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本實用新型公開了一種電性測試裝置及系統，包括一個基板，所述基板上設有至少一個芯片卡槽，所述芯片卡槽中設有至少一根與一個芯片管腳形成電連接的管腳延長導線，每根所述管腳延長導線從所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管腳延長導線均在所述基板的...該專利屬于國網電力科學研究院;國家電網公司所有，僅供學習研究參考，未經過國網電力科學研究院;國家電網公司授權不得商用。
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本實用新型公開了一種電性測試裝置及系統，包括一個基板，所述基板上設有至少一個芯片卡槽，所述芯片卡槽中設有至少一根與一個芯片管腳形成電連接的管腳延長導線，每根所述管腳延長導線從所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管腳延長導線均在所述基板的...