本實用新型專利技術提供了一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，屬于原子熒光光度計技術領域。本實用新型專利技術包括：原子化器、激發光源、入射光學系統，接收光學系統、光電倍增管和信號采集處理系統，所述激發光源射出的光通過入射光學系統匯聚于原子化器的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統進入光電倍增管并轉化為電信號輸入信號采集處理系統。通過激發光反射裝置或直接測定激發光源散射及背景光信號的方式來計算激發光信號，經處理后反饋于熒光信號測量結果進行數據校正。本實用新型專利技術與現有技術相比具有如下優點：本實用新型專利技術能有效校正光源不穩定性對測量結果的影響，突破了一直以來制約著原子熒光光度計發展的技術瓶頸，提高了儀器的性能指標。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，屬于原子熒光光度計
技術介紹
原子熒光光譜法是一種基于測量分析物氣態自由原子吸收輻射被激發后去激發所發射的特征譜線強度進行定量分析的痕量元素分析方法。原子熒光光譜分析法歷經40余年的不斷發展和完善，現已成為分析實驗室中無機元素最為有效的常用分析技術之一，適用于As、Sb、Bi、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Zn、Cd、Hg等元素的痕量檢測，被廣泛應用于地質、冶金、環境科學、生命科學、食品衛生、材料科學等眾多領域。 現有的原子熒光光度計多采用非色散式光學系統，其結構見圖2，高性能空心陰極燈12作為激發光源，經入射透鏡系統13會聚于原子化器11處，在與激發光源垂直的方向(或與光源成一定角度)，其所激發熒光由接收透鏡系統14進入光電倍增管15并經信號采集處理系統16傳至上位機進行分析。激發光源是原子熒光光度計的一個重要部件，其輻射能量的穩定性直接影響著儀器測量結果重復性和準確性。目前主要用于原子熒光光度計的激發光源為空心陰極燈，其波動對測量結果的影響很大，制約著儀器性能的進一步提高。而現有校正光源波動的技術是在激發光進入原子化器前分出部分光進入光電檢測器，由于熒光信號檢測和激發光信號檢測采用了兩只不同的光電檢測器以及不同的放大電路系統，器件性能差異造成測量結果的不一致，無法很好的校正光源波動。
技術實現思路
本技術的目的是為解決現有的問題，進而提供一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置。本技術的目的是通過以下技術方案實現的一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，包括原子化器、激發光源、入射光學系統，接收光學系統、光電倍增管和信號采集處理系統，所述激發光源射出的光通過入射光學系統匯聚于原子化器的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統進入光電倍增管并轉化為電信號輸入信號采集處理系統。本技術與現有技術相比具有如下優點本技術能有效校正光源不穩定性對測量結果的影響，突破了一直以來制約著原子熒光光度計發展的技術瓶頸，提高了儀器的性能指標。附圖說明圖I為本技術用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置結構示意圖；圖2為現有原子熒光光度計的結構示意圖。具體實施方式下面將結合附圖對本技術做進一步的詳細說明本實施例在以本技術技術方案為前提下進行實施，給出了詳細的實施方式，但本技術的保護范圍不限于下述實施例。如圖I所示，本實施例提供的一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，包括原子化器I、激發光源2、入射光學系統3，接收光學系統4、光電倍增管6和信號采集處理系統7，所述激發光源2射出的光通過入射光學系統3匯聚于原子化器I的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統4進入光電倍增管6并轉化為電信號輸入信號采集處理系統7。上述方案通過測定激發光源散射及背景光信號的方式來計算激發光信號。進一步的，還包括激發光反射裝置5，所述激發光反射裝置5設置在入射光學系統3和接收光學系統4之間的光路上。·所述激發光反射裝置5為機械反光裝置或光學反光裝置。激發光源2所輻射光經置于其后的入射光學系統3匯聚于原子化器I的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統4進入光電倍增管6。激發光源所發出的部分光通過激發光反射裝置5 (可為機械反光裝置或光學反光裝置)進入光電倍增管6，熒光信號與激發光信號通過控制激發光反射裝置5選擇順序進入同一光電倍增管6并轉化為電信號輸入信號采集處理系統7。激發光信號經采集與處理后反饋于熒光信號測量結果進行數據校正，可有效扣除光源波動所帶來的影響。(在圖I中只畫出了單道光學系統的情況，雙道及多道光學系統在單道光學系統的基礎上與圖I中激發光源成一定角度加入1-7只激發光源及相關器件。)在此系統中，熒光信號和激發光信號使用同一光電倍增管和放大電路，避免了光電倍增管及電路器件不一致對測量結果的影響。以上所述，僅為本技術較佳的具體實施方式，這些具體實施方式都是基于本技術整體構思下的不同實現方式，而且本技術的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本
的技術人員在本技術揭露的技術范圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本技術的保護范圍之內。權利要求1.一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，包括原子化器、激發光源、入射光學系統，接收光學系統、光電倍增管和信號采集處理系統，其特征在于，所述激發光源射出的光通過入射光學系統匯聚于原子化器的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統進入光電倍增管并轉化為電信號輸入信號采集處理系統。2.根據權利要求I所述的用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，其特征在于，還包括激發光反射裝置，所述激發光反射裝置設置在入射光學系統和接收光學系統之間的光路上。3.根據權利要求2所述的用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，其特征在于，所述激發光反射裝置為機械反光裝置或光學反光裝置。專利摘要本技術提供了一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，屬于原子熒光光度計
本技術包括原子化器、激發光源、入射光學系統，接收光學系統、光電倍增管和信號采集處理系統，所述激發光源射出的光通過入射光學系統匯聚于原子化器的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統進入光電倍增管并轉化為電信號輸入信號采集處理系統。通過激發光反射裝置或直接測定激發光源散射及背景光信號的方式來計算激發光信號，經處理后反饋于熒光信號測量結果進行數據校正。本技術與現有技術相比具有如下優點本技術能有效校正光源不穩定性對測量結果的影響，突破了一直以來制約著原子熒光光度計發展的技術瓶頸，提高了儀器的性能指標。文檔編號G01N21/01GK202794037SQ201220414279公開日2013年3月13日 申請日期2012年8月20日 優先權日2012年8月20日專利技術者宋雅東, 孫金龍, 陳國偉, 王凌昊 申請人:北京普析通用儀器有限責任公司本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置，包括：原子化器、激發光源、入射光學系統，接收光學系統、光電倍增管和信號采集處理系統，其特征在于，所述激發光源射出的光通過入射光學系統匯聚于原子化器的中心處，所激發熒光信號經接收光學系統進入光電倍增管并轉化為電信號輸入信號采集處理系統。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：宋雅東，孫金龍，陳國偉，王凌昊，
申請(專利權)人：北京普析通用儀器有限責任公司，
類型：實用新型
國別省市：
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