【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種邊界尋找方法及系統，特別涉及一種模糊影像區域中量測特征的邊界尋找方法及系統。
技術介紹
影像量測系統可以對產品影像中的各種量測特征(如點、線、面、圓、圓弧等)進行快速、準確的量測，例如量測點坐標、線寬等。然而，現有的影像量測系統只能尋找到影像中較清晰和容易識別的邊界，進而根據所尋找的邊界構建所述量測特征再進行量測。當量測特征的邊界所在的影像區域較模糊時，影像量測系統便無法尋找出相應的邊界，也無法構建出量測特征，這造成了影像量測系統的局限性。
技術實現思路
鑒于以上 內容，有必要提供一種邊界尋找方法，可以根據用戶定義的尋邊方法尋找模糊影像區域中量測特征的邊界，使影像量測系統可以對該量測特征進行量測。還有必要提供一種邊界尋找系統，可以根據用戶定義的尋邊方法尋找模糊影像區域中量測特征的邊界，使影像量測系統可以對該量測特征進行量測。一種邊界尋找方法，包括以下步驟:獲取步驟一:獲取計算機中運行的影像量測系統顯示的產品影像，并獲取輸入參數以及尋邊程序的名稱；獲取步驟二:根據該尋邊程序的名稱從計算機的存儲設備中獲取相應的尋邊程序，提供該尋邊程序下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，并獲取用戶根據所需量測的量測特征選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特征；計算步驟:將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的坐標；擬合步驟:將該組點擬合為所需量測的量測特征的邊界，并將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。一種邊界尋找系統，包括:獲取模塊，用于獲取計算機中運行的影像量測系統顯示的產品影像，并獲取輸入參數以及...
【技術保護點】
一種邊界尋找方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：獲取步驟一：獲取計算機中運行的影像量測系統顯示的產品影像，并獲取輸入參數以及尋邊程序的名稱；獲取步驟二：根據該尋邊程序的名稱從計算機的存儲設備中獲取相應的尋邊程序，提供該尋邊程序下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，并獲取用戶根據所需量測的量測特征選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特征；計算步驟：將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的坐標；擬合步驟：將該組點擬合為所需量測的量測特征的邊界，并將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。
【技術特征摘要】
1.一種邊界尋找方法，其特征在于，該方法包括以下步驟: 獲取步驟一:獲取計算機中運行的影像量測系統顯示的產品影像，并獲取輸入參數以及尋邊程序的名稱； 獲取步驟二:根據該尋邊程序的名稱從計算機的存儲設備中獲取相應的尋邊程序，提供該尋邊程序下的所有尋邊函數給用戶進行選擇，并獲取用戶根據所需量測的量測特征選擇的尋邊函數，所述尋邊函數指示有所需量測的量測特征； 計算步驟:將該輸入參數傳遞至該選擇的尋邊函數，控制該尋邊函數根據該輸入參數計算出一組點在該產品影像的坐標； 擬合步驟:將該組點擬合為所需量測的量測特征的邊界，并將該擬合得出的邊界傳送至該影像量測系統。2.如權利要求1所述的邊界尋找方法，其特征在于，該尋邊程序的名稱、命名空間和類名保持一致。3.如權利要求1所述的邊界尋找方法，其特征在于，該尋邊程序還包括多個用于傳遞參數至對應的尋邊函數的構造函數，該構造函數指明了所需傳遞的參數的個數和類型。4.如權利要求3所述的邊界尋找方法，其特征在于，該方法還包括匹配步驟: 根據該輸入參數的個數和類型從該尋邊程序中找出匹配的構造函數；及 所述計算步驟包括: 將該輸入參數通過該匹配的構造函數傳遞至該選擇的尋邊函數。5.如權利要求1所述的邊界尋找方法，其特征在于，該方法還包括標示步驟: 將該組點標示在影像量測系統所示的該產品影像的相應位置上。6....
【專利技術屬性】
技術研發人員：張旨光，蔣理，袁忠奎，鄒志軍，
申請(專利權)人：鴻富錦精密工業深圳有限公司，鴻海精密工業股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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