活檢處理器具制造技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)的活檢處理器具包括：撓性護(hù)套；插入部，其能夠在該撓性護(hù)套內(nèi)進(jìn)退；檢體提取用凹部，其設(shè)于該插入部的側(cè)面；靜電電容式超聲波振子陣列，其設(shè)于該檢體提取用凹部的底面；以及滑動(dòng)部，其使插入部與撓性護(hù)套相對(duì)滑動(dòng)以使得檢體提取用凹部開閉。由于根據(jù)由靜電電容式超聲波振子陣列接收的反射波來判斷檢體是否已被取入到檢體提取用凹部內(nèi)，因此能夠可靠地提取檢體。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)涉及一種插入被檢體的體內(nèi)并在超聲波觀察下提取目標(biāo)部位的檢體的活檢處理器具。
技術(shù)介紹
以往，作為對(duì)體內(nèi)的病變部等進(jìn)行診斷的方法，已知有活檢。當(dāng)進(jìn)行活檢時(shí)，首先，在確定了病變部等所存在的目標(biāo)部位之后，提取該目標(biāo)部位的檢體來進(jìn)行活檢。目標(biāo)部位的確定例如使用如日本國特開2004 - 216159號(hào)公報(bào)(以下，稱作“第I文獻(xiàn)”)所公開的這種超聲波探頭來進(jìn)行。即，將超聲波探頭插入體內(nèi)，根據(jù)由設(shè)置在其頂端部的超聲波振子接收的超聲波信號(hào)來確定目標(biāo)部位。在該情況下，例如將超聲波探頭安裝于管狀護(hù)套，將超聲波探頭與管狀護(hù)套一起插入到體內(nèi)，在利用超聲波探頭確定了目標(biāo)部位之后，以管狀護(hù)套留置于該部位的狀態(tài)拔出超聲波探頭。接著，向該管狀護(hù)套內(nèi)插入活檢鉗子、刷子等活檢處理器具，將該活檢處理器具的頂端部沿著管狀護(hù)套引導(dǎo)至目標(biāo)部位，提取目標(biāo)部位的病變組織、細(xì)胞等檢體。在該情況下，在X射線觀察下確認(rèn)活檢處理器具的頂端是否到達(dá)了目標(biāo)部位。作為該活檢處理器具，例如公知有如日本國特開2001 - 104316號(hào)公報(bào)(以下，稱作“第2文獻(xiàn)”)所公開的這種的活檢處理器具。該第2文獻(xiàn)所公開的活檢處理器具包括在頂端具有尖銳的針尖的針軸和以進(jìn)退自如的方式外套于該針軸的護(hù)套，在針軸的頂端側(cè)側(cè)面形成有用于提取檢體的凹部，而且，在護(hù)套的頂端形成有用于切取容納于凹部內(nèi)的檢體的環(huán)狀刀。在該第2文獻(xiàn)所公開的技術(shù)中，將活檢處理器具刺入被檢體，在使頂端到達(dá)目標(biāo)部位之后，稍微拉回護(hù)套而使凹部開口，將檢體容納在該凹部內(nèi)。接著，向前方推出護(hù)套，利用護(hù)套頂端的環(huán)狀刀切取 被取入到凹部內(nèi)的檢體，并且利用該護(hù)套封堵凹部并將檢體容納在凹部內(nèi)。但是，在上述第I文獻(xiàn)和第2文獻(xiàn)所公開的技術(shù)中，使用超聲波探頭確定目標(biāo)部位的步驟和使用活檢處理器具提取該目標(biāo)部位的檢體的步驟是分別進(jìn)行的。另外，對(duì)于檢體是否留置在形成于活檢處理器具的頂端的凹部內(nèi)，只有從管狀護(hù)套內(nèi)拔出該活檢處理器具并通過目視進(jìn)行確認(rèn)才能夠確定。而且，在檢體未留置在凹部內(nèi)的情況下，必須將該活檢處理器具的頂端再次插入至目標(biāo)部位來提取檢體。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)是鑒于上述情況而做成的，其目的在于提供一種只要插入一次就能夠可靠地提取病變部等目標(biāo)部位的檢體、從而能夠減輕被檢者的負(fù)擔(dān)的活檢處理器具。本專利技術(shù)的一技術(shù)方案的活檢處理器具包括:管狀部；棒狀部，其能夠在上述管狀部內(nèi)伸縮；凹部，其設(shè)于上述棒狀部的側(cè)面；超聲波觀察部，其設(shè)于上述凹部的底面；以及滑動(dòng)部，其使上述棒狀部與上述管狀部相對(duì)滑動(dòng)以使得上述凹部開閉。附圖說明圖1是第I實(shí)施方式的活檢處理器具的立體圖。圖2是第I實(shí)施方式的活檢處理器具的頂端部的局部截面?zhèn)纫晥D。圖3是第I實(shí)施方式的圖2的截面?zhèn)纫晥D。圖4是第I實(shí)施方式的圖3的IV-1V剖視圖。圖5的(a)是第I實(shí)施方式的c 一 MUT的接收信號(hào)的波形圖，(b)是進(jìn)行第I實(shí)施方式的波形整形后的接收信號(hào)的波形圖。圖6是表示第I實(shí)施方式的向檢體提取用凹部內(nèi)取入了檢體的狀態(tài)的、相當(dāng)于圖2的剖視圖。圖7是表示第I實(shí)施方式的切取被取入到檢體提取用凹部內(nèi)的檢體的狀態(tài)的、相當(dāng)于圖6的剖視圖。圖8是表示第I實(shí)施方式的切取了被取入到檢體提取用凹部內(nèi)的檢體后的狀態(tài)的、相當(dāng)于圖7的剖視圖。圖9表示第I實(shí)施方式的配置在檢體提取用凹部內(nèi)的c - MUT的接收波形，(a)是檢體提取用凹部被空氣填滿的狀態(tài)的波形圖，(b)是檢體提取用凹部被液體填滿的狀態(tài)的波形圖，(c)是檢體留置在檢體提取用凹部內(nèi)的狀態(tài)的波形圖。圖10是第2實(shí)施方式的相當(dāng)于圖3的剖視圖。圖11是第2實(shí) 施方式的圖10的X1-XI剖視圖。圖12是第2實(shí)施方式的相當(dāng)于圖6的剖視圖。圖13是第2實(shí)施方式的相當(dāng)于圖8的剖視圖。圖14是第3實(shí)施方式的相當(dāng)于圖3的剖視圖。圖15是第4實(shí)施方式的相當(dāng)于圖3的剖視圖。圖16是第5實(shí)施方式的相當(dāng)于圖3的剖視圖。圖17是第5實(shí)施方式的圖16的XVI1-XVII剖視圖。圖18是第5實(shí)施方式的其他方式的相當(dāng)于圖17的剖視圖。圖19是第5實(shí)施方式的另一方式的相當(dāng)于圖17的剖視圖。圖20是第5實(shí)施方式的另一其他方式的相當(dāng)于圖17的剖視圖。圖21是第6實(shí)施方式的具有活檢處理器具的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。圖22是第6實(shí)施方式的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的功能結(jié)構(gòu)圖。具體實(shí)施例方式以下，基于附圖說明本專利技術(shù)的一實(shí)施方式。另外，附圖是示意性的，應(yīng)該注意各個(gè)構(gòu)件的厚度與寬度之間的關(guān)系、各個(gè)構(gòu)件的厚度比例等與實(shí)際的情況不同，當(dāng)然在附圖彼此之間也包括彼此的尺寸關(guān)系、比例不同的部分。圖1 圖9中示出了本專利技術(shù)的第I實(shí)施方式。圖1的附圖標(biāo)記I是活檢處理器具，包括處理器具主體2和作為管狀部的撓性護(hù)套3。而且，該處理器具主體2具有作為棒狀部的插入部4，該插入部縱長、細(xì)徑并具有撓性，在該插入部4的基端部設(shè)有連接器部5。另外，該連接器部5與未圖示的超聲波觀測裝置相連接。插入部4以能夠相對(duì)于撓性護(hù)套3進(jìn)退的狀態(tài)貫穿于撓性護(hù)套3，在撓性護(hù)套3的內(nèi)周與插入部4的外周之間設(shè)有用于減少在使兩者向軸線方向相對(duì)移動(dòng)時(shí)的摩擦阻力的滑動(dòng)部6。另外，在本實(shí)施方式中，在撓性護(hù)套3的內(nèi)周面與插入部4的外周面中的一者或兩者上，使用對(duì)人體沒有影響的材料形成低摩擦系數(shù)層，將該低摩擦系數(shù)層作為滑動(dòng)部6。在此所說的相對(duì)滑動(dòng)可以是固定插入部4并使滑動(dòng)部6前后滑動(dòng)的情況、固定滑動(dòng)部6并使插入部4前后滑動(dòng)的情況、或者使插入部4和滑動(dòng)部6兩者滑動(dòng)的情況中的任一*清況。另外，在利用滑動(dòng)性較好的材質(zhì)、例如聚四氟乙烯(PTFE)等氟樹脂、聚乙烯等構(gòu)成了撓性護(hù)套3、插入部4的情況下，也可以不形成低摩擦系數(shù)層而僅靠設(shè)置適當(dāng)?shù)拈g隙來作為滑動(dòng)部6。插入部4是具有撓性的縱長且細(xì)徑的實(shí)心軸，如圖2所示，頂端面4a形成為以插入部4的軸芯為中心的、圓錐曲線的旋轉(zhuǎn)體狀。作為圓錐曲線的旋轉(zhuǎn)體，具有卵形、炮彈形、半球形等。另外，在該頂端面4a上配設(shè)有能夠顯示在X射線透視圖像、CT圖像上的X射線非透過標(biāo)記(未圖示)。另外，在該插入部4的頂端部，在頂端面4a的后側(cè)形成有作為凹部的檢體提取用凹部7。該檢體提取用凹部7是通過切開插入部4而形成的，在軸線方向前后形成有壁面7a、7b，形成為沿側(cè)面方向貫穿的半圓柱形截面形狀。另外，如圖4所示，插入部4的、因檢體提取用凹部7而殘留的部位成為截面平整凸形的基部4b。另一方面，在撓性護(hù)套3的基端部形成有形成為搭指狀的護(hù)套操作部3a。操作者將手指搭掛于該護(hù)套操作部3a并進(jìn)行操作以使撓性護(hù)套3沿著插入部4的外周進(jìn)退及轉(zhuǎn)動(dòng)。另外，該撓性護(hù)套3的頂端外表面3b形成為向頂端方向收斂的單刃狀的傾斜面，在護(hù)套3的頂端形成有頂端邊緣3c。`該撓性護(hù)套3與插入部4在容許轉(zhuǎn)動(dòng)方向上的移動(dòng)的狀態(tài)下被未圖示的移動(dòng)限制部限制了進(jìn)退方向的移動(dòng)量。即，如圖2所示，撓性護(hù)套3的最大推出位置LI設(shè)定在頂端邊緣3c與插入部4的頂端面4a的后端連續(xù)的位置，在該狀態(tài)下，檢體提取用凹部7被撓性護(hù)套3封堵。另一方面，如圖6所示，該撓性護(hù)套3的最大后退位置設(shè)定在頂端邊緣3c與檢體提取用凹部7的后部壁面7b上端對(duì)齊、或比檢體提取用凹部7的后部壁面7b上端稍微后退的位置。另外，撓性護(hù)套3的頂端外表面3b在圖2所示的最大推出位置LI被設(shè)定成為沿插入部4的頂端面4a的切線方向延伸的傾斜面。另外，插入部4的外本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：仁科研一，奧野喜之，小室雅彥，今橋拓也，宮木浩仲，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：奧林巴斯醫(yī)療株式會(huì)社，
類型：
國別省市：