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本申請?zhí)峁┝艘环NeMMC芯片測試系統(tǒng)和通斷電測試方法,運用于存儲芯片安全性測試技術(shù)領(lǐng)域,其由XU4平臺和eMMC芯片測試平臺組成eMMC測試系統(tǒng),XU4平臺包括數(shù)據(jù)傳輸電路、存儲設(shè)備、XU4主控芯片、第一信號傳輸接口、電源模塊和第一電源接口...該專利屬于深圳市宏旺微電子有限公司所有,僅供學(xué)習(xí)研究參考,未經(jīng)過深圳市宏旺微電子有限公司授權(quán)不得商用。