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本發(fā)明涉及一種微控制器芯片及其調(diào)試方法，該芯片包括彼此相連的中央處理器、調(diào)試模塊和調(diào)試接口，該調(diào)試模塊包括調(diào)試處理單元，分別與中央處理器和調(diào)試接口相連，還包括跟蹤單元，與中央處理器和調(diào)試處理單元分別相連，用于在調(diào)試過程中監(jiān)測(cè)到產(chǎn)生跟蹤觸發(fā)條...該專利屬于上海海爾集成電路有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過上海海爾集成電路有限公司授權(quán)不得商用。