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本發(fā)明提供一種光電測(cè)試方法及光電檢測(cè)裝置，光電測(cè)試方法包括：首先，獲取待測(cè)UV模組光源點(diǎn)亮后的實(shí)際發(fā)光圖形，其次，比較實(shí)際發(fā)光圖形與標(biāo)準(zhǔn)發(fā)光圖形之間的匹配度，最后，根據(jù)匹配度確定待測(cè)UV模組光源點(diǎn)亮后的工作狀態(tài)是否異常；上述方法通過(guò)根據(jù)實(shí)際...該專利屬于武漢優(yōu)煒芯科技有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)武漢優(yōu)煒芯科技有限公司授權(quán)不得商用。