電性測試夾具及系統(tǒng)技術(shù)方案

本實(shí)用新型專利技術(shù)公開了一種電性測試夾具及系統(tǒng)，包括一個(gè)絕緣的本體和一個(gè)絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉(zhuǎn)軸式可開合連接，其中：所述本體上設(shè)有至少一個(gè)管腳插槽，所述上蓋上設(shè)有至少一個(gè)管腳壓臺(tái)，所述管腳插槽和所述管腳壓臺(tái)的位置相互對(duì)應(yīng)，在所述本體和所述上蓋合在一起時(shí)，每一個(gè)所述管腳插槽正好被一個(gè)所述管腳壓臺(tái)壓住；所述管腳插槽內(nèi)設(shè)有一個(gè)裸露的導(dǎo)片，所述導(dǎo)片上連接有一根延伸至所述本體的導(dǎo)線，并且所述導(dǎo)線的末端在所述本體的外表面上形成為一個(gè)檢測點(diǎn)。本實(shí)用新型專利技術(shù)具有通用性強(qiáng)、檢測時(shí)芯片的安裝和調(diào)整速度快、檢測信號(hào)不易出錯(cuò)等優(yōu)點(diǎn)。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本技術(shù)涉及一種測試用的夾具及系統(tǒng)，特別涉及一種測試芯片電性的夾具及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
芯片在進(jìn)行電性(如電阻、電平、頻率等)測試的時(shí)候，需要從芯片的管腳上采集電信號(hào)。一種常見的方法是用萬用表的探筆尖端觸碰芯片的管腳，然后進(jìn)行測試。由于芯片的體積日趨向微型化發(fā)展，造成芯片的管腳日趨細(xì)密，市面上管腳間距在0.5mm以內(nèi)的芯片非常常見。用手動(dòng)方法來操縱探筆去觸碰這種芯片的管腳很容易形成脫接、錯(cuò)接的問題，影響測試的效率。為了提高測試時(shí)探筆和管腳連接的準(zhǔn)確性，出現(xiàn)了以一種設(shè)有顯微鏡的探針臺(tái)。在測試時(shí)，操作者通過顯微鏡來觀察芯片的管腳，這樣就容易保證探筆和管腳連接的準(zhǔn)確性。但是為了防止撞傷顯微鏡的鏡頭，每次更換芯片或者調(diào)整測試管腳時(shí)，都需要抬起顯微鏡，設(shè)置好芯片之后再重新將顯微鏡落下。這樣的操作不僅繁瑣，而且嚴(yán)重降低測試的工作效率。為了提高測試效率，出現(xiàn)了一種專用的接口轉(zhuǎn)化器進(jìn)行芯片的電性測試。這種接口轉(zhuǎn)化器上設(shè)計(jì)了與芯片的管腳相匹配的接口電路(socket)，然后通過socket將芯片管腳上的電信號(hào)輸送到測試儀器上。這種專用的接口轉(zhuǎn)化器在測試時(shí)雖然具有很高的效率，但是也存在兩個(gè)明顯的缺陷:(I)接口通用性差，只能連接特定型號(hào)的芯片，只要是與socket不匹配的芯片就無法應(yīng)用；(2) socket的成本高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，提供一種電性測試夾具及系統(tǒng)，其具有通用性強(qiáng)、檢測時(shí)芯片的安裝和調(diào)整速度快、檢測信號(hào)不易出錯(cuò)并且成本低廉的優(yōu)點(diǎn)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)提供如下技術(shù)方案:一種電性測試夾具，其特征在于，包括一個(gè)絕緣的本體和一個(gè)絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉(zhuǎn)軸式可開合連接，其中:所述本體上設(shè)有至少一個(gè)管腳插槽，所述上蓋上設(shè)有至少一個(gè)管腳壓臺(tái)，所述管腳插槽和所述管腳壓臺(tái)的位置相互對(duì)應(yīng)，在所述本體和所述上蓋合在一起時(shí)，每一個(gè)所述管腳插槽正好被一個(gè)所述管腳壓臺(tái)壓住；所述管腳插槽內(nèi)設(shè)有一個(gè)裸露的導(dǎo)片，所述導(dǎo)片上連接有一根延伸至所述本體的導(dǎo)線，并且所述導(dǎo)線的末端在所述本體的外表面上形成為一個(gè)檢測點(diǎn)。進(jìn)一步地，所述管腳插槽可以是復(fù)數(shù)個(gè)，并且所述管腳插槽的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標(biāo)準(zhǔn)布置。進(jìn)一步地，所述本體上可以設(shè)有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)排線插口，每個(gè)所述檢測點(diǎn)均形成該標(biāo)準(zhǔn)排線插口中的一個(gè)導(dǎo)線端。進(jìn)一步地，所述本體和所述上蓋之間可以設(shè)有一個(gè)提供頂開力的彈簧。 進(jìn)一步地，所述本體和所述上蓋可以卡扣和卡槽配合的方式進(jìn)行扣合。進(jìn)一步地，所述本體和所述上蓋之間可以設(shè)有一個(gè)提供頂開力的彈簧。進(jìn)一步地，所述本體和所述上蓋可以卡扣和卡槽配合的方式進(jìn)行扣合。一種電性測試系統(tǒng)，包括兩個(gè)上述的任一種電性測試夾具，還包括待測芯片，其中:所述待測芯平兩側(cè)的管腳分別對(duì)應(yīng)置于兩個(gè)所述電性測試夾具的管腳插槽中。進(jìn)一步地，兩個(gè)所述電性測試夾具的本體的標(biāo)準(zhǔn)排線插口分別與測試器件相連，所述測試器件包括測試筆，所述測試筆放置于兩個(gè)所述電性測試夾具的不同檢測點(diǎn)上進(jìn)行測試。進(jìn)一步地，兩個(gè)所述電性測試裝置本體上的標(biāo)準(zhǔn)排線插口分別插入PCB板上。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本技術(shù)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例可具有如下有益效果:1、芯片(或具有管腳的非芯片測試對(duì)象)一側(cè)的管腳可以很方便地插接在管腳插槽內(nèi)，管腳上的電信號(hào)由導(dǎo)線引出到本體外表面上的檢測點(diǎn)上，在目測條件下就就可以非常方便地進(jìn)行檢測，不用擔(dān)心出現(xiàn)脫接和錯(cuò)接。這樣一來，可以使得本技術(shù)的設(shè)計(jì)不僅適用于芯片，也適用于對(duì)包含了由芯片組成的系統(tǒng)模塊等進(jìn)行相應(yīng)的電性測試。2、按照芯片管腳的封裝標(biāo)準(zhǔn)布置的管腳插槽可以保證具有同一種封裝的芯片都可以插入到測試夾具上，而不必考慮芯片的具體型號(hào)和管腳數(shù)量多少，通用性強(qiáng)。3、由于獨(dú)特的分體式結(jié)構(gòu)，可以方便滿足芯片正反放置的測試要求，且不限制待測芯片的封裝尺寸，從而有效地降低操作人員的工作難度，減少測試時(shí)間，提高測試效率。4、本體和上蓋的結(jié)構(gòu)非常簡單，并且不需要應(yīng)用高價(jià)格的專用socket模塊，降低了測試夾具的成本。5、標(biāo)準(zhǔn)排線插口可以方便將本技術(shù)與專用的芯片測試儀器形成信號(hào)連接，更靈活地適應(yīng)不同的檢測需求。且與本技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)排線插口連接后，可以適用于多種測試方法，比如:(I)測試筆等測試器件的金屬探針可直接接觸檢測點(diǎn)進(jìn)行測試，克服由于芯片管腳太近造成測試短路的情況；(2)連接好的標(biāo)準(zhǔn)排線插口可插到PCB板上進(jìn)行模塊式電性測試。附圖說明圖1是本技術(shù)第一視角的實(shí)施例示意圖；圖2是本技術(shù)第一視角的實(shí)施例示意圖。結(jié)合附圖在其上標(biāo)記以下附圖標(biāo)記:1-本體，2-上蓋,3-轉(zhuǎn)軸,4-彈簧,5-管腳插槽,6-管腳壓臺(tái)，7-卡槽,8-卡扣，9-標(biāo)準(zhǔn)排線插口。具體實(shí)施方式以下結(jié)合附圖，對(duì)本技術(shù)的優(yōu)選具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)描述，但應(yīng)當(dāng)理解本技術(shù)的保護(hù)范圍并不受具體實(shí)施方式的限制。實(shí)施例一如圖1至圖2所示，本技術(shù)的電性測試夾具，包括一個(gè)絕緣的本體I和一個(gè)絕緣的上蓋2，二者通過一根轉(zhuǎn)軸3形成可開合連接。在轉(zhuǎn)軸3上可套設(shè)有一個(gè)彈簧4，該彈簧4的兩端各伸出一個(gè)勾腳，分別頂在本體I和上蓋2上。當(dāng)上蓋2壓合在本體I上時(shí)，兩個(gè)勾腳被壓住，使得彈簧4提供一個(gè)能夠頂起上蓋2的力。這樣的頂起力能夠保證上蓋2在不被卡住的時(shí)候和本體I保持分離狀態(tài)，方便操作者裝卸芯片。本體I上設(shè)有一個(gè)卡槽7，上蓋2上設(shè)有一個(gè)對(duì)應(yīng)的卡扣8，當(dāng)測試夾具需要閉合時(shí)，將卡扣8扣在卡槽7內(nèi)，就能夠保證上蓋2不會(huì)被彈起。圖1中，本體I上設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)管腳插槽5，用于使芯片可以被插接在本體I上。每個(gè)管腳插槽5對(duì)應(yīng)一個(gè)管腳，并且管腳插槽5內(nèi)設(shè)有一個(gè)裸露的導(dǎo)片(未圖示)，例如金屬片，所述導(dǎo)片上連接有一根延伸至本體I的導(dǎo)線，并且所述導(dǎo)線的末端在本體I的外表面上形成為一個(gè)檢測點(diǎn)。這樣，在檢測時(shí)就不需要再用探筆去觸碰管腳，而是只需要方便地觸碰檢測點(diǎn)即可。為了便于在目測狀態(tài)下檢測，檢測點(diǎn)的面積和間距可以設(shè)計(jì)得大一些，以免出現(xiàn)脫接和錯(cuò)接。管腳插槽5的寬度和相互的間距需要按照芯片管腳的封裝標(biāo)準(zhǔn)布置。雖然芯片的具體型號(hào)會(huì)有不同，但是采用了同一個(gè)封裝標(biāo)準(zhǔn)的芯片上管腳的大小和間距是一樣的，這樣一來，采用了同一個(gè)封裝標(biāo)準(zhǔn)的不同芯片就可以應(yīng)用同樣的測試夾具了。為了保證通用性，管腳插槽5的數(shù)目需要有足夠的富余，具體數(shù)目可根據(jù)測試需要靈活掌握。圖1中，上蓋2上設(shè)有對(duì)應(yīng)于管腳插槽5的復(fù)數(shù)個(gè)管腳壓臺(tái)6，在本體I和上蓋2合在一起時(shí)，每一個(gè)管腳插槽5正好被一個(gè)管腳壓臺(tái)6壓住。在測試時(shí)，這種結(jié)構(gòu)可以保證芯片上的每個(gè)管腳都能夠和裸露在管腳插槽5中的金屬片形成可靠的電連接。圖2中，本體I上還設(shè)有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)排線插口 9，從每一個(gè)管腳插槽5內(nèi)引出來的每個(gè)所述檢測點(diǎn)均形成該標(biāo)準(zhǔn)排線插口 9中的一個(gè)導(dǎo)線端。這樣的設(shè)計(jì)可以方便將本技術(shù)與專用的芯片測試儀器形成信號(hào)連接。另外，探筆的筆尖插入到標(biāo)準(zhǔn)排線插口 9中的某一個(gè)口內(nèi)時(shí)還可以得到一定的固定，這樣就可以方便操作者在測試時(shí)放開探筆。實(shí)施例二本實(shí)施例提供一種電性測試系統(tǒng)，其包括兩個(gè)如實(shí)施例一中所述的電性測試夾具，還包括具有管腳的待測對(duì)象(例如待測芯片)和測試器件。其中，兩個(gè)電性測試夾具的本體I上的標(biāo)準(zhǔn)排線插口 9分別與測試器件相連。此處的測試器件優(yōu)選包括測試筆，所述測試筆放置于兩個(gè)所述電性測試夾具的不本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種電性測試夾具，其特征在于，包括一個(gè)絕緣的本體和一個(gè)絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉(zhuǎn)軸式可開合連接，其中：所述本體上設(shè)有至少一個(gè)管腳插槽，所述上蓋上設(shè)有至少一個(gè)管腳壓臺(tái)，所述管腳插槽和所述管腳壓臺(tái)的位置相互對(duì)應(yīng)，在所述本體和所述上蓋合在一起時(shí)，每一個(gè)所述管腳插槽正好被一個(gè)所述管腳壓臺(tái)壓住；所述管腳插槽內(nèi)設(shè)有一個(gè)裸露的導(dǎo)片，所述導(dǎo)片上連接有一根延伸至所述本體的導(dǎo)線，并且所述導(dǎo)線的末端在所述本體的外表面上形成為一個(gè)檢測點(diǎn)。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種電性測試夾具，其特征在于，包括一個(gè)絕緣的本體和一個(gè)絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉(zhuǎn)軸式可開合連接，其中: 所述本體上設(shè)有至少一個(gè)管腳插槽，所述上蓋上設(shè)有至少一個(gè)管腳壓臺(tái)，所述管腳插槽和所述管腳壓臺(tái)的位置相互對(duì)應(yīng)，在所述本體和所述上蓋合在一起時(shí)，每一個(gè)所述管腳插槽正好被一個(gè)所述管腳壓臺(tái)壓住； 所述管腳插槽內(nèi)設(shè)有一個(gè)裸露的導(dǎo)片，所述導(dǎo)片上連接有一根延伸至所述本體的導(dǎo)線，并且所述導(dǎo)線的末端在所述本體的外表面上形成為一個(gè)檢測點(diǎn)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性測試夾具，其特征在于，所述管腳插槽是復(fù)數(shù)個(gè)，并且所述管腳插槽的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標(biāo)準(zhǔn)布置。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體上設(shè)有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)排線插口，每個(gè)所述檢測點(diǎn)均形成該標(biāo)準(zhǔn)排線插口中的一個(gè)導(dǎo)線端。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體和所述上蓋之間設(shè)有一個(gè)提供頂...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：楊苗苗，張立，張弓長，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：國網(wǎng)電力科學(xué)研究院，國家電網(wǎng)公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：