井下套管壁厚測量方法技術

本發(fā)明專利技術公開了一種井下套管壁厚測量方法，根據(jù)遠近探測器的計數(shù)率曲線，消除地層密度與水泥環(huán)密度對套管壁厚計算值的影響，利用回歸方法，建立套管壁厚計算公式計算得出套管壁厚度。本發(fā)明專利技術采用遠近探測器計數(shù)率進行計算，并消除了由于地層密度和水泥環(huán)密度不同時地層和水泥環(huán)對探測器計數(shù)率的影響，提高了井下套管壁厚的計算準確性。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

【技術保護點】
一種井下套管壁厚測量方法，其特征在于：根據(jù)遠近探測器的計數(shù)率曲線，消除地層密度與水泥環(huán)密度對套管壁厚計算值的影響，利用回歸方法，建立套管壁厚計算公式計算得出套管壁厚度。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：吉人，殷增華，劉文龍，趙中明，
申請(專利權)人：中國石油集團川慶鉆探工程有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：90[中國|成都]