一種FLASH芯片的測試系統及測試方法技術方案

本發明專利技術公開了一種FLASH芯片的測試系統及測試方法，測試方法包括：子服務器通過交換機與所述主服務器建立連接；子服務器獲取主服務器下發的配置參數，將配置參數轉發至測試機臺；測試機臺根據配置參數執行對應的配置操作，并將執行結果反饋至子服務器；子服務器將測試機臺反饋的執行結果轉發至主服務器。本發明專利技術實施例通過一個PC端的服務器來管理多個生產設備，同時每個生產設備也可以根據需要自己配置參數，這樣NAND flash產品的生產工廠可根據需要，選擇集中或單獨管理設備的生產，通過軟件實現NANDflash的生產和檢測，采用低功耗的處理器芯片+DRAM+EMMC實現，多個單位整合成一臺設備，降低耗電和發熱。

【技術實現步驟摘要】
一種FLASH芯片的測試系統及測試方法
本專利技術涉及半導體器件
，尤其涉及一種FLASH芯片的測試系統及測試方法。
技術介紹
NANDFlash存儲芯片作為半導體元器件中不可或缺的組成部分，隨著大數據、云計算、物聯網等迅猛發展，在內存、消費電子、智能終端等領域均有廣泛運用。然而存儲器芯片在產業應用中必須是和存儲控制芯片配合才能夠組成為最終的產品。不論國內外廠商，則在生產NANDflash模組測試時大都基于以下2種方式：第一種，PC上安裝不同主控廠家的軟件，再通過USB連接上其主控廠家的測試架，先對NANDflash顆粒(TSOP/BGA/LGA等封裝片的形式)進行掃描量產，然后將測試好的NANDflash顆粒通過焊接到PCB上。第二種，先將NANDflash(Dies形式)貼到PCB或者封裝成UDP形式，通過USBHUB裝置連接到PC，再打開PC上對應主控廠家的軟件進行量產。通過以上兩種量產成功后，將產品再次插入USBHUB裝置，打開檢測軟件對產品進行測試，篩選出不合格的。目前這樣的生產方式都是基于PC系統，而PC上USB的總線帶寬已經固定，每次接入的USB設備越多，每個產品的傳輸速度就會降低，導致每臺PC生產和檢測數量不能太多。這樣工廠就會大量增加PC、USBHUB裝置及測試架來提高產能，同樣隨著PC的增加，工廠的耗電以及大量發熱導致的成本增加、工作環境惡劣、社會資源利用率低成為目前需要急迫解決的問題。因此，現有技術還有待于改進和發展。
技術實現思路
r>鑒于上述現有技術的不足，本專利技術的目的在于提供一種FLASH芯片的測試系統及測試方法，旨在解決現有技術中的Flash芯片測試成本大，檢測速度慢的問題。本專利技術的技術方案如下：一種FLASH芯片的測試系統，所述測試系統包括主服務器、交換機、子服務器、測試機臺，所述交換機分別與所述主服務器、所述子服務器連接，所述測試機臺與所述子服務器連接；所述主服務器用于對測試機臺的數據進行遠程配置，以及對生產信息進行處理；所述交換機用于將子服務器與主服務器連接到同一網絡；所述子服務器用于對測試機臺進行管理，將主服務器下發的配置信號轉發至測試機臺，并將測試機臺反饋的反饋信號轉發至主服務器；所述測試機臺包括若干個測試子系統，所述測試子系統用于對FLASH芯片進行測試。可選地，所述測試系統還包括顯示設備，所述顯示設備與所述主服務器連接；所述顯示設備用于所述顯示生產信息。可選地，所述主服務器包括UDP通報單元、條碼管理單元、配置管理單元、子服務器管理單元、結果記錄單元；所述UDP通報單元用于在局域網內通報UDP信息；所述條碼管理單元用于為測試機臺的生產料盤進行編號并管理所述配置管理單元用于對測試機臺的生產參數進行配置，并將配置更新到指定的子服務器上；所述子服務器管理單元用于對子服務器的命名、配置以及生產狀態進行管理；所述結果記錄單元，用于對測試子系統的運行結果進行記錄。可選地，所述主服務器還包括文件傳輸單元，所述文件傳輸單元用于更新配置以及查看子服務器中的測試子系統生成的日志文件。可選地，所述主服務器還包括顯示管理單元，所述顯示管理單元用于顯示子服務器下對應的子系統的生產信息。可選地，所述子服務器包括結果輸出單元、參數配置單元、報警單元、日志管理單元、端口鎖定單元和數據復制單元；所述輸出單元用于將子系統的生產信息輸出到顯示設備；所述參數配置單元用于對子服務器的參數進行配置；所述報警單元用于對料盤放入時的狀態信息進行提醒；所述日志管理單元用于對測試子系統的日志信息進行記錄；所述端口鎖定單元用于對測試子系統進行編號，并使得測試子系統的編號與料盤編號一致；所述數據復制單元，用于將子服務器中配置好的目標數據復制到所述測試子系統中對應的產品。可選地，所述測試子系統包括通信單元、數據轉發單元、測試單元、量產工具；所述通信單元用于與待測試產品進行通信，以及與子服務器進行通信；所述數據轉發單元用于根據協議查看數據不是當前測試子系統使用，則將數據轉發至下一級測試子系統；所述測試單元用于對待測試產品的性能進行測試；所述量產工具用于對待測試產品寫入相應的數據。本專利技術的另一實施例提供了一種基于上述任一項FLASH芯片的測試系統的測試方法，所述方法包括：子服務器通過交換機與所述主服務器建立連接；子服務器獲取主服務器下發的配置參數，將配置參數轉發至測試機臺；測試機臺根據配置參數執行對應的配置操作，并將執行結果反饋至子服務器；子服務器將測試機臺反饋的執行結果轉發至主服務器。本專利技術的另一實施例還提供了一種非易失性計算機可讀存儲介質，所述非易失性計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令，該計算機可執行指令被一個或多個處理器執行時，可使得所述一個或多個處理器執行上述的基于FLASH芯片的測試系統的測試方法。本專利技術的另一種實施例提供了一種計算機程序產品，所述計算機程序產品包括存儲在非易失性計算機可讀存儲介質上的計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，當所述程序指令被處理器執行時，使所述處理器執行上述的基于FLASH芯片的測試系統的測試方法。有益效果：本專利技術公開了一種FLASH芯片的測試系統及測試方法，相比于現有技術，本專利技術實施例通過一個PC端的服務器來管理多個生產設備，同時每個生產設備也可以根據需要自己配置參數，這樣NANDflash產品的生產工廠可根據需要，選擇集中或單獨管理設備的生產，通過軟件實現NANDflash的生產和檢測，采用低功耗的處理器芯片+DRAM+EMMC實現，多個單位整合成一臺設備，降低耗電和發熱。附圖說明下面將結合附圖及實施例對本專利技術作進一步說明，附圖中：圖1為本專利技術一種基于FLASH芯片的測試系統的較佳實施例的硬件結構圖；圖2為本專利技術一種基于FLASH芯片的測試系統的具體實施例的架構示意圖；圖3為本專利技術一種基于FLASH芯片的測試系統的測試方法的較佳實施例的流程圖。具體實施方式為使本專利技術的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下對本專利技術進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。以下結合附圖對本專利技術實施例進行詳細的說明。本專利技術實施例提供了一種基于FLASH芯片的測試系統。請參閱圖1，圖1為本專利技術一種FLASH芯片的測試系統的較佳實施例的結構圖。如圖1所示，測試系統包括主服務器100、交換機200、子服務器300、測試機臺400，交換機200分別與主服務器100、子服務器300連接，測試機臺400與子服務器300連接；主服務器用于對測試機臺的數據進行遠程配置，以及對生產信息進行處理；交換機用于將子服務器與主服務器連接到同一網絡；子本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括主服務器、交換機、子服務器、測試機臺，所述交換機分別與所述主服務器、所述子服務器連接，所述測試機臺與所述子服務器連接；/n所述主服務器用于對測試機臺的數據進行遠程配置，以及對生產信息進行處理；/n所述交換機用于將子服務器與主服務器連接到同一網絡；/n所述子服務器用于對測試機臺進行管理，將主服務器下發的配置信號轉發至測試機臺，并將測試機臺反饋的反饋信號轉發至主服務器；/n所述測試機臺包括若干個測試子系統，所述測試子系統用于對FLASH芯片進行測試。/n

【技術特征摘要】
1.一種FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括主服務器、交換機、子服務器、測試機臺，所述交換機分別與所述主服務器、所述子服務器連接，所述測試機臺與所述子服務器連接；
所述主服務器用于對測試機臺的數據進行遠程配置，以及對生產信息進行處理；
所述交換機用于將子服務器與主服務器連接到同一網絡；
所述子服務器用于對測試機臺進行管理，將主服務器下發的配置信號轉發至測試機臺，并將測試機臺反饋的反饋信號轉發至主服務器；
所述測試機臺包括若干個測試子系統，所述測試子系統用于對FLASH芯片進行測試。


2.根據權利要求1所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括顯示設備，所述顯示設備與所述主服務器連接；
所述顯示設備用于所述顯示生產信息。


3.根據權利要求1所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述主服務器包括UDP通報單元、條碼管理單元、配置管理單元、子服務器管理單元、結果記錄單元；
所述UDP通報單元用于在局域網內通報UDP信息；
所述條碼管理單元用于為測試機臺的生產料盤進行編號并管理
所述配置管理單元用于對測試機臺的生產參數進行配置，并將配置更新到指定的子服務器上；
所述子服務器管理單元用于對子服務器的命名、配置以及生產狀態進行管理；
所述結果記錄單元，用于對測試子系統的運行結果進行記錄。


4.根據權利要求3所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述主服務器還包括文件傳輸單元，
所述文件傳輸單元用于更新配置以及查看子服務器中的測試子系統生成的日志文件。


5.根據權利要求4所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述主服務器還包括顯示管理單元，
所述顯示管理單元用于顯示子服務器下對應的子系統的生產信息。


6.根據權利要求2所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于，所述子服務器包括結果輸出單元、參數配置單元、報警單元...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張輝，胡來勝，張弛，
申請(專利權)人：深圳三地一芯電子有限責任公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44