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本申請涉及一種測試裝置，測試裝置包括機臺、上料平臺、多組取料機構與下料平臺，其中：機臺具有上料位、接料位、下料位以及多個測試位；上料平臺可在上料位與接料位之間往復運動，上料平臺具有承載待測產品的多個第一承載位；取料機構包括多個取料模組，多個...該專利屬于蘇州華興源創科技股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過蘇州華興源創科技股份有限公司授權不得商用。
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