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本發明公開了一種用于半導體器件老化測試的機臺，包括底座，底座上固定有轉動座，轉動座內轉動安裝有轉盤，轉盤上固定有螺紋桿，螺紋桿上設置有螺紋筒，螺紋筒上固定有臺面，臺面上固定有限位筒，限位筒內滑動套設有與底座固定的限位桿，臺面上固定有置物座，...
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