粉體層體積測定裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術提供一種粉體層體積測定裝置，其具備攝像頭(21)、使攝像頭在垂直方向上移動的升降裝置(23)、被配置在與攝像頭相向的位置處的背光部件(30)、被配置在攝像頭和背光部件之間的透明或半透明的圓筒形容器(104)、和實施動作控制的控制裝置(40)。升降裝置具備位移量測定裝置(42)，位移量測定裝置(42)對攝像頭從控制裝置所設定的初始設定位置起的垂直方向位移量進行檢測。攝像頭拍攝的圖像由圖像分析裝置(41)進行分析，并測量圓筒形容器內(nèi)的粉體層的粉體面位置，并根據(jù)初始設定位置和粉體面位置來計算粉體層的體積。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術涉及一種粉體層體積測定裝置。
技術介紹
粉體的物性值，以休止角、崩潰角、刮鏟角、松密度/振實密度、壓縮度、凝聚度、分散度、差角等各種參數(shù)來測定。關于對這些物性值進行測定的裝置，可以在專利文獻I中了解到其示例。專利文獻I公開了一種對粉體的堆積密度進行測定的裝置。在專利文獻I記載的裝置中，將放入有粉體試樣的測定用杯(量筒)設置在敲擊臺上，該敲擊臺被設置在該測定裝置所具備的用于實施測定的局部空間、即測定室內(nèi)的底部。在所述測定室的頂棚上，于測定用杯的正上方的位置處設置有天窗，且在其上設置有傳感器盒匣。被配置在傳感器盒匣中的非接觸型傳感器對測定用杯中的粉體面高低進行測定。用傳感器來對該測定用杯內(nèi)為空狀態(tài)時的情況進行測定，從而預先求取基準值(高度O)。然后將試樣粉體放入測定用杯內(nèi)，用傳感器來測量粉體面高低H。在此，利用測定用杯的底面面積A和粉體面高低的測定值(距離測定用杯的底部的高度)H的乘積，來求取試樣粉體的體積。在先技術文獻專利文獻專利文獻1:日本專利第4368738號公報
技術實現(xiàn)思路
專利技術所要解決的課題在使用量筒作為測定用杯時，作為與投入到量筒內(nèi)的試樣粉體的壓縮性相關的評價方法，具有對振實密度(也稱作敲擊密度)和體積減小度進行測定的方法。作為振實密度的測定方法，具有如下方法，即，將預定量的試樣粉體放入量筒內(nèi)之后，以預定的沖程量以及預定的振動頻率(每單位時間內(nèi)的敲擊次數(shù))實施預定次數(shù)或預定時間的敲擊，從而求取振實密度的方法。當采用例如美國藥典(USP)敲擊法和美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)敲擊法時，用投入到量筒內(nèi)的試樣粉體的質(zhì)量除以敲擊后的試樣粉體的體積來求取振實密度。另外，在川北方程粉體壓縮評價法中，也利用相同方法進行敲擊，當敲擊前的試樣粉體的體積為Vci,敲擊后的試樣粉體的體積為V時，利用(Vc1-V) /V0來求取體積減小度。如此，無論在哪一種測定方法中，均通過對敲擊前和/或敲擊后的量筒內(nèi)的粉體層的體積進行測定，從而求取振實密度和體積減小度。此時的體積測定優(yōu)選為，以不壓迫粉體層的非接觸方式來實施。當然，雖然使用專利文獻I記載的裝置那樣的非接觸型傳感器，但根據(jù)試樣粉體的種類和粒子直徑、或粉體面的凹凸情況，有時會存在采用超聲波傳感器這種非接觸型傳感器難以進行高精度體積測定的情況。本專利技術是鑒于上述點而完成的，其目的在于，提供一種能夠?qū)ν该骰虬胪该鞯膱A筒形容器內(nèi)的粉體層的體積進行高精度測定的粉體層體積測定裝置。用于解決問題的方法本專利技術的粉體層體積測定裝置具備攝像頭；背光部件，其被配置在與所述攝像頭相向的位置處；圓筒形容器，其為透明或半透明的，且被配置在所述攝像頭和所述背光部件之間；升降裝置，其使所述攝像頭在垂直方向上移動；控制裝置，其實施對所述攝像頭和所述升降裝置的動作控制；位移量測定裝置，其對所述攝像頭從所述控制裝置所設定的初始設定位置起的垂直方向位移量進行檢測，并輸出至所述控制裝置；圖像分析裝置，其對所述攝像頭拍攝的、所述容器內(nèi)的粉體層的圖像進行分析，并將分析結果輸出至所述控制裝置；運算單元，其根據(jù)所述攝像頭從所述初始設定位置起的垂直方向位移量來計算粉體層的體積。在本專利技術的粉體層體積測定裝置中，所述圓筒形容器被安裝在設定了沖程量和振動數(shù)的敲擊裝置的敲擊臺上。在本專利技術的粉體層體積測定裝置中，所述圓筒形容器由量筒構成。專利技術效果根據(jù)本專利技術，由于圓筒形容器內(nèi)的粉體層的圖像由圖像分析裝置進行分析，并對攝像頭從初始設定位置起的垂直方向位移量進行檢測，從而根據(jù)該垂直方向位移量來計算粉體層的體積，因此能夠進行高精度的體積測定。附圖說明圖1為粉體物性測定裝置的概要主視圖。圖2為粉體物性測定裝置的概要側視圖。圖3為粉體物性測定裝置的概要剖視圖。圖4為背光部件的概要剖視圖，且為從側面觀察時的圖。圖5為對圖像處理的概念進行說明的說明圖。圖6為粉體層體積測定裝置的結構框圖。圖7為用于對振實密度或體積減小度測定進行說明的概要剖視圖。符號說明I粉體物性測定裝置2本體3蓋10測定室20攝像裝置21攝像頭23升降裝置30背光部件41圖像分析裝置42位移量測定裝置50敲擊裝置51尚支擊臺52敲擊軸104圓筒形容器具體實施例方式本專利技術所涉及的粉體層體積測定裝置，作為能夠?qū)ν度胫镣该骰虬胪该鞯膱A筒形容器內(nèi)的試樣粉體的振實密度和體積減小度進行測定的粉體物性測定裝置I而實現(xiàn)。構成粉體物性測定裝置I的外觀的二大要素為，本體2和遮蓋其前部的蓋3。本體2為，使用板金制的筐體4將圖未示的架臺結構的外側包圍而成的構件，其通過高度可調(diào)的多個支承腳5而支承在支承面上。蓋3的主要部分由透明的合成樹脂形成，并通過左右一對臂6而被安裝在本體2的左右兩個側面上。臂6的前端成為與本體2連結的支點部7，蓋3以支點部7為中心而在垂直面內(nèi)轉(zhuǎn)動。當放下蓋3時將成為圖2中的實線的狀態(tài)。此時，被蓋3包圍的空間成為圖3所示的測定室10。如上所述，由于蓋3的主要部位是透明的，因此，即使在放下了蓋3的狀態(tài)下也能夠看穿到測定室10的內(nèi)部。作業(yè)者能夠在以目視來確認試樣的狀況等的同時，在不受粉塵影響的條件下進行測定作業(yè)。在蓋3的正面形成有把手部3a，用手抓住把手部3a，從而能夠?qū)⑸w3提起至圖2的虛線位置。當提起至圖2的點劃線位置時，即使將手放開，蓋3仍將停留在該位置。在以這種方式使測定室10處于開放狀態(tài)的基礎上，作業(yè)者再實施對測定結束的試樣或用于測定的用具的整理、新的測定作業(yè)的設定、保養(yǎng)檢修作業(yè)等。在不需要預先使測定室10處于開放狀態(tài)時，則放下蓋3。在通過支點部7來支承蓋3的軸上組合有阻尼器，從而在放下的中途將手放開時，蓋3將緩慢地下降，由此將在不會發(fā)生沖擊的條件下安靜地關閉。在本體2外側的、從正面觀看時的左側位置處，配置有攝像裝置20。在測定室10的內(nèi)部配置有背光部件30。背光部件30被安裝在從測定室10的進深側的內(nèi)壁突出的托架31上。透明或半透明的圓筒形容器104被配置在攝像裝置20和背光部件30之間，對此將在后文進行詳細說明。攝像裝置20具備攝像頭21，其具備C-MOS或C⑶這種固體攝像元件；立柱22，其對攝像頭21進行支承。立柱22豎立在從本體2的所述未圖示的架臺結構突出的托架2a的上表面上。攝像裝置20上附帶有使攝像頭21沿著立柱22在垂直方向上移動的升降裝置23。升降裝置23由固定在立柱22的側面上的垂直的直線導軌24、能夠沿著直線導軌24升降的滑塊25、連結在滑塊25上并通過自身旋轉(zhuǎn)而使滑塊25升降的垂直的滾珠絲桿26、使?jié)L珠絲桿26旋轉(zhuǎn)的附帶減速裝置的步進電機27構成。攝像頭21以被保持在滑塊25上的方式進行升降。作為背光部件30的光源的是發(fā)光二極管(以下稱作“LED”)。LED被構成為LED燈32 (參照圖4)。LED燈32具備細長的容器33，其具備透明或半透明的蓋板33a ;多個LED34，其在容器33的內(nèi)部被配置為一列。LED34為通常使用的類型的二極管，優(yōu)選使用白色 LED。LED燈32被配置為，將其長度方向設置為垂直，并使光的出射方向朝向攝像裝置20。方筒狀的燈罩35包圍該LED燈32。燈罩35由乳白色的丙烯酸樹脂形成，將多個LED34各自發(fā)出的光轉(zhuǎn)變?yōu)榫鶆虻拿鏍罟狻２⑶遥瑹粽?5的材料并不限于丙烯酸樹脂。攝像頭21將信號輸出至控制裝置40(參照圖6)本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術保護點】
一種粉體層體積測定裝置，具備以下的結構：攝像頭；背光部件，其被配置在與所述攝像頭相向的位置處；圓筒形容器，其為透明或半透明的容器，且被配置在所述攝像頭和所述背光部件之間；升降裝置，其使所述攝像頭在垂直方向上移動；控制裝置，其實施對所述攝像頭和所述升降裝置的動作控制；位移量測定裝置，其對所述攝像頭從所述控制裝置所設定的初始設定位置起的垂直方向位移量進行檢測，并輸出至所述控制裝置；圖像分析裝置，其對所述攝像頭拍攝的、所述容器內(nèi)的粉體層的圖像進行分析，并將分析結果輸出至所述控制裝置；運算單元，其根據(jù)所述攝像頭從所述初始設定位置起的垂直方向位移量來計算粉體層的體積。

【技術特征摘要】
2011.10.17 JP 2011-2278501.一種粉體層體積測定裝置，具備以下的結構 攝像頭； 背光部件，其被配置在與所述攝像頭相向的位置處； 圓筒形容器，其為透明或半透明的容器，且被配置在所述攝像頭和所述背光部件之間； 升降裝置，其使所述攝像頭在垂直方向上移動； 控制裝置，其實施對所述攝像頭和所述升降裝置的動作控制； 位移量測定裝置，其對所述攝像頭從所述控制裝置所設定的初...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：笹邊修司，清水健司，藤見利幸，毛利順一，
申請(專利權)人：細川密克朗集團股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：