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一種膜層測試結(jié)構(gòu)及陣列基板，該膜層測試結(jié)構(gòu)包括待測試導(dǎo)電膜層、與待測試導(dǎo)電膜層位于不同層且分別與待測試導(dǎo)電膜層電連接的多條測試引出線以及多個分別與多條測試引出線電連接的測試端子。將該膜層測試結(jié)構(gòu)應(yīng)用于陣列基板中，可以方便地完成方塊電阻的測試...該專利屬于合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司授權(quán)不得商用。