本專利技術屬于電子控制領域,具體涉及一種相控陣天線陣元幅相校正系統。
    技術介紹
    現如今,在電子、通信、雷達、聲吶等研究領域行業內,經常將有質量問題退換回來的產品,通過內部人員送到維修點維修,這在行業內成為DOA,而DOA定位技術原理就是利用接收機處的陣列天線和波達方向估計技術來確定一個從接收機到信源的波達方向線,即為方向線,最后利用多個接收機估計的DOA進行解度測量,方向線的交點就是信源的估計位置。目前在實際的工程中,DOA估計算法往往很難達到其理論的算法性能,除了噪聲等不可避免的干擾因素等,很大的一個原因是由于陣列本身存在誤差。在工程應用當中,多數時候都是默認陣列的誤差與信號和入射方向無關,但實際幾乎所有陣元誤差都與入射方向有關,同時由于陣列數據量大,導致計算量劇增,在工程上更加難以實現,同時也有提出采用輔助陣元的方法進行校正,但輔助陣元本身要求自身是得到過精準的校正,且對材料要求極高(要求各向同性),因而也不易實現。
    技術實現思路
    本專利技術的目的是克服現有技術的上述缺點,提供一種相控陣天線陣元幅相校正系統。為了實現上述目的,本專利技術所采用的技術方案是:一種相控陣天線陣元幅相校正系統,包括微波點源、待校下相控陣天線、射頻接收機、校正模塊;其中,所述微波點源位于待校下相控陣天線遠場處;所述待校下相控陣天線通過射頻接收機與校正模塊相連;所述校正模塊包括中頻采樣模塊、A/D轉換模塊、數字信號處理模塊、輸出模塊;所述射頻接收機單向連接中頻采樣模塊;所述中頻采樣模塊、A/D轉換模塊、數字信號處理模塊、輸出模塊均依次單向連接。上述一種相控陣天線陣元幅相校正系統,所述微波點源可使待校下相控陣天線的入射波在工程上認為是平面波,且微波的入射方向為垂直入射待校下相控陣天線。上述一種相控陣天線陣元幅相校正系統,所述射頻接收機將信號從下變頻變換成中頻信號。上述一種相控陣天線陣元幅相校正系統,所述校正模塊設置于微波暗室中。上述一種相控陣天線陣元幅相校正系統,所述數字信號處理模塊由陣元幅相計算模塊和歸一化計算模塊構成,且陣元幅相計算模塊和歸一化計算模塊單向連接。本專利技術的有益效果:本專利技術通過在待校下相控陣天線的遠場上放置一個微波點源,使得微波的入射方向為垂直入射待校下相控陣天線,從而利用陣元誤差引起的微波入射方向的偏差來進行陣元幅相校正,另外校正模塊的設置,降低了陣列數據量,使得計算量大為減少。附圖說明下面通過附圖并結合實施例具體描述本專利技術,本專利技術的優點和實現方式將會更加明顯,其中附圖所示內容僅用于對本專利技術的解釋說明,而不構成對本專利技術的任何意義上的限制。圖1是本專利技術一種相控陣天線陣元幅相校正系統的結構示意圖;附圖標記說明:1、微波點源;2、待校下相控陣天線;3、射頻接收機;4、校正模塊;5、中頻采樣模塊;6、A/D轉換模塊;7、數字信號處理模塊;8、輸出模塊。具體實施方式下面對本專利技術的實施例作詳細說明:本實施例在以本專利技術技術方案為前提下進行實施,給出了詳細的實施方式和具體的操作過程。應當指出的是,對本領域的普通技術人員來說,在不脫離本專利技術構思的前提下,還可以做出若干變型和改進,這些都屬于本專利技術保護范圍。如圖1所示,一種相控陣天線陣元幅相校正系統,包括微波點源1、待校下相控陣天線2、射頻接收機3、校正模塊4;其中,所述微波點源1位于待校下相控陣天線2遠場處;所述待校下相控陣天線2通過射頻接收機3與校正模塊4相連;所述校正模塊4包括中頻采樣模塊5、A/D轉換模塊6、數字信號處理模塊7、輸出模塊8;所述射頻接收機3單向連接中頻采樣模塊5;所述中頻采樣模塊5、A/D轉換模塊6、數字信號處理模塊7、輸出模塊8均依次單向連接。進一步地,所述微波點源1可使待校下相控陣天線2的入射波在工程上認為是平面波,且微波的入射方向為垂直入射待校下相控陣天線2。進一步地,所述射頻接收機3將信號從下變頻變換成中頻信號。進一步地,所述校正模塊4設置于微波暗室中。進一步地,所述數字信號處理模塊7由陣元幅相計算模塊和歸一化計算模塊構成,且陣元幅相計算模塊和歸一化計算模塊單向連接。本專利技術的工作原理:在待校下相控陣天線2的遠場上放置一個微波點源1,使待校下相控陣天線2的入射波在工程上認為是平面波,且微波的入射方向為垂直入射待校下相控陣天線2,待校下相控陣天線2將接收到的微波信號經過射頻接收機3下變頻到中頻信號,通過中頻采樣模塊5將各個陣元接收到的信號通過A/D轉換模塊6進行數字化,隨后通過數字信號處理模塊7中的陣元幅相計算模塊和歸一化計算模塊,進行陣元幅相計算,并選取某個陣元作為基準陣元,將其它陣元進行歸一化計算。最后通過計算彌補歸一化結果差值,得出校正參數,并通過輸出模塊8輸出,為待校下相控陣天線2提供校正參數。另,校正模塊4在微波暗室中進行工作。以上所述為本專利技術的優選應用范例,并非對本專利技術的限制,凡是根據本專利技術技術要點做出的簡單修改、結構更改變化均屬于本專利技術的保護范圍。本文檔來自技高網...
    一種相控陣天線陣元幅相校正系統

    【技術保護點】
    一種相控陣天線陣元幅相校正系統,其特征在于:包括微波點源(1)、待校下相控陣天線(2)、射頻接收機(3)、校正模塊(4);其中,所述微波點源(1)位于待校下相控陣天線(2)遠場處;所述待校下相控陣天線(2)通過射頻接收機(3)與校正模塊(4)相連;所述校正模塊(4)包括中頻采樣模塊(5)、A/D轉換模塊(6)、數字信號處理模塊(7)、輸出模塊(8);所述射頻接收機(3)單向連接中頻采樣模塊(5);所述中頻采樣模塊(5)、A/D轉換模塊(6)、數字信號處理模塊(7)、輸出模塊(8)均依次單向連接。

    【技術特征摘要】
    1.一種相控陣天線陣元幅相校正系統,其特征在于:包括微波點源(1)、待校下相控陣天線(2)、射頻接收機(3)、校正模塊(4);其中,所述微波點源(1)位于待校下相控陣天線(2)遠場處;所述待校下相控陣天線(2)通過射頻接收機(3)與校正模塊(4)相連;所述校正模塊(4)包括中頻采樣模塊(5)、A/D轉換模塊(6)、數字信號處理模塊(7)、輸出模塊(8);所述射頻接收機(3)單向連接中頻采樣模塊(5);所述中頻采樣模塊(5)、A/D轉換模塊(6)、數字信號處理模塊(7)、輸出模塊(8)均依次單向連接。2.根據權利要求1所述的一種相控陣天線陣元幅...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:龔成鄧歡歡
    申請(專利權)人:西安富成防務科技有限公司
    類型:發明
    國別省市:陜西,61

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