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本實用新型提供了一種集成電路裸片和電子器件，該集成電路裸片包括形成在半導(dǎo)體襯底中的多個晶體管，這些晶體管的本體區(qū)在該半導(dǎo)體襯底的摻雜阱區(qū)上。閾值檢測器基于半導(dǎo)體襯底的溫度是高于還是低于閾值溫度而對摻雜阱區(qū)選擇性地施加第一電壓或第二電壓。...該專利屬于意法半導(dǎo)體國際有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過意法半導(dǎo)體國際有限公司授權(quán)不得商用。