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本發明屬于電子控制領域，具體涉及一種雙口RAM測試設備的處理板結構，包括殼體、顯示屏、與所述顯示屏連接的主板、處理板、與處理板連接的SCSI?68接口；所述主板與處理板通過PCI?E接口相連接；所述處理板包括PCI?E橋接芯片、FPGA、驅...
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