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本發(fā)明涉及一種應(yīng)用于IC測(cè)試的高低溫測(cè)試裝置，主要解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的不能夠在不開(kāi)啟高低溫箱時(shí)對(duì)單個(gè)異常的集成電路進(jìn)行異常排查與修正，也不能夠徹底的將不能修正或測(cè)試完成的集成電路的電源斷開(kāi)，進(jìn)入靜默狀態(tài)的技術(shù)問(wèn)題。本發(fā)明通過(guò)包括上位機(jī)，與...該專(zhuān)利屬于張家港市歐微自動(dòng)化研發(fā)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)張家港市歐微自動(dòng)化研發(fā)有限公司授權(quán)不得商用。