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    一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號(hào):8449583 閱讀:177 留言:0更新日期:2013-03-21 04:16
    一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其特征在于:包括一真空反應(yīng)腔;一基片架,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi),用以放置基片;一基片測(cè)溫模塊,設(shè)于基片架上,用以測(cè)量基片溫度;一氣體導(dǎo)入模塊,與真空反應(yīng)腔連接并與基片架相對(duì),用以向真空反應(yīng)腔內(nèi)輸送N2H4、N2和SiH4氣體;一加熱用催化器,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi)并位于氣體導(dǎo)入模塊與基片架之間,用以對(duì)輸送入真空反應(yīng)腔內(nèi)的氣體進(jìn)行加熱并加快各氣體間的反應(yīng)以形成SiN薄膜;以及一紅外熱溫測(cè)儀,用以檢測(cè)所述加熱用催化器的溫度。本發(fā)明專利技術(shù)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,投入成本低,可大大降低企業(yè)在購(gòu)買(mǎi)設(shè)備中產(chǎn)生的高昂成本。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置。
    技術(shù)介紹
    傳統(tǒng)的在基片上形成SiN薄膜的裝置,主要為磁控濺射鍍膜設(shè)備,缺陷是設(shè)備投入成本高。故有必要提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,投入成本低的用以在基片上形成SiN薄膜的裝置, 以滿足需求。
    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
    本專利技術(shù)的目的在于提供一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,投入成本低。一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其特征在于包括一真空反應(yīng)腔;一基片架,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi),用以放置基片;—基片測(cè)溫模塊,設(shè)于基片架上,用以測(cè)量基片溫度;一氣體導(dǎo)入模塊,與真空反應(yīng)腔連接并與基片架相對(duì),用以向真空反應(yīng)腔內(nèi)輸送N2H4' N2 和 SiH4 氣體;一加熱用催化器,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi)并位于氣體導(dǎo)入模塊與基片架之間,用以對(duì)輸送入真空反應(yīng)腔內(nèi)的氣體進(jìn)行加熱并加快各氣體間的反應(yīng)以形成SiN薄膜;以及一紅外熱溫測(cè)儀,用以檢測(cè)所述加熱用催化器的溫度。本專利技術(shù)之一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,投入成本低,可大大降低企業(yè)在購(gòu)買(mǎi)設(shè)備中產(chǎn)生的高昂成本。本專利技術(shù)可通過(guò)如下方案進(jìn)行改進(jìn)上述所述基片測(cè)溫模塊為一熱電偶,其可將檢測(cè)到的代表基片溫度的熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)發(fā)送至外接的電氣儀表,電氣儀表依據(jù)該熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)顯示基片的溫度值。上述所述氣體導(dǎo)入模塊為一伸入真空反應(yīng)腔內(nèi)的導(dǎo)氣管,該導(dǎo)氣管的伸入端沿水平方向橫向設(shè)置且間隔開(kāi)設(shè)有若干氣嘴。上述所述加熱用催化器為由Th、W和Mo材料制成的加熱線圈,且該加熱線圈與所述基片架平行。上述所述紅外熱溫測(cè)儀設(shè)于真空反應(yīng)腔外,所述真空反應(yīng)腔的側(cè)壁上對(duì)應(yīng)該紅外熱溫測(cè)儀的位置處設(shè)有一可供紅外熱溫測(cè)儀所發(fā)出的紅外光穿透進(jìn)入的透明窗口,紅外熱溫測(cè)儀所發(fā)出的紅外光穿透過(guò)透明窗口后投射在所述加熱用催化器上。本專利技術(shù)還包括抽氣系統(tǒng),該抽氣系統(tǒng)與真空反應(yīng)腔連接并抽吸反應(yīng)尾氣。上述所述抽氣系統(tǒng)包括與真空反應(yīng)腔依次氣路連接的電磁閥和真空泵。附圖說(shuō)明圖I為本專利技術(shù)示意圖。具體實(shí)施例方式如圖I所示,一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,包括一真空反應(yīng)腔I、一基片架、一基片測(cè)溫模塊2、一氣體導(dǎo)入模塊3、一加熱用催化器4、一紅外熱溫測(cè)儀5、以及一抽氣系統(tǒng)。所述基片架,設(shè)于真空反應(yīng)腔I內(nèi),用以放置基片10。所述基片測(cè)溫模塊2,設(shè)于基片架上,用以測(cè)量基片10溫度,其為一熱電偶,可將檢測(cè)到的代表基片溫度的熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)發(fā)送至外接的電氣儀表,電氣儀表依據(jù)該熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)顯示基片的溫度值。本實(shí)施例中,所述基片10的溫度在23(T380度之間,優(yōu)選300度。所述氣體導(dǎo)入模塊3,與真空反應(yīng)腔I連接并與基片架相對(duì),為一伸入真空反應(yīng)腔內(nèi)的導(dǎo)氣管,該導(dǎo)氣管的伸入端沿水平方向橫向設(shè)置且間隔開(kāi)設(shè)有若干氣嘴,用以向真空反應(yīng)腔內(nèi)輸送N2H4、N2和SiH4氣體。本實(shí)施例中,所述N2H4和N2氣體的氣壓與SiH4氣體的氣壓比在(TlO之間,其中,SiH4氣體的氣壓在7 24Pa,SiH4氣體的流量在2 10SCCM。所述加熱用催化器4,為由Th、W和Mo材料制成的加熱線圈,設(shè)于真空反應(yīng)腔I內(nèi)并位于氣體導(dǎo)入模塊3與基片架之間,且與所述基片架平行,用以對(duì)輸送入真空反應(yīng)腔內(nèi)的氣體進(jìn)行加熱并加快各氣體間的反應(yīng)最終在本實(shí)施例中所述的基片10上氣相沉積形成SiN薄膜,其沉積率為100nm/min。本實(shí)施例中,加熱用催化器的溫度在120(Tl390度之間。所述紅外熱溫測(cè)儀5,設(shè)于真空反應(yīng)腔I外,所述真空反應(yīng)腔I的側(cè)壁上對(duì)應(yīng)該紅外熱溫測(cè)儀5的位置處設(shè)有一可供紅外熱溫測(cè)儀5所發(fā)出的紅外光穿透進(jìn)入的透明窗口11,紅外熱溫測(cè)儀5所發(fā)出的紅外光穿透過(guò)透明窗口 11后投射在所述加熱用催化器4上,用以檢測(cè)所述加熱用催化器4的溫度。所述抽氣系統(tǒng),與真空反應(yīng)腔I連接并抽吸反應(yīng)尾氣,包括與真空反應(yīng)腔I依次氣路連接的電磁閥6和真空泵(圖中未示出)。 以上所述僅為本專利技術(shù)的較佳實(shí)施例,并非用來(lái)限定本專利技術(shù)實(shí)施的范圍,凡依本專利技術(shù)專利范圍所做的同等變化與修飾,皆落入本專利技術(shù)專利涵蓋的范圍。本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
    一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其特征在于:包括一真空反應(yīng)腔;一基片架,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi),用以放置基片;一基片測(cè)溫模塊,設(shè)于基片架上,用以測(cè)量基片溫度;一氣體導(dǎo)入模塊,與真空反應(yīng)腔連接并與基片架相對(duì),用以向真空反應(yīng)腔內(nèi)輸送N2H4、N2和SiH4氣體;一加熱用催化器,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi)并位于氣體導(dǎo)入模塊與基片架之間,用以對(duì)輸送入真空反應(yīng)腔內(nèi)的氣體進(jìn)行加熱并加快各氣體間的反應(yīng)以形成SiN薄膜;以及一紅外熱溫測(cè)儀,用以檢測(cè)所述加熱用催化器的溫度。

    【技術(shù)特征摘要】
    1.一種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其特征在于包括 一真空反應(yīng)腔; 一基片架,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi),用以放置基片; 一基片測(cè)溫模塊,設(shè)于基片架上,用以測(cè)量基片溫度; 一氣體導(dǎo)入模塊,與真空反應(yīng)腔連接并與基片架相対,用以向真空反應(yīng)腔內(nèi)輸送n2h4、N2和SiH4氣體; 一加熱用催化器,設(shè)于真空反應(yīng)腔內(nèi)并位于氣體導(dǎo)入模塊與基片架之間,用以對(duì)輸送入真空反應(yīng)腔內(nèi)的氣體進(jìn)行加熱并加快各氣體間的反應(yīng)以形成SiN薄膜;以及 一紅外熱溫測(cè)儀,用以檢測(cè)所述加熱用催化器的溫度。2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其特征在于所述基片測(cè)溫模塊為ー熱電偶,其可將檢測(cè)到的代表基片溫度的熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)發(fā)送至外接的電氣儀表,電氣儀表依據(jù)該熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)顯不基片的溫度值。3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的ー種用以在基片上形成SiN薄膜的裝置,其特征在于所述氣體導(dǎo)入模塊為...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:粟婷,屈生雙,屈宸遠(yuǎn)
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:中山市創(chuàng)科科研技術(shù)服務(wù)有限公司,
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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