光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)方案

本發(fā)明專利技術(shù)公開一種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其包括第一及第二影像擷取裝置、第一及第二運(yùn)輸裝置，第一與第二影像擷取裝置分別配置于待測(cè)對(duì)象的運(yùn)輸路徑的上下兩側(cè)邊，借由第一運(yùn)輸裝置的運(yùn)輸，使待測(cè)對(duì)象水平通過第一影像擷取裝置以供一表面的影像數(shù)據(jù)擷取，再將待測(cè)對(duì)象轉(zhuǎn)放至第二運(yùn)輸裝置，借由第二運(yùn)輸裝置的運(yùn)輸使待測(cè)對(duì)象水平通過第二影像擷取裝置以供另一表面的影像數(shù)據(jù)擷取，借此，待測(cè)對(duì)象不需經(jīng)過翻轉(zhuǎn)的程序即可進(jìn)行兩個(gè)表面的檢測(cè)，有效地節(jié)省檢測(cè)所需的時(shí)間。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及一種檢測(cè)系統(tǒng)，特別涉及一種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
由于光電業(yè)及電子業(yè)對(duì)于生產(chǎn)線速度的要求也日漸嚴(yán)苛，質(zhì)量檢測(cè)所耗用的時(shí)間成本就顯得相當(dāng)重要。為了提高電子組件的質(zhì)量以及同時(shí)達(dá)到降低成本的目的，質(zhì)量檢測(cè)必須使得電子組件在生產(chǎn)流程完成前發(fā)現(xiàn)缺陷并加以補(bǔ)救或剔除，質(zhì)量檢測(cè)程序除了對(duì)電子組件進(jìn)行電性檢驗(yàn)外，其外觀及表面瑕疵的檢測(cè)也是為相當(dāng)重要的一個(gè)項(xiàng)目。一般來說，用以檢測(cè)電子組件的外觀及表面瑕疵的技術(shù)可借由自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)技術(shù)(Automatic Optical Inspection,AOI)來達(dá)成,通過此一技術(shù)不僅可在電子產(chǎn)品的制作流程中做為終端產(chǎn)品的品管，也能協(xié)助制程監(jiān)控，以及早采取補(bǔ)救的措施。然而，現(xiàn)有的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)如圖I所示，其是借由機(jī)械手臂將待測(cè)對(duì)象從特定位置取出(例如從Tray盤上取出)并放置于圓轉(zhuǎn)盤101上的待測(cè)槽位IOla中，隨著圓轉(zhuǎn)盤101的旋轉(zhuǎn)將待測(cè)對(duì)象轉(zhuǎn)至第一影像擷取裝置103的影像擷取區(qū)以供擷取待測(cè)對(duì)象正面的影像數(shù)據(jù)，之后再轉(zhuǎn)至第一翻轉(zhuǎn)模塊105以將待測(cè)對(duì)象進(jìn)行翻轉(zhuǎn)，之后再轉(zhuǎn)至第二影像擷取裝置107的影像擷取區(qū)以供擷取待測(cè)對(duì)象背面的影像數(shù)據(jù)，最后，再轉(zhuǎn)至第二翻轉(zhuǎn)模塊109以將待測(cè)對(duì)象再次進(jìn)行翻轉(zhuǎn)以翻轉(zhuǎn)回正面，供機(jī)械手臂將檢測(cè)完的待測(cè)對(duì)象依檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分類及放置于專屬的收集盤上。因此，現(xiàn)有的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)受限于圓轉(zhuǎn)盤101的大小限制，使得能承載的待測(cè)對(duì)象數(shù)量受限，而無法有效提升檢測(cè)速率，再者，當(dāng)待測(cè)對(duì)象的尺寸改變時(shí)，圓轉(zhuǎn)盤101上用來固定待測(cè)對(duì)象的待測(cè)槽位IOla也無法快速地變更為合適的尺寸，以及翻轉(zhuǎn)模塊進(jìn)行的兩次翻面動(dòng)作更是延長(zhǎng)了所需的檢測(cè)時(shí)間，種種的限制讓既有的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)無法有效提升檢測(cè)速度及節(jié)省成本。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的其中一個(gè)目的在于節(jié)省光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)所需的測(cè)試時(shí)間。本專利技術(shù)的另一目的在于提供一種可適用各種尺寸待測(cè)對(duì)象的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。本專利技術(shù)的又一目的在于依據(jù)各種尺寸的待測(cè)對(duì)象可供使用者快速地調(diào)整檢測(cè)系統(tǒng)。本專利技術(shù)的又一目的在于可適用于具有針腳的待測(cè)對(duì)象。為達(dá)上述目的及其它目的，本專利技術(shù)所述的用于運(yùn)輸待測(cè)對(duì)象以擷取其影像數(shù)據(jù)的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)包括第一影像擷取裝置，其用以擷取該待測(cè)對(duì)象第一表面的影像數(shù)據(jù);第二影像擷取裝置，其用以擷取該待測(cè)對(duì)象第二表面的影像數(shù)據(jù)，其中該第二表面為該第一表面的相反面，該第二影像擷取裝置與該第一影像擷取裝置分別配置于該待測(cè)對(duì)象的運(yùn)輸路徑的上下兩側(cè)；第一運(yùn)輸裝置，其用于垂直提取及水平運(yùn)輸該待測(cè)對(duì)象，使被提取的該待測(cè)對(duì)象的第一表面通過該第一影像擷取裝置的攝像方向，并用于垂直放置已通過該第一影像擷取裝置的待測(cè)對(duì)象；及第二運(yùn)輸裝置，其用于接取該第一運(yùn)輸裝置放置的待測(cè)對(duì)象及水平運(yùn)輸該待測(cè)對(duì)象，使被接取的該待測(cè)對(duì)象的第二表面通過該第二影像擷取裝置的攝像方向。在其中一個(gè)實(shí)施例中，該第一運(yùn)輸裝置包括吸取器，其用于借由對(duì)該待測(cè)對(duì)象的第二表面的吸附與否來吸取或放開該待測(cè)對(duì)象，該吸取器并用于在垂直方向上移動(dòng)以上升或下降至預(yù)定高度；及第一移動(dòng)平臺(tái)，其具有供該吸取器在垂直方向上移動(dòng)的通道，并于該第一移動(dòng)平臺(tái)底部的通道側(cè)邊具有整平部，該整平部用于使上升至預(yù)定高度的該待測(cè)對(duì)象得以被調(diào)整至預(yù)定的水平位置。其中，該吸取器還可包括用于接觸該待測(cè)對(duì)象的第二表面的軟性吸嘴頭。在其中一個(gè)實(shí)施例中，該第二運(yùn)輸裝置還包括位于頂部的兩個(gè)接取部，這兩個(gè)接取部對(duì)向地分別設(shè)置有供該待側(cè)對(duì)象放置的一凹陷部，并用以借由這兩個(gè)接取部的內(nèi)縮移 動(dòng)夾固被放置的待測(cè)對(duì)象。其中這兩個(gè)接取部中的其中之一可為軟性材質(zhì)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，該第一運(yùn)輸裝置包括多個(gè)吸取器。在其中一個(gè)實(shí)施例中，這些吸取器借由其間于水平方向上的調(diào)整而具有預(yù)定間隔。在其中一個(gè)實(shí)施例中，這些吸取器的數(shù)量為六個(gè)，該第一影像擷取裝置及該第二影像擷取裝置的攝像速率為6800 7200條線/秒。借此，利用第一及第二運(yùn)輸裝置以水平方向上的移動(dòng)作為運(yùn)輸路徑，并于運(yùn)輸路徑兩側(cè)設(shè)有上下顛倒配置的影像擷取裝置，使得待測(cè)對(duì)象的移動(dòng)變的單純化，不需經(jīng)過較耗時(shí)的翻轉(zhuǎn)動(dòng)作就能對(duì)待測(cè)對(duì)象的兩個(gè)正反表面進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，在此架構(gòu)下的檢測(cè)系統(tǒng)可有效地提高檢測(cè)效率還可用來檢測(cè)具有針腳的待測(cè)對(duì)象。附圖說明圖I為現(xiàn)有光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。圖2為本專利技術(shù)實(shí)施例的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的俯視圖。圖3為本專利技術(shù)實(shí)施例的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中第一運(yùn)輸裝置的立體示意圖。圖4為本專利技術(shù)實(shí)施例的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中第一運(yùn)輸裝置與第二運(yùn)輸裝置的立體示意圖。圖5a至5c為本專利技術(shù)實(shí)施例的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中第一運(yùn)輸裝置提取待測(cè)對(duì)象的流程示意圖。圖6a至6c為本專利技術(shù)實(shí)施例的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中第一運(yùn)輸裝置放置待測(cè)對(duì)象至第二運(yùn)輸裝置的流程示意圖。主要組件符號(hào)說明101圓轉(zhuǎn)盤IOla待測(cè)槽位103第一影像擷取裝置105第一翻轉(zhuǎn)模塊107第二影像擷取裝置109第二翻轉(zhuǎn)模塊210第一影像擷取裝置220第二影像擷取裝置230第一運(yùn)輸裝置 232移動(dòng)平臺(tái)234吸取器236 通道238整平部240第二運(yùn)輸裝置242第一接取部242a第一凹陷部244第二接取部244a第二凹陷部2δ0 待測(cè)區(qū)(Tray 盤)260a第一檢測(cè)完成區(qū)260b第二檢測(cè)完成區(qū)300待測(cè)物件具體實(shí)施例方式為充分了解本專利技術(shù)的目的、特征及功效，現(xiàn)借由下述具體的實(shí)施例，并配合所附的圖式，對(duì)本專利技術(shù)做一詳細(xì)說明如下首先請(qǐng)參閱圖2，其為本專利技術(shù)實(shí)施例的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的俯視圖。本專利技術(shù)實(shí)施例中的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)包括第一影像擷取裝置210、第二影像擷取裝置220、第一運(yùn)輸裝置230、第二運(yùn)輸裝置240。至于待測(cè)區(qū)(Tray盤)250則是供待測(cè)對(duì)象的放置，隨著測(cè)試的開始，第一運(yùn)輸裝置230會(huì)在垂直方向上提取待測(cè)區(qū)(Tray盤)250上的待測(cè)對(duì)象，其中，圖2中的箭頭都是指水平面上的移動(dòng)，垂直方向上的移動(dòng)是指垂直于圖2圖面的方向，即法線方向。至于檢測(cè)完畢的待測(cè)對(duì)象就會(huì)依據(jù)檢測(cè)結(jié)果被分別放置于第一及第二檢測(cè)完成區(qū)260a、260b，以作為例如是良品與不良品的區(qū)分。本實(shí)施例中提及的“垂直”方向是指出射或入射圖2圖面的方向，“水平”方向是指平行于圖2圖面的方向。第一影像擷取裝置210用以擷取待測(cè)對(duì)象的第一表面的影像數(shù)據(jù)，而第二影像擷取裝置220用以擷取待測(cè)對(duì)象第二表面的影像數(shù)據(jù)。本專利技術(shù)不需對(duì)待測(cè)對(duì)象進(jìn)行翻轉(zhuǎn)，因此，第一影像擷取裝置210與第二影像擷取裝置220是以相反方向來配置，以圖2來說明，以實(shí)線圓圈表示的第一影像擷取裝置210是指其攝像方向?yàn)槿肷鋱D2紙面的方向，而以虛線圓圈表示的第二影像擷取裝置220是指其攝像方向?yàn)槌錾鋱D2紙面的方向，也就是說，第一影像擷取裝置210與第二影像擷取裝置220會(huì)被配置于待測(cè)對(duì)象的運(yùn)輸路徑的上下兩側(cè)邊，使得待測(cè)對(duì)象的運(yùn)輸路徑都無需改變其方向就能直接被擷取到相反兩面(第一表面及第二表面)的影像數(shù)據(jù)。為了達(dá)到不需翻轉(zhuǎn)待測(cè)對(duì)象的目的，本專利技術(shù)實(shí)施例的第一運(yùn)輸裝置230用于在垂直方向上提取待測(cè)對(duì)象以及在水平方向上運(yùn)輸待測(cè)對(duì)象，使被提取的待測(cè)對(duì)象的第一表面直接通過第一影像擷取裝置210的攝像方向，并在通過后在垂直方向上放置待測(cè)對(duì)象至第二運(yùn)輸裝置240，而第二運(yùn)輸裝置240在接取待測(cè)對(duì)象后即會(huì)在水平方向上運(yùn)輸待測(cè)對(duì)象，使待測(cè)對(duì)象的第二表面直接通過第二影像擷取裝置220的攝像方向，之后再由其它提取設(shè)備將檢本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，用于運(yùn)輸待測(cè)對(duì)象以擷取其影像數(shù)據(jù)，其特征在于，包括：第一影像擷取裝置，其用以擷取該待測(cè)對(duì)象第一表面的影像數(shù)據(jù)；第二影像擷取裝置，其用以擷取該待測(cè)對(duì)象第二表面的影像數(shù)據(jù)，其中該第二表面為該第一表面的相反面，該第二影像擷取裝置與該第一影像擷取裝置分別配置于該待測(cè)對(duì)象的運(yùn)輸路徑的上下兩側(cè)；第一運(yùn)輸裝置，其用于垂直提取及水平運(yùn)輸該待測(cè)對(duì)象，使被提取的該待測(cè)對(duì)象的第一表面通過該第一影像擷取裝置的攝像方向，并用于垂直放置已通過該第一影像擷取裝置的待測(cè)對(duì)象；及第二運(yùn)輸裝置，其用于接取該第一運(yùn)輸裝置放置的待測(cè)對(duì)象及水平運(yùn)輸該待測(cè)對(duì)象，使被接取的該待測(cè)對(duì)象的第二表面通過該第二影像擷取裝置的攝像方向。

【技術(shù)特征摘要】
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【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：汪光夏，蕭武域，邱詩(shī)彰，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：牧德科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：