一種測針裝置及銑床制造方法及圖紙

本實用新型專利技術(shù)提供一種測針裝置，包括固定基座，所述固定基座上設(shè)置有第一孔，所述測針裝置用于對伸入第一孔內(nèi)的刀具進(jìn)行檢測，所述刀具上套有套環(huán)，所述刀具包括針尖部分和針柄部分，其中，所述固定基座上還設(shè)置有第二孔；所述第二孔設(shè)置在第一孔的下方并與第一孔連通，所述刀具的針尖部分能夠伸入所述第二孔中且套在所述刀具上的套環(huán)能夠卡在所述第一孔與第二孔相交處的臺階位置上。相應(yīng)地，還提供一種采用所述測針裝置的銑床。本實用新型專利技術(shù)所述測針裝置在對刀具的尺寸及其磨損情況進(jìn)行檢測的過程中能夠避免主軸損傷及由此造成的設(shè)備異常，從而能夠提高設(shè)備的產(chǎn)能和良率。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本技術(shù)屬于測量
，具體涉及一種測針裝置，以及采用所述測針裝置的銑床。
技術(shù)介紹
銑床是使用刀具(包括銑刀、鉆針)對工件進(jìn)行銑削加工的機(jī)床。銑床除能銑削平面、溝槽、輪齒、螺紋和花鍵軸外，還能加工比較復(fù)雜的型面，且效率較刨床高，因而在機(jī)械制造和修理加工方面得到了廣泛的應(yīng)用。在實際生產(chǎn)過程中，工件的加工質(zhì)量一般建立在刀具狀態(tài)的基礎(chǔ)上，刀具的良好狀態(tài)是避免產(chǎn)生廢品以及保持工藝狀態(tài)穩(wěn)定的關(guān)鍵因素，如果刀具磨損、破損或選刀錯誤 的情況未被及時發(fā)現(xiàn)，特別是無人值守加工時未被及時發(fā)現(xiàn)將導(dǎo)致機(jī)床停機(jī)、工件損壞等不必要的成本增加。因此，準(zhǔn)確地測量刀具的尺寸以及定期檢查刀具的磨損情況十分重要。目前，一般采用測針裝置來檢測刀具的尺寸及其磨損情況。所述測針裝置包括接觸式測針裝置與非接觸式測針裝置。接觸式測針裝置通過探針與刀具直接接觸而獲取刀具的尺寸數(shù)據(jù)；非接觸式測針裝置則是采用光束(通常是激光束)對刀具進(jìn)行探測來獲取刀具的尺寸數(shù)據(jù)。其中，非接觸式測針裝置因無需測量力，可快速、可靠及無碰撞危險地檢測尺寸較小的刀具而得到廣泛的應(yīng)用。現(xiàn)有的非接觸式測針裝置一般包括光纖發(fā)射器、光纖接收器、光纖放大器、固定基座以及數(shù)據(jù)處理單元。所述光纖發(fā)射器用于向刀具發(fā)射光信號；光纖接收器用于接收光纖發(fā)射器所發(fā)射的光信號；光纖放大器與光纖接收器連接，用于放大光纖接收器接收到的光信號；如圖f 3所示，固定基座上設(shè)置有圓孔I (非通孔)，光纖發(fā)射器的發(fā)射端及光纖接收器的接收端水平且相對地設(shè)置在圓孔I的內(nèi)壁上，待測刀具的針尖部分伸入圓孔I中，并遮擋住光纖發(fā)射器發(fā)射的光信號的光路；數(shù)據(jù)處理單元與光纖放大器連接，用于對經(jīng)放大后的光纖接收器接收到的光信號(反映激光光束的變化情況)進(jìn)行處理以得出刀具的尺寸數(shù)據(jù)。所述刀具包括用于切削加工的針尖以及用于與主軸連接的針柄，刀具上還套有套環(huán)，可通過不同顏色的套環(huán)來區(qū)分不同型號的刀具。所述刀具的尺寸數(shù)據(jù)主要包括刀具的長度、針尖的直徑等數(shù)據(jù)，結(jié)合刀具的尺寸數(shù)據(jù)可分析得出刀具的磨損情況。目前的非接觸式測針裝置所應(yīng)用的生產(chǎn)線一般都是自動化生產(chǎn)線，在對刀具的尺寸及其磨損情況進(jìn)行檢測的過程中，如果由于人員操作失誤或其他原因，導(dǎo)致固定基座中的圓孔I內(nèi)已放置了另一刀具而未及時發(fā)現(xiàn)，會造成安裝在主軸上待測的刀具與之前已放置在圓孔I中的另一刀具產(chǎn)生撞擊(即發(fā)生壓針或重針的現(xiàn)象)，繼而導(dǎo)致主軸發(fā)生損傷以及其它設(shè)備發(fā)生異常。而主軸發(fā)生故障的頻率高低是衡量銑床設(shè)備性能的主要參數(shù)之一，如果主軸發(fā)生故障的頻率較高不僅會導(dǎo)致產(chǎn)品報廢、影響正常生產(chǎn)，嚴(yán)重時還會對銑床設(shè)備造成較大的損傷，進(jìn)而產(chǎn)生更大的成本浪費(fèi)
技術(shù)實現(xiàn)思路
本技術(shù)所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題，提供一種在對刀具的尺寸及其磨損情況進(jìn)行檢測的過程中能夠避免主軸損傷的測針裝置，以及采用所述測針裝置的銑床。解決本技術(shù)技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是所述測針裝置包括固定基座，所述固定基座上設(shè)置有第一孔，所述測針裝置用于對伸入所述第一孔內(nèi)的刀具進(jìn)行檢測，所述刀具上套有套環(huán)，所述刀具包括針尖部分和針柄部分，其中，所述固定基座上還設(shè)置有第二孔；所述第二孔設(shè)置在第一孔的下方并與第一孔連通，所述刀具的針尖部分能夠伸入所述第二孔中且套在所述刀具上 的套環(huán)能夠卡在所述第一孔與第二孔相交處的臺階位置上。優(yōu)選的是，所述第二孔的長度大于套在刀具上的所述套環(huán)上靠近刀具針尖一端的端面至針尖頂端的距離。進(jìn)一步優(yōu)選的是，所述第二孔為通孔。或者，所述第二孔為非通孔。優(yōu)選的是，所述第二孔采用圓孔。優(yōu)選的是，所述第一孔與第二孔同軸設(shè)置。優(yōu)選的是，所述第一孔采用圓孔，其直徑為9mm，所述第二孔的直徑大于或等于4mm且小于或等于7mm ;套在所述刀具上的套環(huán)的外徑大于7mm且小于9mm。進(jìn)一步優(yōu)選的是，所述第二孔的直徑為7mm。本技術(shù)同時提供一種銑床，其采用測針裝置，所述測針裝置采用上述的測針>J-U ρ α裝直。優(yōu)選的是，所述銑床為臥式銑床。有益效果本技術(shù)所述測針裝置中的固定基座上由于設(shè)置了第二孔，且待測刀具的針尖部分能夠伸入第二孔中，即使出現(xiàn)壓針現(xiàn)象，先行放置在第一孔中的另一刀具的針尖部分會因重力而下落至第二孔中，因而不會與安裝在主軸上的待測刀具發(fā)生撞擊，從而能夠避免主軸發(fā)生損傷；由于套在待測刀具上的套環(huán)能夠卡在所述第一孔與第二孔相交處的臺階位置上，當(dāng)所述第二孔為通孔時，所述另一刀具不會直接下落至銑床的工作臺面上而造成設(shè)備異常，如板卡短路，導(dǎo)軌磨損等；所述第二孔為非通孔時，所述另一刀具的刀尖部分不會直接與第二孔的底壁接觸而對其針尖部分造成損壞。附圖說明圖I為現(xiàn)有技術(shù)中固定基座的王視圖；圖2為現(xiàn)有技術(shù)中固定基座的左視圖；圖3為現(xiàn)有技術(shù)中固定基座的俯視圖；圖4為本技術(shù)實施例I中固定基座的主視圖；圖5為本技術(shù)實施例I中固定基座的左視圖；圖6為本技術(shù)實施例I中固定基座的俯視圖。圖中1 —圓孔；2 —第二孔；3 —第一孔。具體實施方式為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本技術(shù)的技術(shù)方案，以下結(jié)合附圖和具體實施方式對本技術(shù)測針裝置以及采用所述測針裝置的銑床作進(jìn)一步詳細(xì)描述。所述測針裝置包括固定基座，所述固定基座上設(shè)置有第一孔，所述測針裝置用于對伸入所述第一孔內(nèi)的刀具進(jìn)行檢測，所述刀具上套有套環(huán)，所述刀具包括針尖部分和針柄部分，其中，所述固定基座上還設(shè)置有第二孔；所述第二孔設(shè)置在第一孔的下方并與第一孔連通，所述刀具的針尖部分能夠伸入所述第二孔中且套在所述刀具上的套環(huán)能夠卡在所述第一孔與第二孔相交處的臺階位置上。所述銑床采用上述的測針裝置。實施例I : 本實施例中，所述測針裝置包括光纖發(fā)射器、光纖接收器、光纖放大器、固定基座以及數(shù)據(jù)處理單元。其中，光纖發(fā)射器、光纖接收器、光纖放大器、數(shù)據(jù)處理單元的作用以及連接關(guān)系與現(xiàn)有技術(shù)相同，不再贅述。該測針裝置主要用于對銑床中刀具的尺寸及磨損情況進(jìn)行檢測。如圖4飛所示，所述固定基座上設(shè)置有第一孔3，通過設(shè)置在第一孔3內(nèi)壁上的光纖發(fā)射器與光纖接收器可對伸入第一孔3內(nèi)的刀具的尺寸及磨損情況進(jìn)行檢測。所述刀具包括針尖部分和針柄部分，所述刀具上套有套環(huán)，且套在所述刀具上的套環(huán)能夠伸入第一孔3中。所述固定基座上還設(shè)置有第二孔2。所述第二孔2設(shè)置在第一孔下方并與第一孔3連通，所述刀具的針尖部分能夠伸入所述第二孔2中且套在所述刀具上的套環(huán)能夠卡在所述第一孔3與第二孔2相交處的臺階位置上。優(yōu)選所述第二孔的長度大于套在所述刀具上的套環(huán)上靠近刀具針尖一端的端面至針尖頂端的距離。本實施例中，所述第二孔2為通孔。優(yōu)選所述第二孔2采用圓孔，且與第一孔3同軸設(shè)置。當(dāng)然，所述第二孔2和/或第一孔3可采用任意形狀的孔，只需保證套在所述刀具上的套環(huán)能夠伸入第一孔3中，且套在所述刀具上的套環(huán)能夠卡在第一孔3與第二孔2相交處的臺階位置上即可。若第二孔2采用圓孔，則第二孔2的直徑大于或等于所述刀具的針尖的直徑且小于套在所述刀具上的套環(huán)的外徑，以使得所述刀具的針尖部分能夠落入第二孔2中且所述刀具能夠通過套在其上的套環(huán)卡在第一孔3與第二孔2相交處的臺階位置上。需要說明的是，本技術(shù)只是對現(xiàn)有測針裝置中的固定基座進(jìn)行了改進(jìn)，即只在第一孔3的下方開設(shè)了第二孔2，并未改變其他部件的結(jié)構(gòu)或形狀本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種測針裝置，包括固定基座，所述固定基座上設(shè)置有第一孔，所述測針裝置用于對伸入所述第一孔內(nèi)的刀具進(jìn)行檢測，所述刀具上套有套環(huán)，所述刀具包括針尖部分和針柄部分，其特征在于，所述固定基座上還設(shè)置有第二孔；所述第二孔設(shè)置在第一孔的下方并與第一孔連通，所述刀具的針尖部分能夠伸入所述第二孔中且套在所述刀具上的套環(huán)能夠卡在所述第一孔與第二孔相交處的臺階位置上。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：董彥明，李晉峰，吳琳，孫萬興，喻大群，
申請(專利權(quán))人：北大方正集團(tuán)有限公司，珠海方正科技高密電子有限公司，
類型：實用新型
國別省市：