一種PCB原物料檢測研磨流程。為提供一種提高加工PCB品質、大幅提高良品率、節省檢測時間、物力及人力、大幅降低制造成本的印刷電路板加工工具的檢測研磨流程,提出本發明專利技術,它包括進料;經由自動光學檢測系統檢測分類為良品與不良品,且記錄資料;經檢測判定為良品或不良品的微小鉆頭;在經包裝機時,其會依讀取的記錄資料,分別將良品或不良品設置不同的容置器具內,并依序分類包裝好;經包裝好的良品將入庫存放/送至生產線開始作業;對經上線使用一段時間后/于包裝檢測判定為不良品進行再研磨;而經研磨后的原物料再回到檢測、包裝、上線/庫存及步再研磨;對無法再研磨的為微小鉆頭的原物料直接自檢測流程中剔除報廢。(*該技術在2021年保護過期,可自由使用*)
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于印刷電路板加工工具的檢測研磨流程,特別是一種PCB原物料檢測研磨流程。所謂PCB(印刷電路板)原物料在此指的是鉆頭,即為現行加工印刷電路板所使用的原物料微小鉆頭,每次使用過一段時間后,因磨擦導致鉆頭的鋒利邊受損,所以為保持印刷電路板鉆孔的準確度及其孔壁品質,就必須將生產線上的鉆頭換下,而換下的鉆頭須經檢測及再研磨,才可重復使用。然,目前,此項作業大多委外研磨廠以人工代為處理,而此種人工處理又皆是以目測方式檢測鉆頭,故,所檢測出的鉆頭品質參差不齊,且因受限于人力、物力及時間的不足,使得在整批鉆頭檢測研磨后,只能從中取樣抽測后就回廠上線作業,也因此有可能導致線上作業的諸多不順,例如造成PCB的孔洞表面起毛邊或孔洞歪斜擴大及鉆頭斷裂等。若諸如此類情事不斷發生,將會造成生產效率的降低,而且PCB的不良率自然也就會攀升,其品質相對的也就會下降。本專利技術包括如下步驟進料 其為檢測啟始流程,系將微小鉆頭進料;檢測系為在微小鉆頭進料后,須經由自動光學檢測系統檢測分類,并將受檢測的微小鉆頭分為良品與不良品,且記錄資料;包裝經檢測判定為良品或不良品的微小鉆頭;在經包裝機時,其會依讀取的記錄資料,分別將良品或不良品設置不同的容置器具內,并依序分類包裝好;上線/庫存經包裝好的良品將入庫存放/送至生產線開始作業;再研磨對經上線使用一段時間后/于包裝檢測判定為不良品進行再研磨;而經研磨后的原物料再回到檢測、包裝、上線/庫存及步再研磨;報廢若為微小鉆頭的原物料在再研磨中無法再研磨時,則將為微小鉆頭的原物料直接自檢測流程中剔除報廢。其中檢測步驟系應用自動檢查機檢測,其檢測流程包括系統會第一支為微小鉆頭的原物料依序開始執行自動檢測;先以標準規格檢測;判斷是否合格;存入良品/不良品資料檔;若合格則判定為良品,并存入盤號后加良品的資料檔/若不合格則判定為不良品,并存入盤號后加不良品的資料檔。包裝步驟系以自動上環包裝機包裝,其包裝流程包括經由檢測步驟分級歸類存檔后,由自動檢查機向自動上環包裝機自動傳輸良品資料;自動上環包裝機接收良品資料;將良品包裝入庫;經由檢測步驟分級歸類存檔后,以手動方式向自動上環包裝機自動傳輸不良品資料;自動上環包裝機接收不良品資料;將不良品包裝成十支裝;進行再研磨的步驟。由于本專利技術包括檢測啟始流程,系將微小鉆頭進料;經由自動光學檢測系統檢測分類,并將受檢測的微小鉆頭分為良品與不良品,且記錄資料;經檢測判定為良品或不良品的微小鉆頭;在經包裝機時,其會依讀取的記錄資料,分別將良品或不良品設置不同的容置器具內,并依序分類包裝好;經包裝好的良品將入庫存放/送至生產線開始作業;對經上線使用一段時間后/于包裝檢測判定為不良品進行再研磨;而經研磨后的原物料再回到檢測、包裝、上線/庫存及步再研磨;對無法再研磨的為微小鉆頭的原物料直接自檢測流程中剔除報廢。本專利技術藉由上述檢測研磨流程,保障在生產線上作業的原物料保持在最佳的狀態,并生產出大幅提高良品率的高品質的PCB,同時節省檢測時間、物力及人力上的花費,并大幅降低制造成本者。不僅提高加工PCB品質、大幅提高良品率,而且節省檢測時間、物力及人力、大幅降低制造成本,從而達到本專利技術的目的。圖2、為本專利技術自動檢查機檢測流程示意圖。圖3、為本專利技術自動包裝機檢測流程示意圖。經檢測判定為良品或不良品的微小鉆頭;在經包裝機時,其會依讀取的記錄資料,分別將良品或不良品設置不同的容置器具內,并依序分類包裝好;步驟4上線/庫存經包裝好的良品將入庫存放/送至生產線開始作業;步驟5再研磨對經步驟4使用一段時間后/于步驟3檢測判定為不良品進行再研磨;而經研磨后的原物料再回到步驟2檢測、步驟3包裝、步驟4上線/庫存及步驟5再研磨;步驟六報廢若為微小鉆頭的原物料在步驟5中無法再研磨時,則將為微小鉆頭的原物料直接自檢測流程中剔除報廢。藉由上述檢測流程,保障在生產線上作業的原物料保持在最佳的狀態,并生產出大幅提高良品率的高品質的PCB,同時節省檢測時間、物力及人力上的花費,并大幅降低制造成本者。在上述檢測流程中,為微小鉆頭的原物料在步驟2所使用的光學檢測系統,系為自動檢查機,其目的旨在執行對微小鉆頭的原物料的良品判別。自動檢查機在執行檢測前,需先設定為微小鉆頭的原物料的外徑尺寸、選擇針盤方向、輸入盤號、調整焦距及放大倍率后,即可開始進行檢測。如圖2所示,本專利技術步驟2應用自動檢查機的檢測流程包括開始檢測21系統會第一支為微小鉆頭的原物料依序開始執行自動檢測;檢測22先以標準規格檢測;判斷23 判斷是否合格;存入資料檔24/26若合格則判定為良品,并存入盤號后加良品的資料檔/若不合格則判定為不良品,并存入盤號后加不良品的資料檔;繼續下一支檢測25。當為微小鉆頭的原物料于步驟二檢測分類完畢后,即進行步驟三包裝,即以自動上環包裝機進行包裝。如圖3所示,本專利技術步驟3以自動上環包裝機的包裝流程包括傳輸良品資料31經由步驟二分級歸類存檔后,由自動檢查機向自動上環包裝機自動傳輸良品資料;接收良品資料32自動上環包裝機接收良品資料;入庫4將良品包裝入庫傳輸不良品資料33經由步驟2分級歸類存檔后,以手動方式向自動上環包裝機自動傳輸不良品資料;接收不良品資料34自動上環包裝機接收不良品資料;包裝35將不良品包裝成十支裝;再研磨5進行再研磨的步驟。權利要求1.一種PCB原物料檢測研磨流程,其特征在于它包括進料其為檢測啟始流程,系將微小鉆頭進料;檢測系為在微小鉆頭進料后,須經由自動光學檢測系統檢測分類,并將受檢測的微小鉆頭分為良品與不良品,且記錄資料;包裝經檢測判定為良品或不良品的微小鉆頭;在經包裝機時,其會依讀取的記錄資料,分別將良品或不良品設置不同的容置器具內,并依序分類包裝好;上線/庫存經包裝好的良品將入庫存放/送至生產線開始作業;再研磨對經上線使用一段時間后/于包裝檢測判定為不良品進行再研磨;而經研磨后的原物料再回到檢測、包裝、上線/庫存及步再研磨;報廢若為微小鉆頭的原物料在再研磨中無法再研磨時,則將為微小鉆頭的原物料直接自檢測流程中剔除報廢。2.根據權利要求1所述的PCB原物料檢測研磨流程,其特征在于所述的檢測步驟系應用自動檢查機檢測,其檢測流程包括系統會第一支為微小鉆頭的原物料依序開始執行自動檢測;先以標準規格檢測;判斷是否合格;存入良品/不良品資料檔;若合格則判定為良品,并存入盤號后加良品的資料檔/若不合格則判定為不良品,并存入盤號后加不良品的資料檔。3.根據權利要求1所述的PCB原物料檢測研磨流程,其特征在于所述的包裝步驟系以自動上環包裝機包裝,其包裝流程包括經由檢測步驟分級歸類存檔后,由自動檢查機向自動上環包裝機自動傳輸良品資料;自動上環包裝機接收良品資料;將良品包裝入庫;經由檢測步驟分級歸類存檔后,以手動方式向自動上環包裝機自動傳輸不良品資料;自動上環包裝機接收不良品資料;將不良品包裝成十支裝;進行再研磨的步驟。全文摘要一種PCB原物料檢測研磨流程。為提供一種提高加工PCB品質、大幅提高良品率、節省檢測時間、物力及人力、大幅降低制造成本的印刷電路板加工工具的檢測研磨流程,提出本專利技術,它包括進料;經由自動光學檢測系統檢測分類為良品與不良品,且記錄資料;經檢測判定為良品或不良品的微小鉆頭;在經包本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種PCB原物料檢測研磨流程,其特征在于它包括:進料:其為檢測啟始流程,系將微小鉆頭進料;檢測:系為在微小鉆頭進料后,須經由自動光學檢測系統檢測分類,并將受檢測的微小鉆頭分為良品與不良品,且記錄資料;包裝:經檢測判定 為良品或不良品的微小鉆頭;在經包裝機時,其會依讀取的記錄資料,分別將良品或不良品設置不同的容置器具內,并依序分類包裝好;上線/庫存:經包裝好的良品將入庫存放/送至生產線開始作業;再研磨:對經上線使用一段時間后/于包裝檢測判定 為不良品進行再研磨;而經研磨后的原物料再回到檢測、包裝、上線/庫存及步再研磨;報廢:若為微小鉆頭的原物料在再研磨中無法再研磨時,則將為微小鉆頭的原物料直接自檢測流程中剔除報廢。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員:鐘杰賜,
申請(專利權)人:凱崴電子股份有限公司,
類型:發明
國別省市:71[中國|臺灣]
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