繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置。對(duì)新型繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀性能和指標(biāo)進(jìn)行校驗(yàn)、調(diào)整的技術(shù)和設(shè)備仍沿用比較落后的傳統(tǒng)方法，體現(xiàn)出：測(cè)試接線復(fù)雜，操作難度大，附加誤差多，工作效率低。本實(shí)用新型專利技術(shù)組成包括：機(jī)箱（１），所述的機(jī)箱（１）中裝有輸出電路（２），所述的機(jī)箱（１）中裝有輸入電路（３），所述的輸入電路（３）與模數(shù)轉(zhuǎn)換器（４）連接，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（４）與微處理器（５）連接，所述的微處理器（５）與顯示器（６）連接，所述的微處理器（５）分別與晶振電路（７）、鍵盤電路（８）連接。本實(shí)用新型專利技術(shù)應(yīng)用于校驗(yàn)、調(diào)整繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀的主要技術(shù)參數(shù)。（*該技術(shù)在2018年保護(hù)過期，可自由使用*）
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及一種用于校驗(yàn)和調(diào)整繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀主要技術(shù)參數(shù)的專用 設(shè)備。技術(shù)背景目前隨著我國電力工業(yè)的迅速發(fā)展，新型繼電保護(hù)裝置特別是微機(jī)保護(hù)的 推廣和應(yīng)用，對(duì)繼電保護(hù)的測(cè)試技術(shù)和測(cè)試儀器提出了更新、更高的要求。涉 及計(jì)算機(jī)、自動(dòng)測(cè)試等先進(jìn)技術(shù)的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀不斷地涌現(xiàn)。然而，對(duì)新型 繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀性能和指標(biāo)進(jìn)行校驗(yàn)、調(diào)整的技術(shù)和設(shè)備仍沿用比較落后的# 統(tǒng)方法，體現(xiàn)出測(cè)試接線復(fù)雜，操作難度大，附加誤差多，工作效率低。為 克服上述的不足之處，我們?cè)O(shè)計(jì)了一種智能化的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)的目的是提供一種測(cè)控技術(shù)先進(jìn)，設(shè)計(jì)思路成熟，便攜鋁合金 箱式結(jié)構(gòu)，具有對(duì)繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀主要技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)和調(diào)整功能的繼電保 護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置。上述的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其組成包括機(jī)箱，所述的機(jī)箱中裝有輸出電 路，所述的機(jī)箱中裝有輸入電路，所述的輸入電路與模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接，所述的 模數(shù)轉(zhuǎn)換器與微處理器連接，所述的微處理器與顯示器連接，所述的微處理器 分別與晶振電路、鍵盤電路連接。所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的輸入電路包括采樣電路和交直流 轉(zhuǎn)換電路，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器為美國INTERSIL公司的ICL7135單片模數(shù)轉(zhuǎn)換 器。所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的微處理器為美國ATMEL公司的 AT89S53單片機(jī)或荷蘭PHILIPS公司80C552單片機(jī)或嵌入式系統(tǒng)。所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的數(shù)據(jù)顯示器采用圖形液晶顯示屏 或高亮度LED數(shù)碼管。所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的晶振電路選用的是長期穩(wěn)定性好的溫度補(bǔ)償晶體振蕩器BT101A。 這個(gè)技術(shù)方案有以下有益效果1、 本技術(shù)是一種完全符合中華人們共和國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL / T624-1977《繼電保護(hù)微機(jī)型實(shí)驗(yàn)裝置技術(shù)條件》要求的新型智能化專用設(shè)備， 其測(cè)控技術(shù)先進(jìn)、設(shè)計(jì)思路成熟、整體結(jié)構(gòu)合理、電磁兼容措施完f、功能強(qiáng)、 穩(wěn)定性抗干擾性好，適用于計(jì)量檢定部門、工礦企業(yè)及科研院所對(duì)各種繼電保 護(hù)實(shí)驗(yàn)儀的主要技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)和調(diào)整。2、 本技術(shù)采用了微處理器，借助其強(qiáng)大的控制數(shù)據(jù)處理功能，使本產(chǎn) 品的應(yīng)用功能擴(kuò)展到40余種可以校驗(yàn)、調(diào)整交流電流(交流電壓)輸出幅 值的可調(diào)范圍、最小可調(diào)步長、分辨力、準(zhǔn)確度、頻率、總諧波畸變率、響應(yīng) 速度、帶負(fù)載能力和輸出時(shí)間；直流電流(直流電壓)輸出幅值的可調(diào)范圍、 最小可調(diào)步長、分辨力、準(zhǔn)確度、紋波系數(shù)、帶負(fù)載能力和輸出時(shí)間；通電時(shí) 間、斷電時(shí)間、重合閘時(shí)間測(cè)量的范圍、分辨力、準(zhǔn)確度等繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀的 主要技術(shù)參數(shù)。 '3、 本技術(shù)采用了高精度交直流轉(zhuǎn)換電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換器ICL7135和帶有 恒溫槽的基準(zhǔn)電壓源LM 199 (溫度漂移士1PPM/ 'C)，確保交、直流電量測(cè) 量的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。本技術(shù)在準(zhǔn)確度方面完全符合DL / T624-1977標(biāo)準(zhǔn) 要求。4、 本技術(shù)采用了BT101A溫度補(bǔ)償晶體振蕩器(長期穩(wěn)定性土1PPM /年)，保證了本產(chǎn)品對(duì)時(shí)間量測(cè)量的準(zhǔn)確度和長期穩(wěn)定性。5、 本技術(shù)顯示采用圖形液晶顯示屏，本產(chǎn)品具有字跡清晰、信息量大 的漢字化人機(jī)界面。 .6、 本技術(shù)應(yīng)用了先進(jìn)的測(cè)控技術(shù)，引入了智能設(shè)計(jì)，使本產(chǎn)品操作簡(jiǎn) 單、使用方便，并實(shí)現(xiàn)了校驗(yàn)過程的自動(dòng)化。7、 本技術(shù)采用了一體化便攜鋁合金箱式外形結(jié)構(gòu)、體積小、重量輕、 特別適合攜帶到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行校驗(yàn)和調(diào)整。附圖說明附圖1是本技術(shù)的整機(jī)電路框圖。附圖2是本技術(shù)的輸入電路原理圖。附圖3是本技術(shù)的模數(shù)轉(zhuǎn)換電路原理圖。附圖4是本技術(shù)的微處理器及顯示電路原理圖。附圖5是本技術(shù)的輸出電路原理圖。附圖6是本技術(shù)的一種機(jī)箱結(jié)構(gòu)示意圖。本技術(shù)的具體實(shí)施方式實(shí)施例l:繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其組成包括機(jī)箱1,所述的機(jī)箱1中裝有輸出電路2，所述的機(jī)箱1中裝有輸入電路3，所述的輸入電路3與模數(shù)轉(zhuǎn)換器4連 接，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器4與微處理器5連接，所述的微處理器5與顯示器6連 接，所述的微處理器5分別與晶振電路7、鍵盤電路8連接。所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用美國INTERSIL公司 的ICL7135單片模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述的輸入電路采用單片交直流轉(zhuǎn)換器。所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的微處理器選用美國ATMEL公司的 AT89S53單片機(jī)。所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的晶振電路采用的是長期穩(wěn)定性好的 溫度補(bǔ)償晶體振蕩器BT101A。 '所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的數(shù)據(jù)顯示器選用圖形液晶顯示屏。 實(shí)施例2:繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其組成包括機(jī)箱1,所述的機(jī)箱1中裝有輸出 電路2，所述的機(jī)箱1中裝有輸入電路3，所述的輸入電路3與模數(shù)轉(zhuǎn)換器4連 接，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器4與微處理器5連接，所述的微處理器5與顯示器6連 接，所述的微處理器5分別與晶振電路7、鍵盤電路8連接。所述繼電保護(hù)測(cè)試儀校驗(yàn)裝置，所述的微處理器也可以選擇帶有內(nèi)部模數(shù) 轉(zhuǎn)換電路的荷蘭PHILIPS公司80C552單片機(jī)或嵌入式系統(tǒng)。所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器也可以采用80C552單片 機(jī)或嵌入式系統(tǒng)內(nèi)部的模數(shù)轉(zhuǎn)換電路和軟件程序來實(shí)現(xiàn)。所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的晶振電路可以采用的是長期穩(wěn)定性好的BT101A溫度補(bǔ)償晶體振蕩器。所述繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，所述的數(shù)據(jù)顯示器也可以選擇高亮度LED 數(shù)碼管。工作原理:結(jié)合附圖1對(duì)本技術(shù)的工作過程作進(jìn)一步描述:被測(cè)信號(hào)經(jīng)輸入電路采樣、交直流轉(zhuǎn)換后接入模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，變?yōu)閿?shù)字信 號(hào)，然后經(jīng)光電耦合器接入微處理器電路進(jìn)行運(yùn)算和處理，微處理器是本實(shí)用 新型的核心部件，經(jīng)微處理器處理、加工后的數(shù)據(jù)或信號(hào)以程序代碼的形式傳 送到顯示電路，由液晶顯示器進(jìn)行漢字化顯示；同時(shí)也送到輸出電路去控制被 校繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀的工作。權(quán)利要求1.一種繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其組成包括機(jī)箱，其特征是所述的機(jī)箱中裝有輸出電路，所述的機(jī)箱中裝有輸入電路，所述的輸入電路與模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器與微處理器連接，所述的微處理器與顯示器連接，所述的微處理器分別與晶振電路、鍵盤電路連接。2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其特征是所述的輸 入電路包括采樣電路和交直流轉(zhuǎn)換電路，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器為美國INTERSIL公 司的ICL7135單片模數(shù)轉(zhuǎn)換器。3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其特征是所述的微處理器為美國ATMEL公司的AT89S53單片機(jī)或荷蘭PHILIPS公司80C552單片 機(jī)或嵌入式系統(tǒng)。4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其特征是所述的數(shù) 據(jù)顯示器采用圖形液晶顯示屏或高亮度LED數(shù)碼管。5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其特征是所述的晶 振電路選用的是長期穩(wěn)定性好的溫度補(bǔ)償晶體振蕩器BT101A。專利摘要繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置。對(duì)新型繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀性能和指標(biāo)進(jìn)行校驗(yàn)、調(diào)整的技術(shù)和設(shè)備仍沿用比較落后的傳統(tǒng)方法，體現(xiàn)出測(cè)試接線復(fù)雜，操作難度大，附加誤差多，工作效率低。本技術(shù)組成包括機(jī)箱(1)，所述的機(jī)箱(1)中裝有輸出電路(2)，所述的機(jī)箱(1)中裝有輸入電路(3)，本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種繼電保護(hù)實(shí)驗(yàn)儀校驗(yàn)裝置，其組成包括：機(jī)箱，其特征是：所述的機(jī)箱中裝有輸出電路，所述的機(jī)箱中裝有輸入電路，所述的輸入電路與模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接，所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器與微處理器連接，所述的微處理器與顯示器連接，所述的微處理器分別與晶振電路、鍵盤電路連接。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：牛濱，龐兵，蘆偉，陳松景，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：哈爾濱理工大學(xué)，
類型：實(shí)用新型
國別省市：93[中國|哈爾濱]
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