【技術實現步驟摘要】
本申請涉及電子元件測試，特別是涉及一種測試裝置。
技術介紹
1、在電子元器件、芯片、數碼產品等領域中，產品封裝之前需要對產品進行測試，以檢測測試產品的功能是否正常。
2、目前，在對待測產品進行性能測試的過程中，首先需通過機械臂或人工在上料位拿取待測產品，且將待測產品上料至測試位對待測產品進行性能測試，在待測產品測試完成后，再通過機械臂或人工將測試完成后的待測產品由測試位轉運至下料位對待測產品進行下料操作。但是，上述待測產品在上料、測試與下料的過程中，待測產品的取料、測試與下料作業依次進行，各工序之間的等待時間較長，且待測產品單次僅能夠完成一個待測產品的上下料與測試作業，導致待測產品的上下料與測試效率過低。
技術實現思路
1、基于此，有必要針對待測產品的上下料與測試效率過低的問題，提供一種測試裝置。
2、一種測試裝置，所述測試裝置包括：
3、機臺，所述機臺具有上料位、接料位、下料位以及多個測試位；
4、上料平臺，所述上料平臺設置于所述機臺，且可在所述上料位與所述接料位之間往復運動，所述上料平臺具有承載待測產品的多個第一承載位；
5、多組取料機構，多組所述取料機構均設置于所述機臺，所述取料機構包括多個取料模組，多個所述取料模組對應多個所述測試位，所述取料模組用于所述待測產品的取放料，任意一組所述取料機構中的多個所述取料模組可同時在所述接料位與所述測試位之間運動切換；以及
6、下料平臺，所述下料平臺設置于所述機臺，且
7、在其中一個實施例中，多個所述取料模組均轉動設置于所述機臺，且任意一組所述取料機構中的多個所述取料模組沿所述接料位的周向方向間隔設置。
8、在其中一個實施例中，多組所述取料機構間隔設置，且當多組所述取料機構中的至少一組運動至所述測試位時，至少一組所述取料機構運動至所述接料位。
9、在其中一個實施例中，所述取料模組包括轉軸、取料臂與吸附組件，所述轉軸轉動設置于所述機臺，所述取料臂設置于所述轉軸，所述吸附組件設置于所述取料臂遠離所述轉軸的一端，用于吸附所述待測產品；
10、所述吸附組件被配置為響應于所述取料臂的轉動而在所述接料位與所述測試位之間運動切換。
11、在其中一個實施例中，所述吸附組件包括安裝座、壓接板、吸嘴與導柱，所述安裝座設置于所述取料臂遠離所述轉軸的端部，所述導柱連接所述壓接板與所述吸嘴，且沿其延伸方向可移動地插設于所述安裝座，所述壓接板與所述吸嘴分別位于所述安裝座相對的兩側；
12、所述吸嘴具有仿形凸臺，所述凸臺可與所述第一承載位或所述第二承載位相配合。
13、在其中一個實施例中，所述安裝座設有安裝孔，所述導柱在其延伸方向具有相連接的小端與大端，所述小端遠離所述大端的端部連接于所述壓接板，所述大端遠離所述小端的端部連接于所述吸嘴，所述大端的周向尺寸大于所述小端的周向尺寸，所述大端與所述安裝孔緊密配合，且在所述壓接板上施加作用力時，所述大端與所述安裝孔分離，且所述小端與所述安裝孔間隙配合，所述吸嘴朝向靠近所述第一承載位或所述第二承載位的方向運動。
14、在其中一個實施例中，所述測試裝置還包括滑動平臺，所述滑動平臺設置于所述機臺，且在其延伸方向依次具有所述上料位、所述接料位與所述下料位；
15、所述上料平臺包括第一運動臺及設置于所述第一運動臺上的第一承載板，所述第一運動臺滑動設置于所述滑動平臺，且可在所述上料位與所述接料位之間往復運動，所述第一承載板具有多個所述第一承載位，且在所述第一承載位處設有第一承載腔，所述第一承載腔用于吸附所述待測產品；
16、所述下料平臺包括第二運動臺及設置于所述第二運動臺上的第二承載板，所述第二運動臺滑動設置于所述滑動平臺，且可在所述下料位與所述接料位之間往復運動，所述第二承載板具有多個所述第二承載位，且在所述第二承載位處設有第二承載腔，所述第二承載腔用于吸附所述待測產品。
17、在其中一個實施例中，所述第一承載板浮動設置于所述第一運動臺，所述第二承載板浮動設置于所述第二運動臺。
18、在其中一個實施例中，所述測試裝置還包括多個測試機構，所述測試機構具有所述測試位，當所述待測產品位于所述測試位時，所述測試機構可導通所述待測產品。
19、在其中一個實施例中，所述測試機構包括測試模組與攝像模組，所述測試模組具有所述測試位，用于導通所述待測產品，所述攝像模組與所述測試模組間隔設置，用于獲取所述測試模組的位置信息。
20、上述測試裝置，當需對待測產品（芯片）進行壓接測試時，首先，上料平臺可在上料位上料多個待測產品；其次，上料平臺帶著上料的多個待測產品運動至接料位，多個取料模組同時運動至接料位，以對上料平臺上的多個待測產品同步進行取料動作；然后，多個取料模組同時運動至多個測試位，通過多個測試位對多個待測產品進行同步壓接測試；接著，在多個待測產品的壓接測試完成之后，多個取料模組帶著測試完后的待測產品同時運動至接料位，且下料平臺運動至接料位，以供多個取料模組承載的待測產品進行下料操作；最后，下料平臺由接料位運動至下料位，以對測試完后的待測產品進行檢測或下料等作業。其中，取料機構于接料位將上料平臺承載的多個待測產品取料后，上料平臺由接料位運動至上料位繼續進行待測產品的上料，且在上料平臺離開接料位后，下料平臺由下料位運動至接料位進行測試完后待測產品的下料。本申請提供的測試裝置，通過上料平臺、多組取料機構與下料平臺的交替運動，協同進行待測產品的上料、測試與下料操作，可縮短待測產品的上下料與測試時間，進而提高待測產品的上下料與測試效率。
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1.一種測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：
2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，多個所述取料模組均轉動設置于所述機臺，且任意一組所述取料機構中的多個所述取料模組沿所述接料位的周向方向間隔設置。
3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，多組所述取料機構間隔設置，且當多組所述取料機構中的至少一組運動至所述測試位時，至少一組所述取料機構運動至所述接料位。
4.根據權利要求2或3任一項所述的測試裝置，其特征在于，所述取料模組包括轉軸、取料臂與吸附組件，所述轉軸轉動設置于所述機臺，所述取料臂設置于所述轉軸，所述吸附組件設置于所述取料臂遠離所述轉軸的一端，用于吸附所述待測產品；
5.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述吸附組件包括安裝座、壓接板、吸嘴與導柱，所述安裝座設置于所述取料臂遠離所述轉軸的端部，所述導柱連接所述壓接板與所述吸嘴，且沿其延伸方向可移動地插設于所述安裝座，所述壓接板與所述吸嘴分別位于所述安裝座相對的兩側；
6.根據權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述安裝座設有安裝孔，所述導柱
7.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括滑動平臺，所述滑動平臺設置于所述機臺，且在其延伸方向依次具有所述上料位、所述接料位與所述下料位；
8.根據權利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述第一承載板浮動設置于所述第一運動臺，所述第二承載板浮動設置于所述第二運動臺。
9.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括多個測試機構，所述測試機構具有所述測試位，當所述待測產品位于所述測試位時，所述測試機構可導通所述待測產品。
10.根據權利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述測試機構包括測試模組與攝像模組，所述測試模組具有所述測試位，用于導通所述待測產品，所述攝像模組與所述測試模組間隔設置，用于獲取所述測試模組的位置信息。
...【技術特征摘要】
1.一種測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：
2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，多個所述取料模組均轉動設置于所述機臺，且任意一組所述取料機構中的多個所述取料模組沿所述接料位的周向方向間隔設置。
3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，多組所述取料機構間隔設置，且當多組所述取料機構中的至少一組運動至所述測試位時，至少一組所述取料機構運動至所述接料位。
4.根據權利要求2或3任一項所述的測試裝置，其特征在于，所述取料模組包括轉軸、取料臂與吸附組件，所述轉軸轉動設置于所述機臺，所述取料臂設置于所述轉軸，所述吸附組件設置于所述取料臂遠離所述轉軸的一端，用于吸附所述待測產品；
5.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述吸附組件包括安裝座、壓接板、吸嘴與導柱，所述安裝座設置于所述取料臂遠離所述轉軸的端部，所述導柱連接所述壓接板與所述吸嘴，且沿其延伸方向可移動地插設于所述安裝座，所述壓接板與所述吸嘴分別位于所述安裝座相對的兩側；
6.根據權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述安裝座設有安裝孔，所述導柱在其延伸方向具有相連接的小端與...
【專利技術屬性】
技術研發人員：孫奇奇，馮紹亮，倪佳斌，胡清柱，梁宇，
申請(專利權)人：蘇州華興源創科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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