基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法及裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術實施例提供了一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法及裝置，該方法包括：對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集

A Method and Device for Evaluating Data Geometric Positioning Accuracy Based on Gauss Probability Statistics

The embodiment of the present invention provides a method and device for evaluating data geometric positioning accuracy based on Gauss probability statistics. The method includes: Sampling the known geometric positioning accuracy data B and the estimated geometric positioning accuracy data C at the same name to form the corresponding data set.

【技術實現步驟摘要】
基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法及裝置
本專利技術涉及遙感影像
，尤其涉及一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法及裝置。
技術介紹
隨著衛星遙感技術的發展，遙感的應用也是越來越廣泛，各種功能越來越齊全。但是，要保證遙感產品數據能夠真實反映地面的真實情況，就必須對其遙感圖像的真實性進行檢驗。目前，對遙感圖像的真實性進行檢驗的一個手段是準確地得到遙感圖像的精度。例如，在遙感影像的很多具體應用中，要求的配準精度很高，如遙感信息融合、資源變化測量、圖像鑲嵌等。現有技術中對于遙感圖像精度檢測時，一般都是通過與高精度圖像的比對分析，實現對低精度圖像的精度識別。而對于未知精度的高精度圖像，目前還沒有相關技術能夠實現對高精度圖像的精度評估。
技術實現思路
鑒于上述問題，提出了本專利技術以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法及裝置。本專利技術的一個方面提供了一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法，包括：對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及所述已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度其中，所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差服從高斯分布。其中，所述對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集包括：分別對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C中位置相同的若干個坐標點進行坐標數據采樣；其中，yi、zi為同名采樣點，yi表示數據集中采樣點的坐標數據，zi表示數據集中與yi對應的同名采樣點的坐標數據。其中，所述根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差包括：計算數據集與數據集中各個同名采樣點的坐標數據的均方差，將得到的均方差值作為所述相對誤差其中，所述根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及所述已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度包括：根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差利用誤差估計模型估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度所述誤差估計模型如下：本專利技術的另一方面，還提供了一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估裝置，包括：采樣模塊，用于對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集計算模塊，用于根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差預測模塊，用于根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及所述已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度其中，所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差服從高斯分布。其中，所述采樣模塊，具體用于分別對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C中位置相同的若干個坐標點進行坐標數據采樣；其中，yi、zi為同名采樣點，yi表示數據集中采樣點的坐標數據，zi表示數據集中與yi對應的同名采樣點的坐標數據。其中，所述計算模塊，具體用于計算數據集與數據集中各個同名采樣點的坐標數據的均方差，將得到的均方差值作為所述相對誤差其中，所述預測模塊，具體用于根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差利用誤差估計模型估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度所述誤差估計模型如下：本專利技術實施例提供的基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法及裝置，通過計算待估計幾何定位精度數據C相對于已知幾何定位精度數據B的相對誤差并根據待估計幾何定位精度數據C相對于已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值對待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度行估計。本專利技術實現了利用已知幾何定位精度數據對未知幾何定位精度數據基于統計概率描述的幾何定位精度評估。上述說明僅是本專利技術技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本專利技術的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本專利技術的上述和其它目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉本專利技術的具體實施方式。附圖說明通過閱讀下文優選實施方式的詳細描述，各種其他的優點和益處對于本領域普通技術人員將變得清楚明了。附圖僅用于示出優選實施方式的目的，而并不認為是對本專利技術的限制。而且在整個附圖中，用相同的參考符號表示相同的部件。在附圖中：圖1為本專利技術實施例的一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法的流程圖；圖2為本專利技術實施例的一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估裝置的結構框圖。具體實施方式下面將參照附圖更詳細地描述本公開的示例性實施例。雖然附圖中顯示了本公開的示例性實施例，然而應當理解，可以以各種形式實現本公開而不應被這里闡述的實施例所限制。相反，提供這些實施例是為了能夠更透徹地理解本公開，并且能夠將本公開的范圍完整的傳達給本領域的技術人員。本
技術人員可以理解，除非另外定義，這里使用的所有術語(包括技術術語和科學術語)，具有與本專利技術所屬領域中的普通技術人員的一般理解相同的意義。還應該理解的是，諸如通用字典中定義的那些術語，應該被理解為具有與現有技術的上下文中的意義一致的意義，并且除非被特定定義，否則不會用理想化或過于正式的含義來解釋。圖1為本專利技術實施例的一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法的流程圖。參照圖1，本專利技術實施例提供的基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法，具體包括以下步驟：S11，對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集本實施例中，對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣為隨機采樣，根據大數定理，當數據量足夠大時，出現的隨機誤差有高斯統計特性。本實施例中，步驟S11具體實現如下：分別對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C中位置相同的若干個坐標點進行坐標數據采樣；其中，yi、zi為同名采樣點，yi表示數據集中采樣點的坐標數據，zi表示數據集中與yi對應的同名采樣點的坐標數據。S12，根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差在本專利技術實施例中，所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差服從高斯分布。具體的，步驟S12中的根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差具體包括以下步驟：計算數據集與數據集中各個同名采樣點的坐標數據的均方差，將得到的均方差值作為所述相對誤差S13，根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及所述已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度本實施例中，步驟S13中的根據本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法，其特征在于，包括：對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集

【技術特征摘要】
2018.01.19 CN 20181005452321.一種基于高斯概率統計的數據幾何定位精度評估方法，其特征在于，包括：對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及所述已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值估計所述待估計幾何定位精度數據C的幾何定位精度2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差服從高斯分布。3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C進行同名點采樣，形成對應的數據集包括：分別對已知幾何定位精度數據B和待估計幾何定位精度數據C中位置相同的若干個坐標點進行坐標數據采樣；其中，yi、zi為同名采樣點，yi表示數據集中采樣點的坐標數據，zi表示數據集中與yi對應的同名采樣點的坐標數據。4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據數據集計算所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差包括：計算數據集與數據集中各個同名采樣點的坐標數據的均方差，將得到的均方差值作為所述相對誤差5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述待估計幾何定位精度數據C相對于所述已知幾何定位精度數據B的相對誤差以及所述已知幾何定位精度數據B的幾何定位精度值估計所述待估計幾何定位精度數據...

【專利技術屬性】
技術研發人員：趙俊保，康利鴻，蔡琳，張一鳴，時春雨，谷冰，許徽，馬璐，馬楠，于瑤瑤，
申請(專利權)人：北京市遙感信息研究所，
類型：發明
國別省市：北京,11