【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種微控制器芯片及其調試方法，尤其涉及一種基于聯合測試行動小組(Joint?Test?Action?Group，以下簡稱JTAG)協議進行調試的微控制器芯片及其調試方法，屬于集成電路測試
技術介紹
20世紀80年代以來，隨著計算機嵌入式系統的廣泛應用，微控制器(Micro?Controller?Unit，以下簡稱MCU)，也稱單片機得到了飛速的發展。早期的單片機是按照嵌入式應用技術要求設計的計算機的單芯片化集成電路器件，也就是電子計算機的全部特性器件都集成到一片芯片上，故被形象的稱為單片機。隨著單片機應用范圍的不斷加大，對于其仿真芯片調試功能的要求也逐漸提高。目前單片機廠家大都提供自己的仿真芯片，其芯片仿真器多為外置，大致分為兩種方式：1、由仿真器的仿真頭來完全取代目標板上的CPU進行工作，產生外部電路所需要的信號，同時捕獲外部的所有信號，提供源代碼級調試及處理器運行控制等功能，通過它可以啟動和停止目標系統，查閱和修改寄存器和存儲器，在需要控制或查看內部處理器運行的地方設置斷點，但是隨著處理器的性能和復雜性的飛速發展，這種方式的仿真調試系統提供的時間嚴重滯后于芯片本身的生命周期，而且價格昂貴，可擴展性差，沒有完善的觸發和高速定時或模擬分析功能，對芯片內部更深層次的時序和內部動態運行監控能力差；2、為克服第一種方式的缺陷，目前所采用的另一種方式是將仿真的一部分功能集成到芯片內...
【技術保護點】
一種微控制器芯片，包括彼此相連的中央處理器、調試模塊和調試接口，所述調試模塊包括用于執行調試操作的調試處理單元，所述調試處理單元分別與所述中央處理器和調試接口相連，其特征在于所述調試模塊中還包括：跟蹤單元，與所述中央處理器和調試處理單元分別相連，用于在調試過程中監測到產生跟蹤觸發條件時，記錄與所述跟蹤觸發條件對應的地址信息。
【技術特征摘要】
1、一種微控制器芯片，包括彼此相連的中央處理器、調試模塊和調試接
口，所述調試模塊包括用于執行調試操作的調試處理單元，所述調試處理單
元分別與所述中央處理器和調試接口相連，其特征在于所述調試模塊中還包
括：跟蹤單元，與所述中央處理器和調試處理單元分別相連，用于在調試過
程中監測到產生跟蹤觸發條件時，記錄與所述跟蹤觸發條件對應的地址信息。
2、根據權利要求1所述的微控制器芯片，其特征在于，所述跟蹤單元包
括：
緩沖區，用于存儲所述地址信息，所述緩沖區與所述調試處理單元相連；
類型寄存器，用于記錄各所述跟蹤觸發條件對應所需記錄的地址信息類
型；
狀態寄存器，用于配置所述緩沖區的狀態參數；
指針寄存器，用于記錄所述緩沖區的待存儲地址；
控制寄存器，用于在產生各所述跟蹤觸發條件時，使能控制地址信息的
記錄操作；
控制電路，用于在調試過程中監測到中央處理器中產生跟蹤觸發條件時，
根據所述控制寄存器對應所述跟蹤觸發條件的使能控制和所述類型寄存器記
錄的地址信息類型，從所述中央處理器中讀取所述地址信息，并根據所述狀
態寄存器配置的緩沖區的狀態參數和所述指針寄存器記錄的緩沖區待存儲地
址，將所述地址信息記錄至所述緩沖區，所述控制電路與所述中央處理器、
緩沖區、類型寄存器、狀態寄存器、指針寄存器和控制寄存器相連接。
3、根據權利要求1所述的微控制器芯片，其特征在于：所述調試接口為
JTAG接口。
4、根據權利要求1或2或3所述的微控制器芯片，其特征在于：所述調
試接口包括測試就緒端口，與所述調試處理單元相連，用于標識所述調試處
理單元接收指令或數據的狀態。
5、一種微控制器芯片調試方法，其特征在于包括：在調試過程中，當監
測到產生跟蹤觸發條件時，記錄與所述跟蹤觸發條件對應的地址信息。
6、根據權利要求5所述的微控制器芯片調試方法，其特征在于，在調試
過程中，當監測到產生跟蹤觸發條件時，記錄與所述跟蹤觸發條件對應的地
址信息具體為：
在調試過程中監測到中央處理器中產生跟蹤觸發條件時，根據所述跟蹤
觸發條件對應的使能控制值和所需記錄的地址信息類型，從所述中央處理器
中讀取所述地址信息，并根據所述緩沖區狀態參數以及所述緩沖區的待存儲
地址，將所述地址信息記錄至所述緩沖區。
7、根據權利要求6所述的微控制器芯片調試方法，其特征在于...
【專利技術屬性】
技術研發人員：谷志坤，趙啟山，史衛東，
申請(專利權)人：上海海爾集成電路有限公司，
類型：發明
國別省市：31[中國|上海]
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