電性測試裝置及系統制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種電性測試裝置及系統，包括一個基板，所述基板上設有至少一個芯片卡槽，所述芯片卡槽中設有至少一根與一個芯片管腳形成電連接的管腳延長導線，每根所述管腳延長導線從所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管腳延長導線均在所述基板的表面上形成一個探測點。本實用新型專利技術結構簡單，檢測芯片時不會受到管腳過細、管腳間距過小的干擾，并且操作省時省力，整個裝置的成本低廉。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及ー種測試裝置及系統，特別涉及ー種用于測試芯片等測試樣品的電學特性的裝置及系統。
技術介紹
芯片是ー種常見的電子元件，在很多時候，需要檢測芯片的電學特性，例如芯片上某兩個管腳之間的電阻值。這些檢測都離不開將特定的測試裝置用導線和芯片上的特定管 腳電連接。ー個最直接的例子就是用萬用表的兩個表筆來檢測芯片上某兩個管腳之間的電阻值大小。另外還有一些更為精密的測試儀器，能夠實現更加豐富的芯片測試功能，但在將需要測試的芯片管腳和測試儀器相互電連接時，都離不開探測頭和芯片管腳的物理觸碰。由于現在芯片的體積日趨微型化，這樣ー來，芯片的管腳就不可避免地要變得更細小，管腳之間變得更加靠近。在市面上，管腳間距在0. 5mm甚至更小的芯片比比皆是。在檢測這種小管腳間距的芯片時，一種比較常見的辦法是用探針來接觸管腳。例如，在萬用表的兩個表筆上分別連接ー根細針，用針尖去觸碰管腳。這種方法操作起來很麻煩，不僅細針的針尖無法和管腳固定，而且操作者的手在自然抖動時就很容易超過0. 5mm的幅度，容易發生脫接或錯接。這種測試方法可靠性很差且費時費力。一種改進的方法是將芯片固定在一個設有顯微鏡的檢測臺上，在顯微鏡下觀察芯片的管腳，并用探針來點測。這種方法在操作時很容易觀察探針和管腳是否連接可靠，但是操作起來還是很麻煩，因為顯微鏡在觀察時需要貼近芯片，為了避免移動探針或者更換芯片時觸碰到顯微鏡的鏡頭，毎次更換探針點測位置時，都需要抬起顯微鏡，操作起來費時費力。另外，這種測試方法中裝置的成本也比較高。
技術實現思路
本技術是為了克服上述現有技術中的缺陷，提供ー種電性測試裝置及系統，其結構簡単，檢測時不會受到芯片等測試樣品管腳過細、管腳間距過小的干擾，并且操作省時省力，整個裝置及系統的成本低廉。為實現上述目的，本技術提供如下技術方案—種電性測試裝置，包括ー個基板，所述基板上設有至少ー個芯片卡槽，所述芯片卡槽中設有至少ー根與一個芯片管腳形成電連接的管腳延長導線，每根所述管腳延長導線從所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管腳延長導線均在所述基板的表面上形成一個探測點。進ー步地，所述探測點的直徑可以至少為1mm。進ー步地，所述管腳延長導線可以是至少兩根，并且任意兩根所述管腳延長導線形成的所述探測點彼此的間距至少為2mm。進ー步地，所述管腳延長導線可以是復數個，并且所述管腳延長導線的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標準布置。ー種電性測試裝置，包括ー個基板，所述基板上設有至少ー個用于卡接測試樣品的管腳的卡槽，所述卡槽中設有至少ー根與一個測試樣品的管腳形成電連接的管腳延長導線，每根管腳延長導線從所述卡槽中延伸到所述基板上，每根管腳延長導線均在所述基板的表面上形成一個探測點。進ー步地，所述探測點的直徑可以至少為1mm。進ー步地，所述管腳延長導線可以是至少兩根，并且任意兩根所述管腳延長導線形成的所述探測點彼此的間距至少為2mm。進ー步地，所述管腳延長導線是復數個，并且所述管腳延長導線的寬度和相互的 間距按照芯片管腳的封裝標準布置ー種電性測試系統，包括前述的電性測試裝置，還包括測試器件。進ー步地，所述測試器件可包括測試筆，所述測試筆放置于所述探測點上進行電性測試。進ー步地，所述測試器件還可包括與所述測試筆相連的電性測試設備，所述電性測試設備包括萬用表、電性測試臺或精密測試儀器。與現有技術相比，本技術的一個或多個實施例具有如下有益效果I、芯片或其他具有管腳的測試樣品安裝在卡槽(或芯片卡槽)內，管腳和管腳延長導線之間形成可靠的電連接，不會在檢測過程中因為碰撞或者晃動而發生連接不良或者錯接，這樣ー來，可以使本技術的設計不僅適用于芯片，也適用于對包含了由芯片組成的系統模塊等進行相應的電性測試。2、管腳延長導線和探測點的設計相當于把管腳之間的間距進行了放大，使得檢測裝置上的探筆、探頭或者探針在目測時就容易找準檢測點位，操作起來相當方便快捷。3、整個裝置的結構簡單，測試精度高、成本低廉。4、提出了ー種更為快捷、方便的檢測方式，節省時間和效率。5、本技術可加快IC設計領域的研發驗證周期，以及可以創造出新的工程模式。附圖說明圖I是實施例I的電路原理圖；圖2是實施例I的裝置結構示意圖。結合附圖在其上標記以下附圖標記I-基板，2-卡槽，3-管腳延長導線，4-探測點，5-芯片，6_管腳。具體實施方式以下結合附圖，對本技術的優選具體實施方式進行詳細描述，但應當理解本技術的保護范圍并不受具體實施方式的限制。實施例一如圖I至圖2所示，本實施例中的電性測試裝置用于檢測具有八個管腳6的芯片5。該電性檢測裝置包括ー個基板1，基板I上設有ー個卡槽2 (也可以稱為芯片卡槽)，卡槽2中設有八根分別與八個管腳6形成電連接的管腳延長導線3，每根管腳延長導線3從卡槽2中延伸到基板I上，每根管腳延長導線3均在基板I的表面上形成一個探測點4。這樣的結構可以使檢測芯片的電性特征時，探筆或探針等工具落在探測點4上就能夠進行檢測，從而避免了管腳6自身過細、間距過窄造成的不便。為了給操作者留出充裕的空間，可以在目測的條件下優質快速地完成檢測，探測點4的直徑優選為Imm或者更大，任意兩個探測點4彼此之間的間距優選為2mm或者更大。為使芯片5可以很好的插入卡槽2，管腳延長導線3可以是復數個，并且管腳延長導線3的寬度和相互的間距可以按照芯片管腳的封裝標準布置。實施例ニ本實施例是在前一實施例的基礎上提供ー種電性測試裝置，其中作為測試樣品的不再是芯片，而是其他具有管腳的非芯片對象，例如通過芯片組成的測試系統模塊等。由于本實施例的電路連接原理與前一實施例完全相同，所以不再對具體結構進行復述。實施例三本實施例是在實施例ニ的基礎上提供ー種電性測試系統，包括前述的電性測試裝置，還包括測試器件。進ー步地，測試器件可以包括測試筆。在測試時，將測試筆放置于探測點上進行電性測試。進ー步地，測試器件還可以包括與測試筆相連的電性測試設備，例如萬用表、電性測試臺或精密測試儀器等。在上述實施例中，作為測試樣品的芯片5僅僅是一種示例性而非限制性的舉例。任何具有管腳的類似于芯片的器件，均可以應用到上述實施例中作為電性檢測的測試樣品。本技術將芯片較小尺寸的管腳轉接為測試裝置基板的外圍大尺寸，從而有效地進行電性能測試，測試精度高；接觸測試的芯片等樣品時使用常規表筆即可完成，可以不用探針臺和/或顯微鏡，有著很強的通用性并且節省了空間；裝置本身使用芯片卡槽(或卡槽)的弾性夾緊方式固定測試樣品，增加測試時樣品的穩定性；本新型可以手持測試表或測試筆進行對探測點的測試，而不是像現有技術中調節精密的探針軸，操作起來方便快捷。此夕卜，使用本技術觀察測試樣品時，直接目視裝置上的測試點，不用去在顯微鏡下觀察，省去了大量的時間。應當理解，上述實施例及附圖I和2中的芯片5的管腳6的數目僅僅是一個示例性的內容，不代表對本技術技術方案的限制。本領域技術人員很容易就可以判斷，本技術的設計思路同樣可以適用于具有其他管腳數目的芯片或其他測試樣品上并達到同樣的技術效果，例如4個、6個或者更多個管腳的芯片或其他測試樣品。以上公開的僅為本技術的較優具體實施例，但是，本技術并非局限于此，任何本領域的技術人員能思之本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電性測試裝置，其特征在于，包括一個基板，所述基板上設有至少一個芯片卡槽，所述芯片卡槽中設有至少一根與一個芯片管腳形成電連接的管腳延長導線，每根所述管腳延長導線從所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管腳延長導線均在所述基板的表面上形成一個探測點。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：張弓長，王文赫，曾元宏，
申請(專利權)人：國網電力科學研究院，國家電網公司，
類型：實用新型
國別省市：