【技術實現步驟摘要】
本專利技術主要涉及全差分放大器的設計領域，特指一種帶輸出共模失調校正的增益可編程的全差分放大器。
技術介紹
在現在的模擬CMOS集成電路設計中，特別是射頻 信號接收器中，由于需要對微弱的射頻信號進行量化，通常用ADC將其量化成數字信號，由于射頻信號的變化范圍通常較大，為了達到ADC最好的特性，通常在ADC的前端都會增加一個可編程增益放大器，其目的是根據射頻信號的幅度控制其增益，使得ADC的輸入盡可能保持一定的幅度，從而提高ADC的性能；為了保證抗干擾能力強，此可變增益放大器通常采用全差分結構，然而全差分運放都存在一個問題，即輸出共模失調。當然有很多的方法可解決輸出共模失調的問題，如共模反饋，但無論采用那一種方式，或多或少都存在不足，或精度不夠，或非常復雜，而ADC前全差分運放輸出共模失調會直接影響到ADC的性能，所以如何解決全差分運放的輸出共模失調一直都是一個難點。
技術實現思路
本專利技術要解決的問題就在于針對現有技術存在的技術問題，提出一種帶輸出共模失調校正的增益可編程的全差分放大器。 本專利技術提出的解決方案為電路由兩個單端放大器AMPpAMP2以及一個電阻Rci組成，通過調節Rtl的值，可以改變全差分放大器的增益，通過改變運放內可變電阻來改變輸出共模電平，從而實現一種帶輸出共模失調校正的增益可編程的全差分放大器。附圖說明圖1是本專利技術的電路原理示意圖；圖2是本專利技術電路的仿真結果示意具體實施例方式以下將結合附圖和具體實施對本專利技術做進一步詳細說明。 如圖1所示，本電路由兩個單端放大器AMPpAMP2以及一個電阻Rci組成，通過調節Rci的值...
【技術保護點】
一種帶輸出共模失調校正的增益可編程的全差分放大器，其特征在于：由兩個放大器AMP1、AMP2以及一個電阻R0組成；?AMP1由PMOS管M0、PMOS管M1、PMOS管M2、PMOS管M5、NMOS管M3、NMOS管M4、NMOS管M6、電阻R1、電阻R2、電阻R3以及電容C1組成，IN1是AMP1的輸入端口，接到PMOS管M1的柵極，OUT1為輸出端口，接到PMOS管M5和NMOS管M6的漏極以及電阻R1、電容C1的一端，電阻R1另一端連接到PMOS管M2的柵極，電容C1另一端連接到NMOS管M6的柵極、PMOS管M1的漏極以及NMOS管M3的漏極，PMOS管M0、PMOS管M5的柵極連接到偏置信號VB，它們的源極連接到電源，PMOS管M1、PMOS管M2的源極和PMOS管M0的漏極相連，NMOS管M4的柵漏短接，并與NMOS管M3的柵極相連形成電流鏡結構，PMOS管M2漏極與NMOS管M4的漏極相連，可變電阻R2、R3的一端分別連接到NMOS管M3、M4的源極，另一端接地，NMOS管M6的源極接地；AMP2由PMOS管M7、PMOS管M9、PMOS管M10、PMOS管M11、NMO...
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：蔣仁杰，
申請(專利權)人：長沙景嘉微電子股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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