探針頭制造技術

一種探針頭，包括一探針頭本體、一第一接觸部及一第二接觸部。該探針頭本體具有一第一側邊及一第二側邊。該第一接觸部由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。該第二接觸部由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。其中，該第一接觸部及該第二接觸部在一待測物件形成一點接觸、一線接觸或一面接觸。相較于現有在探針頭本體形成多個接觸部而言，本創作僅形成兩接觸部，而可提升結構強度，延長使用壽命。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

一種探針頭，特別是指一種具有一第一接觸部及一第二接觸部的探針頭。
技術介紹
電子元件的電子信號連接組件，需利用微彈性接觸器如探針對電子元件作性能測試，以避免因不良品的產生而對商業競爭力產生影響。請參照圖I及圖2所示，其為現有技術的探針頭立體示意圖及使用狀態示意圖。圖中，該探針頭包括一探針頭本體11、一第一接觸部12、一第二接觸部13、一第三接觸部14及一第四接觸部15。該第一接觸部12、該第二接觸部13、該第三接觸部14及該第四接觸部15分別由該探針頭本體11的一側端向外延伸。 使用時，則將該探針頭的該第一接觸部12、該第二接觸部13、該第三接觸部14及該第四接觸部15與一待測物件2相接觸。由于通常待測物件2的表面會形成一氧化層21，為能測量到準確的電性信號，需使探針頭與待測物件2之間形成適當的表面接觸力，使該等接觸部刮破待測物件的氧化層后，以三點接觸或四點接觸等方式測量待測物件電阻、電流或電壓等電性信號。然而，由于現有探針頭形成多個接觸部，由于針頭本身非常微小，導致接觸部的加工困難。此外，現有探針針頭的結構強度不高，使用次數無法進一步提升。
技術實現思路
本技術的主要目的，旨在提供一種探針頭，其僅設有兩接觸部，以提升結構強度及延長使用壽命。為達上述目的，本技術的探針頭，包括一探針頭本體、一第一接觸部及一第二接觸部。該探針頭本體具有一第一側邊及一第二側邊。該第一接觸部由該探針頭本體的第一側邊向外斜向延伸。該第二接觸部由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。其中，該第一接觸部及該第二接觸部之間形成約50度的夾角。其中，該探針頭本體由金屬合金所制成。其中，該第一接觸部及該第二接觸部與一待測物件形成一點接觸、一線接觸或一面接觸。其中，該第一接觸部及該第二接觸部之間形成約3(Γ90度的夾角。其中，該第一接觸部及該第二接觸部分別由四個斜面所構成，并于該四個斜面處形成一交點。附圖說明圖I為現有技術探針頭的立體示意圖。圖2為現有技術探針頭的使用狀態示意圖。圖3為本技術探針頭第一實施例立體示意圖。圖4為本技術探針頭第一實施例剖視圖。圖5為本技術探針頭第一實施例使用示意圖。圖6為本技術探針頭第一實施例的組裝示意圖。圖7為本技術探針頭第一實施例探針頭本體后端的造型示意圖。圖8為本技術探針頭第二實施例的示意圖。附圖標記說明11_探針頭本體；12_第一接觸部；13_第二接觸部；14_第三接觸部；15_第四接觸部；2_待測物件；21_氧化層；3_探針頭；31_探針頭本體；311_第一側邊；312-第二側邊；32_第一接觸部；33_第二接觸部；4_待測物件；41_氧化層。具體實施方式為使貴審查委員能清楚了解本技術的內容，謹以下列說明搭配附圖，敬請參·閱。請參閱圖3、圖4、圖5及圖6所示,其為本技術探針頭第一實施例的立體示意圖、剖視圖、使用示意圖及組裝示意圖。圖中，該探針頭3可以金屬合金所制成，并包含一探針頭本體31、一第一接觸部32及一第二接觸部33。該探針頭本體31呈一圓柱體形而為一圓形加工件，并具有一第一側邊311及一第二側邊312。該第一接觸部32由該探針頭本體31的該第一側邊311向外斜向延伸。該第二接觸部33由該探針頭本體31的該第一側邊311向外沿伸，且該第二接觸部33與該第一接觸部32相對。在本實施例中，該第一接觸部及該第二接觸部由四個斜面所構成，且該四個斜面形成一交點，而可與待測物件形成一點接觸。在本實施例中，該第一接觸部32及該第二接觸部33之間形成約50度左右的夾角，但不以此為限，亦可為3(Γ90度左右的夾角。當使用該探針頭測量一待測物件4的電性信號時，使該探針頭3與該待測物件4之間形成一適當的表面接觸力，藉由該第一接觸部32及該第二接觸部33刮破該待測物件4表面的氧化層41后，使該第一接觸部32及該第二接觸部33與該待測物件4作點接觸、線接觸或面接觸，以測量該待測物件4的阻抗、電壓及電流等各種電性信號。相較于現有技術的探針頭使用多個接觸部作多點接觸而言，本技術的該探針頭3只形成兩接觸部，因此其結構強度較強，不易斷裂或變形，從而提升探針頭的使用壽命。此外該探針頭本體31的尾端除可為圓弧造型外，更可為一尖頭造型，如圖7所示。請參照圖8，其為本技術探針頭第二實施例的示意圖。圖中，該探針頭3包含一探針頭本體31、一第一接觸部32及一第二接觸部33所構成。本實施例與第一實施例的差異在于該第一接觸部32及該第二接觸部33由兩斜面所構成，且與該兩斜面處的交界處構成一交線，該交線與待測工件形成一線接觸。綜上所述，本技術探針頭，其功效在于僅需使探針頭與待測物件形成兩點接觸便可測量電性信號，相較于現有技術而言，更可加強探針頭的結構強度，以提升使用壽命O然而，以上所述，僅為本技術的較佳實施例而已，并非用以限定本技術實施的范圍，在不脫離本技術的精神與范圍下所作的均等變化與修飾，皆應涵蓋于本技術的專利范圍內。綜上所述，本技術的探針頭，具有專利的技術性，及對產業的利用價值； 故依專利法的規定提出新型專利的申請。權利要求1.一種探針頭，其特征在于，包括 一探針頭本體，具有一第一側邊及一第二側邊； 一第一接觸部，由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸； 一第二接觸部，由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。2.如權利要求I所述的探針頭，其特征在于，該第一接觸部及該第二接觸部之間形成50度的夾角。3.如權利要求I所述的探針頭，其特征在于，該探針頭本體由金屬合金所制成。4.如權利要求I所述的探針頭，其特征在于，該第一接觸部及該第二接觸部分別與一待測物件形成一點接觸、一線接觸或一面接觸。5.如權利要求I所述的探針頭，其特征在于，該第一接觸部及該第二接觸部之間形成30 90度的夾角。6.如權利要求I所述的探針頭，其特征在于，該第一接觸部及該第二接觸部分別由四個斜面所構成，并于該四個斜面處形成一交點。專利摘要一種探針頭，包括一探針頭本體、一第一接觸部及一第二接觸部。該探針頭本體具有一第一側邊及一第二側邊。該第一接觸部由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。該第二接觸部由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。其中，該第一接觸部及該第二接觸部在一待測物件形成一點接觸、一線接觸或一面接觸。相較于現有在探針頭本體形成多個接觸部而言，本創作僅形成兩接觸部，而可提升結構強度，延長使用壽命。文檔編號G01R1/067GK202676753SQ20122031898公開日2013年1月16日 申請日期2012年7月2日 優先權日2012年1月17日專利技術者陳威助, 蔡伯晨, 洪啟超 申請人:中國探針股份有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種探針頭，其特征在于，包括：一探針頭本體，具有一第一側邊及一第二側邊；一第一接觸部，由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸；一第二接觸部，由該探針頭本體的該第一側邊向外斜向延伸。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：陳威助，蔡伯晨，洪啟超，
申請(專利權)人：中國探針股份有限公司，
類型：實用新型
國別省市：