【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及光盤記錄和重現(xiàn)技術(shù)，更具體地說(shuō)，是涉及一種驗(yàn)證(verifying)可記錄和可重現(xiàn)光盤的缺陷管理區(qū)信息的方法。數(shù)字多功能光盤-隨機(jī)存儲(chǔ)存儲(chǔ)器(DVD-RAM)光盤具有缺陷管理功能，即用正常的可記錄的區(qū)替換有缺陷的區(qū)，并將管理缺陷區(qū)(defective area)所必需的信息存儲(chǔ)在被稱為缺陷管理區(qū)(DMA)的部分。DMA被重復(fù)地記錄在光盤的四個(gè)部分中兩個(gè)部分在導(dǎo)入?yún)^(qū)，兩個(gè)部分在導(dǎo)出區(qū)。DMA信息包括光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PLD)和次缺陷列表(SLD)。DMA信息除了缺陷信息之外，還包括備用區(qū)信息和每一區(qū)域(zone)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)(start logical sector number)的重要信息，而該DMA信息是在光盤初始化時(shí)或在光盤使用中所執(zhí)行的確認(rèn)(certification)中檢測(cè)出來(lái)的。包含在DMA中的某些信息可以被立即讀取和使用。另一方面，DMA包括隨光盤上的位置和缺陷的數(shù)量而變化的信息。即，根據(jù)登記在DMA中的缺陷信息的給定的算法，僅通過(guò)執(zhí)行復(fù)雜的計(jì)算就能獲得例如每一區(qū)域起始邏輯扇區(qū)數(shù)的位置信息或第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置信息的某些信息。因?yàn)檫@種DMA信息與物理數(shù)據(jù)記錄位置密切相關(guān)，所以當(dāng)DMA信息錯(cuò)誤時(shí)，對(duì)其可以在給定的記錄和重現(xiàn)裝置中使用的例如光盤的這種記錄介質(zhì)，即使該光盤上的DMA信息已經(jīng)在另一記錄和重現(xiàn)裝置中生成或更新，也不能與兩種記錄和重現(xiàn)裝置都兼容。為了克服這個(gè)問(wèn)題，需要一種驗(yàn)證記錄和重現(xiàn)裝置從光盤正確地讀取了DMA信息并在光盤上正確地記錄了DMA信息的手段或方法。為解決上述問(wèn)題，本專利技術(shù)的第一個(gè)目的...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種驗(yàn)證在測(cè)試模式下，用于在帶有ＤＭＡ信息的光盤中記錄信息或從帶有ＤＭＡ信息的光盤中重現(xiàn)信息的記錄和重現(xiàn)裝置中執(zhí)行了測(cè)試ＤＭＡ信息生成和更新過(guò)程后，ＤＭＡ信息被正確生成和更新的方法，該方法包括：讀取所生成或更新的ＤＭＡ信息；和通過(guò)使 用預(yù)先設(shè)定的用于測(cè)試模式的參考ＤＭＡ信息，驗(yàn)證生成或更新的ＤＭＡ信息，并提供驗(yàn)證的結(jié)果。
【技術(shù)特征摘要】
KR 2000-4-8 18508/00;US 2000-4-10 60/195,467;US 201．一種驗(yàn)證在測(cè)試模式下，用于在帶有DMA信息的光盤中記錄信息或從帶有DMA信息的光盤中重現(xiàn)信息的記錄和重現(xiàn)裝置中執(zhí)行了測(cè)試DMA信息生成和更新過(guò)程后，DMA信息被正確生成和更新的方法，該方法包括讀取所生成或更新的DMA信息；和通過(guò)使用預(yù)先設(shè)定的用于測(cè)試模式的參考DMA信息，驗(yàn)證生成或更新的DMA信息，并提供驗(yàn)證的結(jié)果。2．如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所生成的或更新的DMA信息以DMA鏡像文件的形式被讀取。3．如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所生成的或更新的DMA信息直接從測(cè)試光盤上的DMA中讀取。4．如權(quán)利要求1所述的方法，其中，測(cè)試模式是第一測(cè)試模式、第二測(cè)試模式、第三測(cè)試模式和第四測(cè)試模式中的一種，第一測(cè)試模式包括確認(rèn)的初始化和沒(méi)有確認(rèn)的初始化，第二測(cè)試模式包括確認(rèn)的再初始化、第二缺陷列表(SDL)轉(zhuǎn)換的再初始化和清除G2列表和SDL的再初始化，第三測(cè)試模式包括驗(yàn)證補(bǔ)充備用區(qū)擴(kuò)展的初始化，第四測(cè)試模式包括驗(yàn)證記錄是否根據(jù)錯(cuò)誤的DMA信息被執(zhí)行。5．如權(quán)利要求4所述的方法，還包括通過(guò)在不含信息的空盤上形成已知的缺陷獲得第一測(cè)試盤，并在第一測(cè)試模式下使用該第一測(cè)試盤；通過(guò)在第一測(cè)試盤上記錄預(yù)定DMA內(nèi)容獲得第二測(cè)試盤，并在第二測(cè)試模式下使用第一鏡像文件，其中DMA信息記錄在第一測(cè)試盤上時(shí)，補(bǔ)充備用區(qū)未滿；通過(guò)在第三測(cè)試模式下，在第一測(cè)試盤上記錄預(yù)定DMA內(nèi)容獲得第三測(cè)試盤，并在第三測(cè)試模式下使用第二鏡像文件，當(dāng)DMA記錄在第一測(cè)試盤時(shí)，第二鏡像文件具有足夠的SDL缺陷填充補(bǔ)充備用區(qū)；和通過(guò)在第四測(cè)試模式下，在第一測(cè)試盤上記錄第三鏡像文件獲得第四測(cè)試盤，其中在DMA的預(yù)定的內(nèi)容中的每一區(qū)的起始扇區(qū)數(shù)故意被錯(cuò)誤地寫(xiě)入。6．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證在光盤的多個(gè)位置上寫(xiě)入的具有相同數(shù)據(jù)的多個(gè)DMA。7．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證DMA中的光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)。8．如權(quán)利要求7所述的方法，其中DDS的驗(yàn)證包括檢查DDS標(biāo)識(shí)符、光盤確認(rèn)標(biāo)志、DDS/主缺陷列表(PDL)更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)的位置、每一區(qū)域的第一邏輯扇區(qū)號(hào)和起始邏輯扇區(qū)號(hào)的位置。9．如權(quán)利要求8所述的方法，其中DDS標(biāo)識(shí)符的檢查包括檢查DDS標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定的值；光盤確認(rèn)標(biāo)志的檢查包括根據(jù)預(yù)定的測(cè)試模式檢查在光盤標(biāo)志位中指示在進(jìn)行的位的值、指示用戶確認(rèn)的位的值和指示光盤制造商確認(rèn)的位的值；DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的檢查按照預(yù)定的測(cè)試模式包括檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值和的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量，該增量表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在預(yù)定的測(cè)試之前和之后的差；組數(shù)的檢查包括按照光盤類型檢查組數(shù)；區(qū)域數(shù)的檢查包括按照光盤類型檢查區(qū)域數(shù)；和主備用區(qū)的位置的檢查包括檢查主備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)。10．如權(quán)利要求9所述的方法，其中光盤確認(rèn)標(biāo)志的檢查包括檢查指示在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中的進(jìn)行/未進(jìn)行的位位置b7的值是否為“0b”，并當(dāng)位位置b7的值為“1b”時(shí)，通知用戶格式化失敗，因?yàn)槲晃恢胋7的值為“0b”指示格式化已完成，位位置b7的值為“1b”指示格式化在進(jìn)行；檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中保留位位置b6至b2的值是否均為“0b”；檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示用戶確認(rèn)標(biāo)志的位位置b1值，在沒(méi)有確認(rèn)的初始化的模式下是否為“0b”，在確認(rèn)的初始化的模式、沒(méi)有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下是否為“1b”；和檢查在光盤確認(rèn)標(biāo)志位中指示光盤制造商確認(rèn)標(biāo)志的位位置b0值，在沒(méi)有確認(rèn)的初始化的模式和確認(rèn)的初始化的模式下是否為“0b”，在沒(méi)有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下是否為“1b”。11．如權(quán)利要求9所述的方法，其中檢查在沒(méi)有確認(rèn)的初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值和DDS/PDL計(jì)數(shù)器增量是否均為“0”，檢查在確認(rèn)的初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“0”，及表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在預(yù)定的測(cè)試之前和之后的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，檢查在沒(méi)有確認(rèn)的再初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”，及DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“1”，并檢查在確認(rèn)的再初始化的模式下，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“原先的值”，及表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在預(yù)定的測(cè)試之前和之后的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否為“2”。12．如權(quán)利要求1所述的方法，其中該驗(yàn)證包括驗(yàn)證DMA中的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)。13．如權(quán)利要求12所述的方法，其中PDL結(jié)構(gòu)的驗(yàn)證包括檢查PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中的條目數(shù)和PDL條目的完整性。14．如權(quán)利要求13所述的方法，其中標(biāo)識(shí)符的檢查包括檢查PDL標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定的值；條目數(shù)的檢查包括檢查PDL中的條目數(shù)是否為預(yù)定的值；PDL條目的完整性包括檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置是否根據(jù)登記在PDL中的條目數(shù)被正確地設(shè)定；和檢查每一區(qū)域的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)是否根據(jù)登記在PDL中的條目數(shù)被正確地設(shè)定。15．如權(quán)利要求14所述的方法，其中條目數(shù)的檢查包括在沒(méi)有確認(rèn)的初始化的模式下，檢查PDL中的條目數(shù)是否為“0”，在確認(rèn)的初始化的模式、沒(méi)有確認(rèn)的再初始化的模式和確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查PDL中的條目數(shù)是否為已知的物理缺陷和在制造過(guò)程中光盤上出現(xiàn)的不同的缺陷的數(shù)量。16．如權(quán)利要求14所述的方法，其中PDL條目完整性的檢查包括在沒(méi)有確認(rèn)的初始化的模式下，檢查用于PDL條目類型和PDL條目區(qū)是否有指示未使用區(qū)的值，在確認(rèn)的初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示在用戶確認(rèn)中檢測(cè)出的缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”，在確認(rèn)的再初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示已知的P列表“00b”或指示在用戶確認(rèn)中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)的G1列表“10b”，在清除G2列表和第二缺陷列表(SDL)的再初始化的模式下，檢查PDL條目類型是否為指示P列表的“00b”和指示在用戶確認(rèn)中檢測(cè)出的缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”，或在SDL轉(zhuǎn)換的再初始化模式下指示在SDL轉(zhuǎn)換后得到的G2列表的“11b”，并在確認(rèn)的初始化模式、確認(rèn)的再初始化模式、SDL轉(zhuǎn)換的再初始化模式和清除G2列表和SDL的再初始化模式下，檢查在對(duì)應(yīng)于已知的物理缺陷數(shù)量的PDL條目被寫(xiě)入后，剩下的未使用的區(qū)是否為“FFh”，和關(guān)于在制造中產(chǎn)生的不同的缺陷扇區(qū)的所有信息是否被寫(xiě)入。17．如權(quán)利要求...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：高禎完，鄭鉉權(quán)，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：三星電子株式會(huì)社，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：KR[韓國(guó)]
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