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本發明公開了一種控制器芯片測試裝置，涉及電力電子技術領域，待測芯片為控制器設計過程中芯片選型后確定的芯片，通過開關控制電路使功能測試芯片在與待測芯片之間的電路導通時向待測芯片的輸入引腳注入輸入測試信號或者接收待測芯片的輸出引腳輸出的實際輸出...該專利屬于科世達（上海）機電有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過科世達（上海）機電有限公司授權不得商用。
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本發明公開了一種控制器芯片測試裝置，涉及電力電子技術領域，待測芯片為控制器設計過程中芯片選型后確定的芯片，通過開關控制電路使功能測試芯片在與待測芯片之間的電路導通時向待測芯片的輸入引腳注入輸入測試信號或者接收待測芯片的輸出引腳輸出的實際輸出...