本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法，包括預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集；根據(jù)第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集；從第一測試用例集中抽取測試用例；刪除與測試用例對(duì)應(yīng)的第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集。在設(shè)計(jì)測試用例之前，首先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡得到第二測試需求集，然后再根據(jù)第二測試需求集設(shè)計(jì)與之對(duì)應(yīng)的第一測試用例集，最后再對(duì)第一測試用例集進(jìn)行精簡得到第二測試用例集，即該方法進(jìn)行了兩次精簡動(dòng)作，精簡度高，進(jìn)而提高了測試效率和降低了測試用例管理復(fù)雜度。另外，本發(fā)明專利技術(shù)還公開了一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，效果如上。
A method, device, device, and storage medium to streamline test cases
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
本專利技術(shù)涉及計(jì)算機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域，特別涉及一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
技術(shù)介紹
在軟件測試過程中，盡管已經(jīng)完全地覆蓋了所有的測試需求，但是仍然會(huì)存在大量冗余的測試用例。冗余是指多余的重復(fù)或啰嗦內(nèi)容(包括信息、語言、代碼等)，也就是說存在一些無用的測試用例，在整個(gè)測試過程中并沒有執(zhí)行。如此臃腫的測試用例，會(huì)隨著測試需求的不斷變更或者不斷增加，導(dǎo)致測試用例管理變得復(fù)雜和困難。同時(shí)，測試冗余的測試用例并不能提高軟件產(chǎn)品的質(zhì)量，反而會(huì)降低測試效率。目前在設(shè)計(jì)測試用例之前，一般都是先確定測試需求集R，假設(shè)R＝{r1，r2，...，rm}，然后再針對(duì)測試需求集R設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的測試用例集T，假設(shè)T＝{t1，t2，...，tn}，一般來說，n＞m，即表示一條測試需求會(huì)產(chǎn)生至少一個(gè)測試用例，然后再對(duì)T進(jìn)行精簡得到T’＝{t1’，t2’，...，tk’}，一般k＜n。傳統(tǒng)的測試用例集精簡方法是每次從集合T中抽取一個(gè)測試用例，使之能夠覆蓋更多的未被滿足的需求，然后從R中刪除這些需求；接著再抽取另一個(gè)測試用例做同樣的操作，直到R中不再有需求，即可停止抽取測試用例。通過以上抽取出來的所有測試用例就是精簡后的測試用例集T’。但是利用該精簡方法并不能很好的實(shí)現(xiàn)測試用例的精簡，因?yàn)闇y試需求之間往往是存在某些相互關(guān)系的，從而也會(huì)導(dǎo)致測試用例之間存在某些相互關(guān)系，這樣就會(huì)導(dǎo)致精簡度低，進(jìn)而影響測試效率和測試用例管理。由此可見，如何克服由于傳統(tǒng)的測試用例精簡度低而導(dǎo)致的測試效率低和測試用例管理復(fù)雜度高的問題是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中由于傳統(tǒng)的測試用例精簡度低而導(dǎo)致的測試效率低和測試用例管理復(fù)雜度高的問題。為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)提供了一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法，包括：預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集；根據(jù)所述第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集；從所述第一測試用例集中抽取測試用例；刪除與所述測試用例對(duì)應(yīng)的所述第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將所述測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集。優(yōu)選地，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有包含關(guān)系的第一測試需求時(shí)，將所述第一測試需求中信息量最大的測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。優(yōu)選地，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有獨(dú)立關(guān)系的第二測試需求時(shí)，將所有的所述第二測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。優(yōu)選地，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有共通關(guān)系的第三測試需求時(shí)，將所述第三測試需求中共有的信息剔除出來單獨(dú)作為第四測試需求，并將所述第四測試需求和剔除后的測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。優(yōu)選地，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有耦合關(guān)系的第五測試需求時(shí)，將所述第五測試需求合并為一個(gè)測試需求，并將合并后的測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。優(yōu)選地，在所述將所述測試用例存儲(chǔ)于第二測試用例集之后，還包括：判斷所述第二測試需求集中是否還存在有測試需求；如果是，則進(jìn)入所述從所述第一測試用例集中抽取測試用例的步驟；如果否，則停止抽取所述測試用例。優(yōu)選地，在所述從所述第一測試用例集中抽取測試用例之后，還包括：判斷在所述第二測試需求集中是否存在所述目標(biāo)測試需求；如果是，則進(jìn)入所述刪除與所述測試用例對(duì)應(yīng)的所述第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將所述測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集的步驟；如果否，則將當(dāng)前抽取的測試用例舍棄。為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)還提供了一種與對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法對(duì)應(yīng)的裝置，包括：精簡模塊，用于預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集；設(shè)計(jì)模塊，用于根據(jù)所述第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集；抽取模塊，用于從所述第一測試用例集中抽取測試用例；刪除模塊，用于刪除與所述測試用例對(duì)應(yīng)的所述第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將所述測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集。為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)還提供了一種與對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法對(duì)應(yīng)的設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；處理器，用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序以實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法的步驟。為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)還提供了一種與對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法對(duì)應(yīng)的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法的步驟。相比于現(xiàn)有技術(shù)，本專利技術(shù)所提供的一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法，包括預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集；根據(jù)第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集；從第一測試用例集中抽取測試用例；刪除與測試用例對(duì)應(yīng)的第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集。由此可見，該方法在設(shè)計(jì)測試用例之前，首先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡得到第二測試需求集，即第二測試需求集是精簡后的測試需求集，然后再根據(jù)精簡后的第二測試需求集設(shè)計(jì)與之對(duì)應(yīng)的第一測試用例集，最后再對(duì)第一測試用例集進(jìn)行精簡得到第二測試用例集，即該方法進(jìn)行了兩次精簡動(dòng)作，與傳統(tǒng)的直接對(duì)測試用例集進(jìn)行一次精簡相比，可以避免因?yàn)闇y試需求之間存在的某些相互關(guān)系，而導(dǎo)致的精簡度低的問題，所以本專利技術(shù)所提供的方法精簡度高，進(jìn)而可以提高測試效率和降低測試用例管理復(fù)雜度。另外，本專利技術(shù)還提供了一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，效果如上。附圖說明圖1為本專利技術(shù)實(shí)施例所提供的一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法流程圖；圖2為本專利技術(shù)實(shí)施例所提供的一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的裝置組成示意圖；圖3為本專利技術(shù)實(shí)施例所提供的一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的設(shè)備組成示意圖。具體實(shí)施方式下面將結(jié)合本申請(qǐng)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本專利技術(shù)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本專利技術(shù)保護(hù)的范圍。本專利技術(shù)的核心是提供一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，可以解決由于傳統(tǒng)的測試用例精簡度低而導(dǎo)致的測試效率低和測試用例管理復(fù)雜度高的問題。為了使本
的人員更好地理解本專利技術(shù)的方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本專利技術(shù)作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。圖1為本專利技術(shù)實(shí)施例所提供的一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法流程圖，如圖1所示，包括：S101：預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集。在確定出第一測試需求集之后，首先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡，得到第二測試需求集，即第二測試需求集與第一測試需求集相比冗余度低。S102：根據(jù)第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集。當(dāng)?shù)玫骄喓蟮牡诙y試需求集之后，再根據(jù)第二測試需求集設(shè)計(jì)出與之對(duì)應(yīng)的第一測試用例集。S103：從第一測試用例集中抽取測試用例。S104：刪除與測試用例對(duì)應(yīng)的第二測試需求集中的本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法，其特征在于，包括：預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集；根據(jù)所述第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集；從所述第一測試用例集中抽取測試用例；刪除與所述測試用例對(duì)應(yīng)的所述第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將所述測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種對(duì)測試用例進(jìn)行精簡的方法，其特征在于，包括：預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集；根據(jù)所述第二測試需求集設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的第一測試用例集；從所述第一測試用例集中抽取測試用例；刪除與所述測試用例對(duì)應(yīng)的所述第二測試需求集中的目標(biāo)測試需求，并將所述測試用例存儲(chǔ)至第二測試用例集。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有包含關(guān)系的第一測試需求時(shí)，將所述第一測試需求中信息量最大的測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有獨(dú)立關(guān)系的第二測試需求時(shí)，將所有的所述第二測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有共通關(guān)系的第三測試需求時(shí)，將所述第三測試需求中共有的信息剔除出來單獨(dú)作為第四測試需求，并將所述第四測試需求和剔除后的測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測試需求集。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)先對(duì)第一測試需求集進(jìn)行精簡以得到第二測試需求集具體為：當(dāng)所述第一測試需求集中存在有耦合關(guān)系的第五測試需求時(shí)，將所述第五測試需求合并為一個(gè)測試需求，并將合并后的測試需求進(jìn)行存儲(chǔ)以得到所述第二測...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：尤海亮，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：鄭州云海信息技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：河南,41
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