光學測量設備和芯片壽命判斷方法技術

本發明專利技術提供了一種光學測量設備和芯片壽命判斷方法。該光學測量設備包括光照射部，其被配置為將光照射到流過可拆卸芯片中的流路的樣品上；光檢測部，其被配置為檢測當被光照射部用光照射時從樣品發出的光信息；以及判斷部，其被配置為基于通過光檢測部檢測到的光信息，判斷出芯片更換時期。

【技術實現步驟摘要】

本公開涉及一種，更具體地，涉及一種光學測量設備，其包括通過光學檢測流過可拆卸芯片中的流路的樣品來判斷芯片壽命的判斷部分；以及一種芯片壽命判斷方法，其用于通過光學檢測流過可拆卸芯片中的流路的樣品來判斷芯片壽命。
技術介紹
近年來，隨著分析技術的發展，正在開發使諸如細胞和微生物的生物微粒、諸如微球的微粒等流過流路以在流動過程中單獨測量微粒并分析和分選被測微粒的技術，以及使用這一技術的光學測量設備。 作為使用流路分析或分選微粒的這一技術的典型實例，技術上正在改善被稱為流式細胞術的分析技術。此外，在流式細胞術中，正開始使用可拆卸微芯片。例如，已知包括鞘液可流過其的流路和用于將樣品液導入流過該流路的鞘液層流中的微管的微芯片(例如，見日本專利申請公開第2010-54492號)。如流式細胞術的在流路中分析和分選微粒的技術被廣泛用于各種領域，諸如醫學領域、藥物開發領域、臨床檢查領域、食品領域、農業領域、工程領域、法醫學領域以及犯罪鑒別領域。尤其在醫學領域，該技術在病理學、腫瘤免疫學、移植學、遺傳學、再生醫學、化學療法等中發揮著重要作用。如上所述在光學測量設備中，為通過減少設備清洗等來提高測量精度或提高工作效率，在許多情況下使用可拆卸微芯片，尤其在預定期間之后可隨意處置的芯片。然而，實際上，用戶會長時間使用該芯片，或者在清洗它之后再使用它。此外，由于用戶基于經驗或通過直覺來判斷可拆卸芯片的壽命，所以有光學測量設備的測量精度可能降低或易于發生缺陷的問題。
技術實現思路
需要一種能在芯片更換時期(下文中，也被稱為“芯片壽命”)提醒用戶更換芯片而無需依賴個人經驗或直覺的方法和設備。考慮到如上所述情況，存在對用于提醒用戶更換芯片的的需求。根據本公開的實施方式，提供了一種光學測量設備，包括光照射部，其被配置為將光照射到流過可拆卸芯片中的流路的樣品上；光檢測部，其被配置為檢測當被光照射部用光照射時從樣品發出的光信息；以及判斷部，其被配置為基于通過光檢測部檢測到的光信息，判斷出芯片更換時期。采用該結構，無需依賴個人用戶的經驗或直覺即能判斷芯片壽命(更換時期)，并能對具有較少差異的每個芯片穩定地做出這一判斷。此外，根據用戶對測量目的、目標等的需求來如下自由改變條件設置也變得可能。該光學測量設備還可包括芯片信息識別部，其被配置為從標識符識別芯片信息。在該情況下，判斷部可基于光學信息和芯片信息中的至少一個來判斷芯片的更換時期。采用該結構，能更精確地把握芯片的使用狀態。可基于閾值來選擇光信息。采用該結構，使得在判斷芯片壽命(更換時期)時消除易于引起判斷錯誤的噪聲變得可能。因此，可很容易且無差異地對每個芯片進行壽命判斷。當基于光學信息所計算的樣品數量達到最大計數的恒定值時，判斷部可判斷出當前是芯片的更換時期。當自基于光學信息判斷出同時測量了大量樣品后，已經過一定時間時，判斷部可判斷出當前是芯片的更換時期。當基于光學信息所計算的樣品尺寸達到關于樣品尺寸的最大累計值的恒定值時，判斷部可判斷出當前是芯片的更換時期。根據本公開的實施方式，提供了一種芯片壽命判斷方法，包括將光照射到流過可 拆卸芯片中的流路的樣品上；檢測當用光照射時從樣品發出的光信息；以及基于檢測到的光信息，判斷出芯片的更換時期。這里，本公開使用的“樣品”是能夠流過流路的物質，且例如是生物相關微粒，諸如細胞、微生物、脂質體、DNA以及蛋白質；或者是合成微粒，諸如膠乳顆粒、凝膠顆粒以及工業顆粒。根據本公開的實施方式，使得無需依賴個人用戶的經驗或直覺即能提醒用戶更換芯片變得可能。根據以下對如附圖所示的最佳形式的實施方式的詳細描述，本公開的這些和其他目標、特征和優勢將變得更加明顯。附圖說明圖I是示出根據本公開第一實施方式的光學測量設備I的示意性概念圖；圖2是示出根據本公開第一實施方式的光學測量設備I的示意性概念圖；圖3是示出根據本公開實施方式的流程I的芯片壽命判斷方法的流程圖；圖4是示出根據本公開實施方式的流程2的芯片壽命判斷方法的流程圖；圖5是示出根據本公開實施方式的流程3的芯片壽命判斷方法的流程圖；圖6是示出根據本公開實施方式的流程4的芯片壽命判斷方法的流程圖；圖7是示出根據本公開實施方式的流程5的芯片壽命判斷方法的流程圖；圖8是示出在2個樣品S同時大量流過來的情況下(顆粒數量為2和3的情況下)光學信息(脈沖信號等)的狀態的一個實例的替代數字的曲線圖；圖9是示出判斷部的結構的框圖；以及圖10是示出在每秒10000個事件X 60秒X 5次是每個芯片的壽命的情況下的累計事件(脈沖信號等)的數量的曲線圖。具體實施例方式下文中，將參照附圖來描述本公開的實施方式。應當注意，以下實施方式是本公開典型實施方式的實例，且本公開的范圍不應被狹窄地解釋。應當注意，將按照以下順序來給出描述。I.光學測量設備(I)芯片(2)光照射部(3)光檢測部(4)電信號轉換部/AD轉換部(5)芯片信息識別部(6)判斷部2.芯片壽命判斷方法 3.流式細胞術〈I.光學測量設備〉圖I和圖2是各自示出根據本公開第一實施方式的光學測量設備I的示意性概念圖；按照大致分類，本公開的光學測量設備I至少包括光照射部11、光檢測部12以及判斷部13。包括流路2的可拆卸芯片(基底T)可安裝在光學測量設備I上。當芯片(基底T)具有標識符I時，光學測量設備I可包括根據標識符I來識別芯片信息的芯片信息識別部。光學測量設備I還可包括將光信息轉換為電信號(光脈沖)的電信號轉換部(未不出)以及執行模擬-數字轉換的AD轉換部(未示出)。應當注意，本公開的光學測量設備I還可包括調節芯片中流路2的層流的部分、溫度控制器、分選部以及控制各部分功能的控制器。此外，控制器可執行由判斷部、芯片信息識別部、電信號轉換部、AD轉換部等實施的處理。根據本公開，使得無需依賴個人用戶的經驗或直覺即能判斷芯片更換時期(芯片壽命)并由此提醒用戶更換芯片變得可能。換句話說，根據本公開，使得自動計算和預測包括芯片使用頻率和使用時期的芯片使用狀態并提醒用戶更換已經或即將使用一定量/時期以上的芯片變得可能。此外，由于可減小每個芯片的壽命判斷上的差異，所以能穩定且有效地執行芯片更換。此外，也使得根據用戶對測量目的、目標等的需求來自由改變對芯片壽命的條件設置變得可能。此外，能實時判斷芯片壽命。因此，能夠更精確地把握芯片使用狀態，并可由此減少光學測量中的運行成本。( I)芯片本公開的光學測量設備I可配備有包括流路2的可拆卸芯片(基底T)。例如，芯片的安裝位置是光照射部11與光檢測部12之間的位置。例如，可安裝立式芯片或橫式芯片。此外，期望該芯片具有利用其可獲得芯片信息的標識符1(作為一個實例，見圖2)。標識符I的位置不具體限定。例如，標識符I可被分配至芯片外殼、可粘附至芯片、可結合到芯片體中或者可拆卸。采用該結構，由于能很容易把握各芯片的包括使用頻率和使用時期的芯片使用狀態，所以能精確判斷各芯片的更換時期。這里，標識符I的實例包括條形碼、數據矩陣條形碼、高頻波(RFID)、標記、字符以及形狀(凹凸形、突起、切口、溝槽等)。經由芯片信息識別部可從標識符I獲得芯片信息。芯片信息包括有關芯片壽命(更換時期)的信息。芯片信息的實例包括關于各芯片的區分、芯片使用頻率、芯片的使用時期、使用芯片時設備本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光學測量設備，包括：光照射部，其被配置為將光照射到流過可拆卸芯片中的流路的樣品上；光檢測部，其被配置為檢測當被所述光照射部用光照射時從所述樣品發出的光信息；以及判斷部，其被配置為基于通過所述光檢測部檢測到的所述光信息，判斷出所述芯片的更換時期。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：村木洋介，
申請(專利權)人：索尼公司，
類型：發明
國別省市：