本發明專利技術公開了一種用于半導體器件老化測試的機臺，包括底座，底座上固定有轉動座，轉動座內轉動安裝有轉盤，轉盤上固定有螺紋桿，螺紋桿上設置有螺紋筒，螺紋筒上固定有臺面，臺面上固定有限位筒，限位筒內滑動套設有與底座固定的限位桿，臺面上固定有置物座，置物座上放置有半導體本體。本發明專利技術通過對處理器匹配的面板進行設定控制，使物料平穩的上升下降，抬升高度通過傳感器來控制，不需要人工操作，降低工人勞動強度，節約了時間與人工并極大地提高了生產效率，通過更換叉腳，可以兼容不同的物料，實現多種產品情況的通用性。實現多種產品情況的通用性。實現多種產品情況的通用性。
【技術實現步驟摘要】
一種用于半導體器件老化測試的機臺
[0001]本專利技術涉及半導體器件老化測試
，具體為一種用于半導體器件老化測試的機臺。
技術介紹
[0002]隨著半導體產業的飛速發展，國內半導體器件從低端逐步向中高端升級，在航天航空，工控，汽車，醫療等領域，對于半導體器件的高品質，高可靠性的要求，需要可以用于批量生產的半導體老化測試設備。
[0003]半導體的老化檢測主要通過恒溫恒濕箱體進行環境模擬，對半導體進行老化破壞，然后通過萬用表等電性設備進行接觸測試，從而獲得數據，然后與正常數據對比，獲得老化信息。
[0004]測試時，主要將老化后的半導體擺放在可升降臺的臺面上，然后缸體推動，使得升降臺上下移動，從而使得半導體與安裝在正上方的萬用表探針進行接觸，實現測量，但常規的升降缸體需要人工反復不斷的按壓，費時費力，且距離把控過大，對探針容易出現碰撞擠壓損傷。
技術實現思路
[0005]本專利技術的目的在于提供一種用于半導體器件老化測試的機臺，以解決對升降臺操作的問題的問題。
[0006]為實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案：一種用于半導體器件老化測試的機臺，包括底座，所述底座上固定有轉動座，所述轉動座內轉動安裝有轉盤，所述轉盤上固定有螺紋桿，所述螺紋桿上設置有螺紋筒，所述螺紋筒上固定有臺面，所述臺面上固定有限位筒，所述限位筒內滑動套設有與底座固定的限位桿，所述臺面上固定有置物座，所述置物座上放置有半導體本體。
[0007]優選的，所述底座上固定有電機，電機的轉軸上固定有驅動帶輪，電機為伺服電機，可與處理器配合進行轉動參數以及開閉的設定。
[0008]優選的，所述螺紋桿上固定套接有聯動帶輪，聯動帶輪與驅動帶輪采用皮帶傳動，起到一個傳動效果，對電機的轉軸進行保護。
[0009]優選的，所述底座上固定有機架，機架上固定有電子萬用表，電子萬用表上固定有針座，針座內插入有探針，能夠與半導體本體接觸進行電性測試。
[0010]優選的，所述針座上設置有定位孔，定位孔內滑動套設有定位銷，便于和定位槽搭配進行手動安拆。
[0011]優選的，所述定位銷上纏繞有彈簧，彈簧的兩端分別與定位銷與針座固定連接，保證定位銷的伸縮復位穩定。
[0012]優選的，所述探針的殼體上設置有定位槽，所述定位銷與定位槽插入設置，便于探針與針座的安裝和拆卸。
[0013]優選的，所述臺面上設置有過孔，過孔內滑動貫穿有距離傳感器，距離傳感器的型號為CS
?
3L。
[0014]優選的，所述距離傳感器的殼體上固定有彈性卡，所述臺面上設置有與彈性卡卡接設置的卡槽，彈性卡的形狀和卡槽的槽內形狀均為正六邊形，且彈性卡由橡膠材料制成。
[0015]優選的，所述螺紋筒上固定處理器，處理器分別與距離傳感器、電子萬用表和電機通過導線相互連接，電子萬用表的型號為F15B。
[0016]與現有技術相比，本專利技術的有益效果是：
[0017]1.本專利技術通過對處理器匹配的面板進行設定控制，使物料平穩的上升下降，抬升高度通過傳感器來控制，不需要人工操作，降低工人勞動強度，節約了時間與人工并極大地提高了生產效率。
[0018]2.本專利技術通過更換叉腳，可以兼容不同的物料，實現多種產品情況的通用性。
附圖說明
[0019]圖1為本專利技術的整體結構示意圖；
[0020]圖2為本專利技術的a處放大示意圖；
[0021]圖3為本專利技術的距離傳感器局部放大示意圖；
[0022]圖4為本專利技術的處理器與各器件原理圖。
[0023]圖中：1、底座；11、轉動座；12、轉盤；13、螺紋桿；14、螺紋筒；15、臺面；16、置物座；17、半導體本體；18、限位筒；19、限位桿；2、電機；21、驅動帶輪；22、聯動帶輪；23、皮帶；3、機架；31、電子萬用表；32、針座；33、探針；4、定位孔；41、定位銷；42、彈簧；43、定位槽；5、過孔；51、距離傳感器；52、彈性卡；53、卡槽；54、處理器。
具體實施方式
[0024]下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。
[0025]實施例Ⅰ[0026]請參閱圖1，一種用于半導體器件老化測試的機臺，包括底座1，底座1上固定有轉動座11，轉動座11內轉動安裝有轉盤12，轉盤12上固定有螺紋桿13，螺紋桿13上設置有螺紋筒14，螺紋筒14上固定有臺面15，臺面15上固定有限位筒18，限位筒18內滑動套設有與底座1固定的限位桿19，臺面15上固定有置物座16，置物座16上放置有半導體本體17。
[0027]請參閱圖1，底座1上固定有電機2，電機2的轉軸上固定有驅動帶輪21，電機2為伺服電機，可與處理器54配合進行轉動參數以及開閉的設定。
[0028]請參閱圖1，螺紋桿13上固定套接有聯動帶輪22，聯動帶輪22與驅動帶輪21采用皮帶23傳動，起到一個傳動效果，對電機2的轉軸進行保護。
[0029]本實施例在使用時：當需要進行臺面15的升降時，通過處理器54設定的參數以及控制，使得電機2能夠按照規定進行正轉或反轉，配合皮帶23的傳動，帶動螺紋桿13轉動，從而使得螺紋筒14聯動，通過限位筒18在限位桿19上滑動，使得臺面15能夠上下移動，從而完
成臺面15的升降。
[0030]實施例Ⅱ[0031]請參閱圖1，本實施方式對于實施例1進一步說明，一種用于半導體器件老化測試的機臺，包括底座1，底座1上固定有轉動座11，轉動座11內轉動安裝有轉盤12，轉盤12上固定有螺紋桿13，螺紋桿13上設置有螺紋筒14，螺紋筒14上固定有臺面15，臺面15上固定有限位筒18，限位筒18內滑動套設有與底座1固定的限位桿19，臺面15上固定有置物座16，置物座16上放置有半導體本體17。
[0032]請參閱圖1，底座1上固定有機架3，機架3上固定有電子萬用表31，電子萬用表31上固定有針座32，針座32內插入有探針33，能夠與半導體本體17接觸進行電性測試。
[0033]請參閱圖1和圖2，針座32上設置有定位孔4，定位孔4內滑動套設有定位銷41，便于和定位槽43搭配進行手動安拆。
[0034]請參閱圖1和圖2，定位銷41上纏繞有彈簧42，彈簧42的兩端分別與定位銷41與針座32固定連接，保證定位銷41的伸縮復位穩定。
[0035]請參閱圖1和圖2，探針33的殼體上設置有定位槽43，定位銷41與定位槽43插入設置，便于探針33與針座32的安裝和拆卸。
[0036]本實施例在使用時：當需要更換探針33時，先將探針33與電子萬用表31連接的線路分離，然后向外拉動定位銷41，通過彈簧42的拉伸效果，使得定位銷41與定位槽43分離，從而使得探針33與針座3本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種用于半導體器件老化測試的機臺，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上固定有轉動座(11)，所述轉動座(11)內轉動安裝有轉盤(12)，所述轉盤(12)上固定有螺紋桿(13)，所述螺紋桿(13)上設置有螺紋筒(14)，所述螺紋筒(14)上固定有臺面(15)，所述臺面(15)上固定有限位筒(18)，所述限位筒(18)內滑動套設有與底座(1)固定的限位桿(19)，所述臺面(15)上固定有置物座(16)，所述置物座(16)上放置有半導體本體(17)。2.根據權利要求1所述的一種用于半導體器件老化測試的機臺，其特征在于：所述底座(1)上固定有電機(2)，電機(2)的轉軸上固定有驅動帶輪(21)。3.根據權利要求2所述的一種用于半導體器件老化測試的機臺，其特征在于：所述螺紋桿(13)上固定套接有聯動帶輪(22)，聯動帶輪(22)與驅動帶輪(21)采用皮帶(23)傳動。4.根據權利要求3所述的一種用于半導體器件老化測試的機臺，其特征在于：所述底座(1)上固定有機架(3)，機架(3)上固定有電子萬用表(31)，電子萬用表(31)上固定有針座(32)，針座(32)內插入有探針(33)。5.根據權利要求...
【專利技術屬性】
技術研發人員：陳冬兵，
申請(專利權)人：蘇州欣華銳電子有限公司，
類型：發明
國別省市：
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