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本發明公開了一種Flash存儲器的優化測試方法，其包括：生成測試向量；對所述測試向量的算法進行優化，自動適應被測Flash存儲器在本次測試中的最小操作時間，并且按該最小操作時間進行操作，使測試時間接近因Flash存儲器固有特性限制的最小時間...該專利屬于航天科工防御技術研究試驗中心所有，僅供學習研究參考，未經過航天科工防御技術研究試驗中心授權不得商用。
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