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本發明提供了一種閃爍噪聲的測試方法，包括以下步驟：測試待測器件的輸出特性；將器件的漏極連接到低噪聲電流放大器的輸入端；將低噪聲電壓放大器和信號分析儀的采樣模式設置為直流模式；打開低噪聲電流放大器的電壓源，為漏端提供偏置；時域采樣；然后將低噪...
該專利屬于中國科學院微電子研究所所有，僅供學習研究參考，未經過中國科學院微電子研究所授權不得商用。

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