一種變頻器控制箱老化試驗裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種變頻器控制箱老化試驗裝置，包括電壓和電流老化模塊是模擬變頻器的電壓傳感器和電流傳感器輸出的交變電流信號波形，來老化電壓和電流采集端口；光纖老化模塊是模擬IGBT輸出的光纖反饋信號和/或電機轉速信號并采集控制IGBT動作的信號，對IGBT動作信號進行處理；判斷波形是否與標準波形一致；溫度老化模塊是模擬溫度采集端口采集到的溫度升高，從而完成超溫報警的老化過程；邏輯控制老化模塊是模擬邏輯開關的動作信號的收發，判斷動作是否執行。本發明專利技術的有益效果是：通過長時間的高溫運行，對控制箱的各個部分以及電子元器件進行下線后的全方位老化試驗，確保裝到控制箱的質量；也不會對被老化控制箱造成破壞等優點。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及變頻器的檢測領域，尤其是涉及一種能夠模擬變頻器所有組件和信號的變頻器控制箱老化試驗裝置。
技術介紹
風電變頻器是風力發電領域中必不可少的重要部件之一，隨著科技的進步，單臺變頻器的功率被設計的越來越大，導致整機的控制過程也變的越來越繁瑣，變頻器的控制核心在于控制箱，控制箱控制著變頻器內的所有IGBT，接觸器，各類開關，以及傳感器的聯合工作，它的穩定工作決定了整臺變頻器的工作質量，而控制箱正常運行對于變頻器起著至關重要的作用。在現有的技術中，剛下線的控制箱只是在變頻器上整體運行進行功能測試，測試基本在常溫下運行4-5小時，對于控制箱內的電子器件來說無法做到老化，也就是說對電子器件需要長時間，高溫的條件下進行老化檢測。風機一般是長期在惡劣的自然環境中工作的。尤其，在控制箱內長時間的高溫邏輯控制和信號采集，老化檢測對控制箱內的電子元件來說是必要的，只是盲目的裝在變頻器上進行整機測試，導致控制箱到了工作現場時經常出現故障的技術問題。一旦控制箱隨變頻器發送到風場運行一段時間后出現問題，而導致其他組件無法正常運行，極有可能會導致整臺變頻器故障，風機只能停機進行維修，從而帶來巨大的經濟損失。
技術實現思路
本專利技術要解決的問題是提供一種對剛下線的變頻器控制箱進行老化，作為變頻器的控制箱裝機前的全方位的質量檢測手段的老化試驗裝置。為解決上述技術問題，本專利技術采用的技術方案包括光纖老化模塊、電壓和電流老化模塊、溫度老化模塊、邏輯控制老化模塊、信號源；所述電壓和電流老化模塊是模擬變頻器的電壓傳感器和電流傳感器輸出的交變電流信號波形，來老化被老化控制箱的電壓和電流采集端口 ；所述光纖老化模塊是模擬IGBT輸出的光纖反饋信號和/或電機轉速信號，并且采集被老化控制箱輸出的控制IGBT動作的信號，對采集到的IGBT動作的信號進行處理和分析；判斷波形是否與控制箱工作時的標準波形一致；所述溫度老化模塊是模擬被老化控制箱的溫度采集端口采集到的溫度升高，從而完成超溫報警的老化過程；所述邏輯控制老化模塊是模擬邏輯控制單元的回路，模擬被老化控制箱的邏輯開關的動作信號的發出和接收，判斷動作是否執行；所述信號源是三相高壓信號源。進一步，通過所述電壓傳感器采集信號源電壓值，得到交變電流信號，并將交變電流信號傳給被老化控制箱信號采集板上的電壓和電流信號采集端口。進一步，所述電壓傳感器與電壓和電流信號采集端口之間串聯可調電阻，通過調節可調電阻，來改變信號強度，模擬被老化控制箱不同階段的電流值、過壓值、以及過壓、過流報警。進一步，所述光纖老化模塊包括微處理器、調理電路、老化光纖接收端和老化光纖發射端；微處理器發出PWM波形，經調理電路調理成為老化光纖信號，將老化光纖信號輸出到被老化控制箱的光纖接收端，用來模擬被老化控制箱的IGBT反饋信號；再由老化接收端接收被老化控制箱的發射端的IGBT動作信號，并將接收到的IGBT動作信號傳輸給微處理器進行處理和分析，判斷被老化控制箱控制IGBT動作信號是否符合標準。進一步，所述老化光纖接收端與被老化控制箱的光纖發射端連接，老化光纖發射端與被老化控制箱的光纖接收端連接。進一步，所述溫度老化模塊串聯在被老化控制箱的溫度采集端口與GB端口之間，溫度老化模塊是可調電阻。進一步，所述邏輯控制老化模塊是在被老化控制箱的數字量輸出端串聯繼電器，由于繼電器得電，數字量輸入端得到一個邏輯開關的動作信號；判斷被老化控制箱的邏輯開關動作是否執行。進一步，所述邏輯開關是接觸器、斷路器、風扇中的一種或幾種。進一步，所述信號源的輸入端依次與三相變壓器、斷路器串聯，得到三相高壓電信號。本專利技術具有的優點和積極效果是由于采用上述技術方案，通過長時間的高溫運行，對被老化控制箱的各個部分以及電子元器件進行下線后的全方位老化試驗，確保裝到變頻器上不會出現問題和故障；不會對被老化控制箱造成破壞。本專利技術結構簡單、安全、使測試更加方便；加工成本低、老化檢測效率高等優點。附圖說明圖1是本專利技術的電路原理示意2是本專利技術的信號源的電路原理示意3是本專利技術的電壓和電流老化模塊的電路原理示意4是本專利技術的被老化控制箱的光纖接口電路原理示意5是本專利技術的被老化控制箱的光纖控制端口電路原理示意6是本專利技術的光纖老化模塊接口的電路原理示意7是本專利技術溫度老化模塊的電路原理示意8是本專利技術邏輯控制老化模塊的整體電路原理示意9是本專利技術邏輯控制老化模塊的單路電路原理示意中1、信號源具體實施例方式如圖1所示，本專利技術的技術方案包括光纖老化模塊、電壓和電流老化模塊、溫度老化模塊、邏輯控制老化模塊、信號源；所述電壓和電流老化模塊是模擬變頻器的電壓傳感器和電流傳感器輸出的交變電流信號波形，來老化被老化控制箱的電壓和電流采集端口 ；所述光纖老化模塊是模擬IGBT輸出的光纖反饋信號和/或電機轉速信號，并且采集被老化控制箱輸出的控制IGBT動作的信號，對采集到的IGBT動作的信號進行處理和分析；判斷波形是否與控制箱工作時的標準波形一致；所述溫度老化模塊是模擬被老化控制箱的溫度采集端口采集到的溫度升高，從而完成超溫報警的老化過程；所述邏輯控制老化模塊是模擬邏輯控制單元的回路，模擬被老化控制箱的邏輯開關的動作信號的發出和接收，判斷動作是否執行；所述信號源是三相高壓信號源。如圖2所示，本專利技術所述信號源是三相高壓信號源，信號源的輸入端依次與三相變壓器、斷路器串聯。400V電壓通過變壓器轉換輸出690V高壓電，由三個并聯的電壓傳感器采集三相電壓信號，將交變電流信號輸入到被老化控制箱的信號采集板上的電壓和電流信號采集端口上。如圖3所示，本專利技術的電壓和電流老化模塊是通過所述電壓傳感器采集信號源電壓值，得到交變電流信號，并將交變電流信號傳給被老化控制箱信號采集板上的電壓和電流信號采集端口。由于電壓和電流的波形相同，所以采用電壓傳感器來進行采集電壓值即可得到交變電流信號，通過一定的換算和變比，將采集到的交變電流信號傳輸給被老化控制箱信號采集板上的電壓和電流信號采集端口，從而模擬變頻器的電壓信號和電流信號的米集。進一步，所述電壓傳感器單元與電壓和電流信號采集端口之間串聯可調電阻，通過調節可調電阻，來改變信號強度，模擬被老化控制箱不同階段的電流值、過壓值、以及過壓、過流報警。如圖4、圖5、圖6結合所示，本專利技術所述光纖老化模塊所述光纖老化模塊包括微處理器、調理電路、老化光纖接收端和老化光纖發射端；所述老化光纖接收端與被老化控制箱的光纖發射端連接，老化光纖發射端與被老化控制箱的光纖接收端連接。其中微處理器采用CPLD芯片。CPLD芯片發出PWM波形，經調理電路調理成為老化光纖信號，將老化光纖信號輸出到被老化控制箱的光纖接收端，用來模擬被老化控制箱的IGBT反饋信號及電機轉速信號；再由老化接收端接收被老化控制箱的發射端的IGBT動作信號，并將接收到的IGBT動作信號傳輸給微處理器進行處理和分析，判斷被老化控制箱控制IGBT動作信號是否符合標準。防止新產品長時間運行時由于被老化控制箱控制不當導致的IGBT動作混亂，上下橋臂同時開通等情況，造成不必要的損失。通過光纖老化模塊模擬標準控制箱需要的輸入和輸出光纖信號，并通過光纖相連，如被老化控制箱的光纖發射端的4A 口對應光纖老化模塊的接收端的F4，被老化控制箱的光纖接收端的F5對本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種變頻器控制箱老化試驗裝置，其特征在于：包括光纖老化模塊、電壓和電流老化模塊、溫度老化模塊、邏輯控制老化模塊、信號源；——所述電壓和電流老化模塊是模擬變頻器的電壓傳感器和電流傳感器輸出的交變電流信號波形，來老化被老化控制箱的電壓和電流采集端口；——所述光纖老化模塊是模擬IGBT輸出的光纖反饋信號和/或電機轉速信號，并且采集被老化控制箱輸出的控制IGBT動作的信號，對采集到的IGBT動作的信號進行處理和分析；判斷波形是否與控制箱工作時的標準波形一致；——所述溫度老化模塊是模擬被老化控制箱的溫度采集端口采集到的溫度升高，從而完成超溫報警的老化過程；——所述邏輯控制老化模塊是模擬邏輯控制單元的回路，模擬被老化控制箱的邏輯開關的動作信號的發出和接收，判斷動作是否執行；——所述信號源是三相高壓信號源。

【技術特征摘要】
1.一種變頻器控制箱老化試驗裝置，其特征在于包括光纖老化模塊、電壓和電流老化模塊、溫度老化模塊、邏輯控制老化模塊、信號源； —所述電壓和電流老化模塊是模擬變頻器的電壓傳感器和電流傳感器輸出的交變電流信號波形，來老化被老化控制箱的電壓和電流采集端口 ； ——所述光纖老化模塊是模擬IGBT輸出的光纖反饋信號和/或電機轉速信號，并且采集被老化控制箱輸出的控制IGBT動作的信號，對采集到的IGBT動作的信號進行處理和分析；判斷波形是否與控制箱工作時的標準波形一致； ——所述溫度老化模塊是模擬被老化控制箱的溫度采集端口采集到的溫度升高，從而完成超溫報警的老化過程； ——所述邏輯控制老化模塊是模擬邏輯控制單元的回路，模擬被老化控制箱的邏輯開關的動作信號的發出和接收，判斷動作是否執行； ——所述信號源是三相高壓信號源。2.根據權利要求1所述的變頻器控制箱老化試驗裝置，其特征在于通過電壓傳感器采集信號源電壓值，得到交變電流信號，并將交變電流信號傳給被老化控制箱信號采集板上的電壓和電流信號采集端口。3.根據權利要求2所述的變頻器控制箱老化試驗裝置，其特征在于所述電壓傳感器與電壓和電流信號采集端口之間串聯可調電阻，通過調節可調電阻，來改變信號強度，模擬被老化控制箱不同階段的電流值、過壓值、以及過壓、過流報警。4.根據權利要求1所述的變頻器控制箱老化試驗...

【專利技術屬性】
技術研發人員：房凱龍，李瑞勤，賈恩平，
申請(專利權)人：天津瑞能電氣有限公司，
類型：發明
國別省市：