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本實用新型涉及一種SRAM讀取時間自測試電路，包括待測SRAM、一個二路選擇器、一個延時掃描電路、一個鎖存器、一個比較器、一個計數(shù)器、第一反相器和第二反相器。通過增加一個延時掃描電路、一個比較器和一個計數(shù)器，可以實現(xiàn)對延時時間的自動掃描從而...該專利屬于西安華芯半導(dǎo)體有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過西安華芯半導(dǎo)體有限公司授權(quán)不得商用。