電子羅盤測試系統及方法技術方案

一種電子羅盤測試系統，其包括一計算模塊、驅動模塊、電磁鐵及磁屏蔽裝置。所述計算模塊、驅動模塊及電磁鐵設置于所述磁屏蔽裝置內。所述驅動模塊與計算模塊及電磁鐵電連接，驅動電磁鐵繞一待測電子羅盤移動。所述計算模塊與驅動模塊及待測電子羅盤電連接，計算模塊通過驅動模塊獲取電磁鐵實際移動位置，并通過待測電子羅盤獲取偵測的電磁鐵的位置，計算電磁鐵實際移動位置與偵測位置之間的位置偏移誤差值，顯示位置偏移誤差值。本發明專利技術將待測電子羅盤放置入一磁屏蔽空間內，通過改變電磁鐵的位置檢測待測電子羅盤的精準度，測試結果比較準確。本發明專利技術還提供一種電子羅盤測試方法。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種。
技術介紹
隨著科學技術的發展，現在許多電子產品都擴充增加功能，例如現在許多電子產 品中加入電子羅盤功能。電子羅盤一般包括一磁性傳感器及一數字信號處理裝置。所述磁 性傳感器一般使用電子式霍爾效應感測器偵測磁場，然后輸出磁場的模擬信號，所述數字 信號處理裝置將磁場的模擬信號轉換為數字信號，然后將數字信號經過軟體計算得到方位 度數。電子羅盤在導航，定位，定向等方面有著廣泛的應用。但是電子羅盤感測到的磁場大 小及位置與實際磁場大小及位置一般存在誤差，為了保證導航定向信息的準確及生產出精 準度高的合格電子羅盤產品，對電子羅盤的測試很重要。在實際生產中，現有電子羅盤的 檢測一般是利用固定電磁線圈產生磁性以模擬地球南北地磁，從而對電子羅盤進行檢測。 但是這種固定磁極的檢測方法無法測試電子羅盤在360度方位的精準度。另外，在電子羅 盤的測試過程中極易受到地理位置及當時環境狀況的影響，從而直接影響測試結果的可信 度，影響產品的質量。
技術實現思路
有鑒于此，有必要提供一種能夠準確檢測電子羅盤精準度的電子羅盤測試系統及 方法。一種電子羅盤測試系統，其包括一計算模塊、驅動模塊、電磁鐵及磁屏蔽裝置。所 述計算模塊、驅動模塊及電磁鐵設置于所述磁屏蔽裝置內。所述驅動模塊與所述計算模塊 及所述電磁鐵電連接，驅動所述電磁鐵繞一待測電子羅盤移動。所述計算模塊與所述驅動 模塊及所述待測電子羅盤電連接，所述計算模塊通過所述驅動模塊獲取所述電磁鐵實際移 動位置，并通過由所述待測電子羅盤獲取偵測的電磁鐵的位置，計算電磁鐵實際移動位置 與偵測位置之間的位置偏移誤差值，顯示位置偏移誤差值。一種電子羅盤測試方法，其包括一磁屏蔽裝置及一電磁鐵，所述電磁鐵設置于所 述磁屏蔽裝置中，所述電子羅盤測試方法包括以下幾個步驟將待測電子羅盤放置于磁屏蔽裝置中；控制改變電磁鐵位置；獲取電磁鐵實際位置及所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置；計算電磁鐵實際位置與所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置之間的位置偏移誤 差值；及顯示電磁鐵位置偏移誤差值。 本專利技術所提供的電子羅盤測試系統將待測電子羅盤放置入一磁屏蔽空間內，通過 改變電磁鐵的位置，檢測待測電子羅盤的精準度，同時相對于現有技術測試結果比較準確。附圖說明圖1為本專利技術實施方式提供的電子羅盤測試系統功能模塊圖。圖2為本專利技術實施方式提供的電子羅盤測試方法流程圖。具體實施例方式下面將結合附圖，對本專利技術作進一步的詳細說明。請參閱圖1，一種電子羅盤測試系統10，其包括一計算模塊11、驅動模塊12、電壓 控制模塊13、電磁鐵14及磁屏蔽裝置15。所述計算模塊11、驅動模塊12、電壓控制模塊13 及電磁鐵14設置于所述磁屏蔽裝置15內。所述電磁鐵14可以繞一待測電子羅盤16移 動。在本實施方式中，設置一圓形軌道，將所述待測電子羅盤16放置于所述軌道的中心，將 所述電磁鐵14設置于所述軌道上，使所述電磁鐵14沿所述軌道移動。在本實施方式中，所 述磁屏蔽裝置15為一磁屏蔽罩，使用鋁制材料外殼，可有效屏蔽掉外界環境磁場對測試的 影響。所述驅動模塊12與所述計算模塊11及所述電磁鐵14電連接，所述驅動模塊12 驅動所述電磁鐵14圍繞所述待測電子羅盤16移動。在本實施方式中，所述驅動模塊12為 步進馬達。所述電壓控制模塊13與所述計算模塊11及所述電磁鐵14電連接，所述電壓控制 模塊13控制改變所述電磁鐵14兩端的電壓，從而改變所述電磁鐵14的電流值，所述電磁 鐵14的電流值變化導致所述電磁鐵14的磁通量發生改變，進而所述電磁鐵14的磁場強度 會發生改變，實現電磁場強度的控制。所述計算模塊11包括獲取單元111、處理單元112及顯示單元113。所述獲取單 元111與所述驅動模塊12，所述電壓控制模塊13以及所述待測電子羅盤16電連接，由所述 驅動模塊12獲取所述電磁鐵14所移動的實際位值，由所述電壓控制模塊13獲取所述電磁 鐵14兩端電壓以及接受所述待測電子羅盤16的輸出信號，獲取所述待測電子羅盤16偵測 的電磁鐵14的位值及磁場強度。所述處理單元112計算所述獲取單元111獲取的所述電 磁鐵14實際位置與偵測位置之間的位置偏移誤差值，以及由所述獲取單元111獲取的電壓 計算所述電磁鐵14的磁場強度，并計算所述實際電磁鐵14磁場強度與偵測的電磁鐵14的 磁場強度之間的誤差。其中所述位置偏移誤差以及磁場強度之間的誤差反映所述待測電子 羅盤16的精準度。需要說明的是所述精準度根據不同的電子羅盤產品而不同。所述顯示 單元113用于顯示位置偏移誤差值及磁場強度之間的誤差值。在進行測試時，首先將所述待測電子羅盤16放置入所述磁屏蔽裝置15內，并且所 述電磁鐵14可圍繞所述待測電子羅盤16移動。所述電壓控制模塊13改變所述電磁鐵14 兩端電壓以改變所述電磁鐵14的磁場強度大小，所述驅動模塊12驅動所述電磁鐵14圍繞 所述待測電子羅盤16移動。所述獲取單元111獲取所述電磁鐵14所移動的實際位置，獲 取所述電磁鐵14兩端電壓以及獲取所述待測電子羅盤16所偵測的電磁鐵14的位置及磁 場強度。所述處理單元112計算所述電磁鐵14實際位置與偵測位置之間的位置偏移誤差 值以及計算所述實際電磁鐵14磁場強度與偵測的電磁鐵14的磁場強度之間的誤差，所述 顯示單元113顯示位置偏移誤差值及磁場強度之間誤差，從而可判斷所述待測電子羅盤16 的精準度。請參閱圖2，一種電子羅盤測試方法流程圖，其包括一磁屏蔽裝置及一電磁鐵，所 述電磁鐵設置于所述磁屏蔽裝置中，所述電子羅盤測試方法包括以下幾個步驟SlOl，將待測電子羅盤放置于磁屏蔽裝置中； S102，控制改變電磁鐵位置及磁場強度；S103，獲取電磁鐵實際位置，磁場強度及所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置及 磁場強度；S104，計算電磁鐵實際位置與所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置之間的位置偏 移誤差值及計算電磁鐵實際磁場強度與所述待測電子羅盤偵測磁場強度之間的誤差；及S105，顯示電磁鐵位置偏移誤差值及磁場強度之間誤差。在本實施方式中，所述磁屏蔽裝置為一磁屏蔽罩，使用鋁制材料外殼，可有效屏蔽 掉外界環境磁場對測試的影響。本專利技術所提供的電子羅盤測試系統將待測電子羅盤放置入一磁屏蔽空間內，通過 改變電磁鐵的位置，檢測待測電子羅盤的精準度，同時相對于現有技術測試結果比較準確。本
的普通技術人員應當認識到，以上的實施方式僅是用來說明本專利技術， 而并非用作為對本專利技術的限定，只要在本專利技術的實質精神范圍之內，對以上實施方式所作 的適當改變和變化都落在本專利技術要求保護的范圍之內。權利要求一種電子羅盤測試系統，其包括一計算模塊、驅動模塊、電磁鐵及磁屏蔽裝置，所述計算模塊、驅動模塊及電磁鐵設置于所述磁屏蔽裝置內，所述驅動模塊與所述計算模塊及所述電磁鐵電連接，驅動所述電磁鐵繞一待測電子羅盤移動，所述計算模塊與所述驅動模塊及所述待測電子羅盤電連接，所述計算模塊通過所述驅動模塊獲取所述電磁鐵實際移動位置，并通過所述待測電子羅盤獲取偵測的電磁鐵的位置，計算電磁鐵實際移動位置與偵測位置之間的位置偏移誤差值，顯示位置偏移誤差值。2.如權利要求1所述的電子羅盤測試系統，其特征在于，所述磁屏蔽裝置為一磁屏蔽罩，使用鋁制材料外殼。3.如權利要本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電子羅盤測試系統，其包括一計算模塊、驅動模塊、電磁鐵及磁屏蔽裝置，所述計算模塊、驅動模塊及電磁鐵設置于所述磁屏蔽裝置內，所述驅動模塊與所述計算模塊及所述電磁鐵電連接，驅動所述電磁鐵繞一待測電子羅盤移動，所述計算模塊與所述驅動模塊及所述待測電子羅盤電連接，所述計算模塊通過所述驅動模塊獲取所述電磁鐵實際移動位置，并通過所述待測電子羅盤獲取偵測的電磁鐵的位置，計算電磁鐵實際移動位置與偵測位置之間的位置偏移誤差值，顯示位置偏移誤差值。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：莊宗仁，
申請(專利權)人：鴻富錦精密工業深圳有限公司，鴻海精密工業股份有限公司，
類型：發明
國別省市：94[中國|深圳]