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    一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)方案

    技術(shù)編號(hào):8341175 閱讀:343 留言:0更新日期:2013-02-16 19:07
    一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng),包括:平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置、平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路、平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路;平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置中標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡安裝在ZYGO干涉儀上,ZYGO干涉儀內(nèi)置激光儀,通過數(shù)據(jù)線與計(jì)算機(jī)連接,平面光柵置于旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上,旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上的平面光柵與平面反射鏡置于光路中;平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路:旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上平面光柵的激光入射角等于衍射角;平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路:平面反射鏡與平面光柵衍射光垂直,衍射光作為測(cè)量波面經(jīng)平面反射鏡反射,沿原路返回ZYGO干涉儀。本實(shí)用新型專利技術(shù)設(shè)備少,檢測(cè)快,結(jié)果精確。(*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期,可自由使用*)

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本技術(shù)涉及一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng),可廣泛用于平面光柵不同級(jí)次衍射波的波前檢測(cè)。
    技術(shù)介紹
    衍射光柵是利用光的多狹縫衍射效應(yīng)進(jìn)行色散,使光波衍射而產(chǎn)生大量光束繼而形成光譜的光柵元件,它是應(yīng)用在光譜儀器中的核心元件之一。一般來說平面光柵質(zhì)量的好壞通常直接決定了一臺(tái)光譜儀器的優(yōu)劣,因此平面光柵質(zhì)量的檢測(cè)對(duì)于光柵的使用者和制作者來說都是必不可少的。平面光柵檢測(cè)的內(nèi)容包括平面光柵性能及影響平面光柵性能的主要參數(shù)的測(cè)量。平面光柵的性能指標(biāo)有衍射波前、光柵分辨率、衍射效率、雜散光和鬼 線。衍射波前是全部影響平面光柵性能參數(shù)的綜合反映,包括槽形、雜散光、鬼線及基片像差。平面光柵的衍射波前直接決定了光譜質(zhì)量和分辨本領(lǐng),而且從波面形狀可以判斷有無鬼線及鬼線的種類。測(cè)量平面光柵衍射波前及波前像差,實(shí)質(zhì)上是利用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面或球面波與實(shí)際波面相比較。干涉法檢測(cè)平面光柵是一種傳統(tǒng)方法,由于用到的裝置較多,測(cè)量結(jié)果很難精確。
    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
    本技術(shù)公開了一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng),可以有效克服現(xiàn)有技術(shù)在對(duì)平面光柵衍射波前檢測(cè)時(shí)測(cè)量精度不夠和平面光柵位置不易調(diào)整,且費(fèi)時(shí)費(fèi)力的缺陷。本技術(shù)利用現(xiàn)代高科技產(chǎn)品ZYGO干涉儀在分辨率,抗干涉能力和測(cè)量精度方面的優(yōu)異性能,并配合標(biāo)準(zhǔn)反射鏡的使用,可使平面光柵衍射波前測(cè)量在測(cè)量精度方面得到極大改善。本技術(shù)的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng),包括平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置、平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路、平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路;A)所述的平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置包括ZYG0干涉儀、計(jì)算機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡、旋轉(zhuǎn)平臺(tái)、平面反射鏡,平面光柵;其中標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡安裝在ZYGO干涉儀上,ZYGO干涉儀內(nèi)置激光儀,通過數(shù)據(jù)線與計(jì)算機(jī)連接,平面光柵置于旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上,旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上的平面光柵與平面反射鏡置于光路中;B)平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路激光從ZYGO干涉儀中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡后,與旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上平面光柵的法線構(gòu)成入射角,所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上平面光柵的入射角等于衍射角;C)平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路,激光從ZYGO干涉儀中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡、平面光柵到達(dá)平面反射鏡,平面反射鏡與平面光柵衍射光垂直,衍射光作為測(cè)量波面經(jīng)平面反射鏡反射,沿原路返回ZYGO干涉儀。所述ZYGO干涉儀為GPI XP/D型號(hào)激光干涉儀,內(nèi)置的激光器為氦_氖激光器。所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上設(shè)置有轉(zhuǎn)動(dòng)角度刻度值。本技術(shù)利用現(xiàn)代高科技產(chǎn)品ZYGO干涉儀在分辨率,抗干涉能力和測(cè)量精度方面的優(yōu)異性能,并配合標(biāo)準(zhǔn)反射鏡的使用,可使平面光柵衍射波前測(cè)量在測(cè)量精度方面得到極大改善;利用參考波面和測(cè)量波面干涉,干涉結(jié)果經(jīng)軟件處理得到平面衍射光柵不同級(jí)次的衍射光的波前;整個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、設(shè)備少,檢測(cè)快,結(jié)果精確。附圖說明圖I為本技術(shù)平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本技術(shù)進(jìn)行平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)時(shí)入射光與衍射光光路示意圖;圖3為本技術(shù)進(jìn)行平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)時(shí)入射光與衍射光光路示意圖。I、計(jì)算機(jī),2、ZYGO干涉儀,3、標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡,4、旋轉(zhuǎn)平臺(tái),5、平面反射鏡,6、平面光柵。具體實(shí)施方式以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本技術(shù)進(jìn)行詳細(xì)說明。一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng)如圖I所示,包括平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置、平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路、平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路;A)所述的平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置包括計(jì)算機(jī)I、ZYGO干涉儀2、標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡3、旋轉(zhuǎn)平臺(tái)4、平面反射鏡5,平面光柵6 ;ZYG0干涉儀2為GPI XP/D型號(hào)激光干涉儀,內(nèi)置激光器為氦-氖激光器;通過數(shù)據(jù)線與計(jì)算機(jī)I連接,標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡3安裝在ZYGO干涉儀2上,平面光柵6置于旋轉(zhuǎn)平臺(tái)4上,旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上設(shè)置有轉(zhuǎn)動(dòng)角度刻度值,旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上的平面光柵與平面反射鏡5置于光路中;B)平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路如圖2所示激光從ZYGO干涉儀2中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡3與旋轉(zhuǎn)平臺(tái)4上平面光柵6的法線構(gòu)成入射角,所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上平面光柵的入射角等于衍射角;C)平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路如圖3所示,激光從ZYGO干涉儀2中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡3、平面光柵6到達(dá)平面反射鏡5,平面反射鏡與平面光柵6衍射光垂直,衍射光作為測(cè)量波面經(jīng)平面反射鏡5反射,沿原路返回ZYGO干涉儀2。本技術(shù)一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng)的工作原理如下位于ZYGO干涉儀2中的檢測(cè)激光源發(fā)出檢測(cè)激光,安裝在輸出孔之前的標(biāo)準(zhǔn)透射器件(即標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡3)將部分激光反射回ZYGO干涉儀2,形成參考波面。余下激光穿過標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡3至平面光柵。檢測(cè)平面衍射光柵正級(jí)次衍射波前時(shí),根據(jù)光柵公式d(sin Θ j+sin Θ 2) =k λ ,當(dāng)入射角等于衍射角時(shí),即θ 1= Θ 2, 2d sin Θ 1=k λ,k為衍射級(jí)次,λ為入射光波長(zhǎng)。因此確定檢測(cè)k級(jí)衍射光的波前時(shí)的入射角本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
    一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng),包括:平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置、平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路、平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路;其特征在于:A)所述的平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置包括:ZYGO干涉儀、計(jì)算機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡、旋轉(zhuǎn)平臺(tái)、平面反射鏡,平面光柵;其中標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡安裝在ZYGO干涉儀上,ZYGO干涉儀內(nèi)置激光儀,通過數(shù)據(jù)線與計(jì)算機(jī)連接,平面光柵置于旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上,旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上的平面光柵與平面反射鏡置于光路中;B)平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路:激光從ZYGO干涉儀中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡后,與旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上平面光柵的法線構(gòu)成入射角,所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上平面光柵的入射角等于衍射角;C)平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路,激光從ZYGO干涉儀中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡、平面光柵到達(dá)平面反射鏡,平面反射鏡與平面光柵衍射光垂直,衍射光作為測(cè)量波面經(jīng)平面反射鏡反射,沿原路返回ZYGO干涉儀。

    【技術(shù)特征摘要】
    1.一種平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)系統(tǒng),包括平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置、平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路、平面光柵負(fù)級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路;其特征在于 A)所述的平面衍射光柵衍射波前檢測(cè)裝置包括ZYGO干涉儀、計(jì)算機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡、旋轉(zhuǎn)平臺(tái)、平面反射鏡,平面光柵;其中標(biāo)準(zhǔn)平面透鏡安裝在ZYGO干涉儀上,ZYGO干涉儀內(nèi)置激光儀,通過數(shù)據(jù)線與計(jì)算機(jī)連接,平面光柵置于旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上,旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上的平面光柵與平面反射鏡置于光路中; B)平面光柵正級(jí)次衍射波前檢測(cè)的入射光與衍射光光路激光從ZYGO干涉儀中的激光器射出,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)平面透...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:錢林勇,黃元申,徐邦聯(lián)王琦張大偉,陶春先,倪爭(zhēng)技,莊松林,
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:上海理工大學(xué)
    類型:實(shí)用新型
    國(guó)別省市:

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