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本發(fā)明公開了一種用于新材料的表面粗糙度檢測裝置，包括支撐機構(gòu)、用于檢測材料表面粗糙度的檢測機構(gòu)，還包括定位機構(gòu)，所述支撐機構(gòu)的上側(cè)設(shè)置有所述定位機構(gòu)，所述定位機構(gòu)的下端設(shè)置有所述檢測機構(gòu)，所述定位機構(gòu)與所述檢測機構(gòu)通過螺釘連接，所述定位機構(gòu)...該專利屬于劉軍所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過劉軍授權(quán)不得商用。